PCIe、SAS、SATAコンプライアンス・テストの効率化

PCIe、SAS、
SATAコンプライアンス・テストの効率化

次世代の高速データ・レートにも対応

クラウド・コンピューティング、IoT、人工知能などに代表される次世代技術の台頭により、テスト環境は新たな問題に直面しています。ストレージ規格の場合、たとえばPCIeがGen4からGen5に発展すれば、データ・レートの増加、チャンネル損失やシンボル間干渉(ISI)の問題、アクイジションおよび解析の完全自動化、物理層とプロトコル層のデバッグといった問題に重点的に取り組まなければなりません。

次世代の高速データ・レートやストレージ規格に対応するには、現在使用中の機能を維持しながら、32Gbpsの性能を達成できるエンドツーエンドのソリューションが必要です。

自動校正

速度が16Gbpsを超えると、手動校正は長時間に及ぶ面倒な作業になります。テストを正しくセットアップし、貴重な時間とコストを節約するには、自動校正手順ウィザードが不可欠です。

データ・アクイジション、コンプライアンス・テスト/解析、イコライゼーションまで、全工程を自動化することで、設計のサイクルや市場投入までの時間を短縮できます。

当社は32Gbpsのストレージ/サーバ規格(PCIe、SAS、SATA)に対応した自動化/デバッグ機能を始めとする包括的なテスト・ソリューションを提供しています。

自動校正セットアップにより貴重な時間を大幅に節約

ループバック・デバッグの効率化

Gen4 DUTでのループバックの初期化やハンドシェイクのデバッグは、終了するまで何時間もかかる場合があります。システムやAICの設計がますます複雑化しているためですが、いくら時間をかけてもテストが不合格になった場合に何が問題だったのか完全には把握できないこともあります。つまり、複雑なプロトコル・ハンドシェイクの問題は、解析を短時間でより効率的に行うほど、優れた成果が得られます。当社のBSXシリーズBERTScopeは、カスタマイズ可能なパターン・シーケンサと 取込み/デコード/トリガ機能を備えており、不合格の原因究明に必要な詳細な情報が得られます。

 

効率的にDUTをループバック・モードに設定できるほか、プロトコル対応シーケンサにより、リンク・トレーニング・プロセスを完了できる

優れたシグナル・インテグリティとデバッグ機能

次世代規格のテストには、常に不安と不確かさが付きまといます。32Gbpsに達するデータ・レートでのテストには、クラス最高のシグナル・インテグリティを備えたテスト/デバッグ・ツールが不可欠です。当社のツールを使用すれば、損失の多いチャンネルのトランスミッタ/レシーバ端でもアイを開くことができます。

実績に裏付けられた高い信頼性に加えて、テクトロニクスは優れた測定確度を備えたSDLAツールを提供しています。業界トップクラスのノイズ性能を誇るDPO70000SXシリーズ・オシロスコープを使用して、イコライゼーションやSパラメータによる損失のディエンベッドが行えます。さらに、BSXシリーズBERTScopeビット・エラー位置解析ツールを使用することで、パソロジカル・パターンが発生する原因を特定することもできます。

 

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