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4225-PMU型超高速I-Vモジュールは、4200-SCS型半導体特性評価システムの豊富なオプションに新たに加わった最新機器です。 強力なテスト環境として評価の高い4200-SCS型に、超高速電圧波形生成／信号観測機能を統合することにより、優れたI-Vテスト性能を実現し、システムを構成する材料、デバイス、およびプロセスの特性評価における可能性を飛躍的に拡大します。 さらに重要なことは、従来の高分解能SMUを使用してDC測定を行う場合と同じように、簡単に超高速I-V印加／測定を実行できることです。 それぞれの4225-PMU型プラグイン・モジュールは、統合された2チャンネルの印加／測定機能を提供しながら、4200-SCS型の9スロット・シャーシのわずか1つのスロットしか占有しません。 競合他社のソリューションと異なり、4225-PMU型では、高速電圧出力機能（パルス幅：60ナノ秒～DC）と電流／電圧の同時測定機能がそれぞれのチャンネルに統合されています。 このように、超高速電圧印加機能と電圧／電流測定機能を組み合わせることで、既存の4200-SCSシステムを汎用性に優れた測定ツールにアップグレードし、さまざまな超高速I-Vテスト・アプリケーションに活用できるようになります。 各シャーシは最大4台の4225-PMUモジュールを搭載することができるため、最大8チャンネルによる超高速印加／測定が可能になるだけでなく、さらに空きスロットが5つも残っており、他のモジュールを装備することもできます。 これらのハードウェア／ソフトウェアの機能は、新しい4200-SCSシステムの工場出荷時のオプションとしてもご利用になれます。