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400G PAM4のテスト

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400G PAM4のテスト

 

400Gモジュールのための光製造テスト

8シリーズ・サンプリング・オシロスコープは、400G光製造テスト、高速コンポーネント/システムの設計や検証、シグナル・インテグリティ解析などに、効率的かつ効果的なソリューションを提供します。25G、50G、100G、200Gはもちろん、400GBASE-FR8、400GBASEDR4などの400G IEEE 802.3規格を含む、さまざまな業界標準のコンプライアンス・テストに対応しています。当社のソフトウェアは、TDECQなどの測定に伴う複雑さを軽減するために、ゼロから構築されています。

400G測定の問題を克服する

クラウド・コンピューティングが世界規模で急速に発展しており、高性能なデータセンタ・インフラストラクチャに対する需要が増大しています。 こうした需要に応えるべく、開発者はより小型で高性能、ビットあたりのコストが低いソリューションを提供するために、400G技術への移行を進めています。

400Gを実現するためには、高次の変調や最高56GBaudの高いデータ・レートなど、いくつかのコア技術を確立する必要があります。 そうした新しい変調方式の1つが4値パルス振幅変調(PAM4)です。シンボルあたり2ビットの伝送が可能なため、従来のNRZ方式の2倍のデータ・レートを達成できます。

PAM4信号は、NRZと比較して、S/N比が低く、振幅も3分の1と小さいため、正しく検証を行うには、より高度なツールや機能が必要になります。

400G製品の開発期間の短縮

400G製品の開発は容易ではありません。PAM4信号では効率的に評価作業を行うため、従来よりも高度なツールや機能を使用する必要があります。DPO7OEシリーズ光プローブとDPO70000シリーズ・リアルタイム・オシロスコープは、最高56GBaudのPAM4信号を効果的にトラブルシューティング/測定するのに必要な優れた性能と高度なトリガ/デバッグ機能を備えています。

テクトロニクスのリアルタイム・ソリューションは、技術的な優位性を効率的に証明できるだけでなく、ノイズ性能に優れたサンプリング・オシロスコープと使い分けながら、短時間で400G技術のデバッグ/検証が行えます。

NRZ-vs-PAM4

NRZからPAM4への移行に伴い、光信号のテストも複雑化の一途をたどっています。

検証の効率化と歩留まりの向上

最大の課題の1つは、仕様要件を満たしながら、デバイスあたりのテストのコストをできるだけ低く抑えることです。 NRZ信号と比較して、PAM4信号の場合は必要なテストの数が10倍以上にもなるため、生産効率を最大に上げるためには、PAM4信号に最適化された低ノイズで優れた測定機能を持つソリューションを使用する必要があります。

DSA8300型と80C20/21型光モジュールで構成された当社のサンプリング・ソリューションは、広帯域に対応し、優れた感度を備えており、最高56GBaudのテストも短時間で行うことができます。このソリューションを使用すれば、優れた性能と費用対効果を両立させることが可能です。

TDECQ_plot_sampling_scope

TDECQ測定の画面。複雑なPAM4信号のテストが行われている

電話でのお問い合わせ:1-800-833-9200。または、
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