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USB

テクトロニクスのUSB Tx/Rxソフトウェア・ソリューションは、USB-IFテスト規格に準拠した電気的検証、コンプライアンス、特性評価、デバッグなど、USB 3.1 Type-C、USB 3.1、およびUSB 2.0ベースのシステム設計に携わるエンジニアのニーズに応える製品です。 USB-PDの電気的パラメトリック/プロトコル測定によるコンプライアンス対策のためのソリューションもご用意しています。

USB 3.1 Type-C自動テスト・ソリューション

テクトロニクスのオシロスコープとBERTによるトランスミッタ/レシーバ・テスト

当社のUSB 3.1 Type-C、USB 3.2、およびUSB 2.0ベースのシステム向けソリューションの詳細は、こちらからご覧ください。

ライブラリ

Title
The Basics of Serial Data Compliance and Validation Measurements
High-speed serial bus architectures are the new norm in today’s high-performance designs. While parallel bus standards are undergoing some changes, serial buses are established across multiple markets …
テクトロニクスのUSBソリューション
USB 2.0はPC(ホスト機器)とさまざまな周辺機器を接続する標準的なシリアル・インタフェース規格です。また、PCを必要としない周辺機器間のピア・ツー・ピア接続も、USB On The Go(USB-OTG)規格の出現で可能になりました。今日では組込み機器などの内部バスとしてもそのニーズが広がっています。480Mbpsの転送速度という信号の高速化により、USB 2.0の設計 …
USB 3.0 Physical Layer Measurements
SATAトータル・ソリューション
パラレルのATA(AT Attachment)技術はほぼ20年間使い続けられてきました。しかしながら、パラレル転送方式ではピン数が多いため、チャンネル間スキューを確保しての高速化には限界があり、フラット・ケーブルによるエアー・フローの妨げや低電圧化が進む中で依然高い信号振幅、ノンスケーラブルな性能なども課題となるため …
High Speed Interface Standards
This e-Guide will help you learn more about design challenges for testing PCIe 4.0, SAS, SuperSpeed USB, and DDR4 standards. Within the pages of the eGuide you will also get quick access to technical …
Advanced Serdes Debug with a BERT
Learn simple strategies to pinpoint bit errors to the exact bit position and timing with powerful Error Location Analysis and a BERT.
USB 2.0 Compliance Solution
This fact sheet details the recommended equipment to meet the USB 2.0 compliance testing requirements. 
USB3.0計測/コンプライアンス・ソリューション
USB3.0計測/コンプライアンス・ソリューション- トランスミッタ・テスト- ワンボタン自動測定ソリューション- ジッタ耐性パターン生成- 推奨機器構成
USB 2.0物理レイヤ・テスト
USB 2.0対応のデバイス設計、特性評価および動作確認に携わっているエンジニアは、製品の市場投入のスピードアップを日々迫られています。当社の測定パッケージでは、USB-IF (USB Implements Forum, Inc.) 推奨のすべてのコンプライアンス・テストが、すばやく、正確に実行できます。
USB 3.1 Receiver Compliance Testing
In this application note, all aspects of USB 3.1 receiver testing are covered, including stressed eye calibration and jitter tolerance testing with measured device margin.        
USB 3.1 What you need to know - Reference Guide
Quickly and easily reference important USB specifications without having to comb through hundreds of pages. This guide includes important Electrical Test Parameters, reference pictures for Compliance …
Simplifying Validation and Debug of USB 3.1 Designs
This application note will explain the evolution of the Universal Serial Bus (USB) standard and testing approaches that have been developed to accommodate the increasing speed and complexity of this …
How to Debug USB 3.1 Gen1 and Gen2 Electrical Compliance Failures
Learn more about the Type-C connector and the benefits it brings to USB 3.1, the latest USB 3.1 specifications, and how you can go beyond compliance testing to get to the bottom of issues that east …
組込みシステム設計におけるシリアル・バスのデバッグ
組込みシステムは、今日ではいたるところで目にすることができます。組込みシステムを簡単に定義すると、大型システム/機械をモニタ、制御するために、その一部として組込まれた、特殊用途のコンピュータ・システムと言えます。一般的な組込みシステムでは、電源を入れるとただちに特別なアプリケーションが実行され、電源がオフになるまで停止することはありません。今日では、ほとんどすべての電子デバイス …
オシロスコープを使用したUSB 2.0問題のトラブルシュート
• USB 2.0の物理レイヤとパケット構造の概要から、トラブルシュートに役立つ詳細な情報を説明します。 • USB 2.0のデコード機能を装備したオシロスコープのデコード設定方法を説明します。 • USB 2.0のデコード機能を装備したオシロスコープのシリアル・バス・データの読み方を説明します。 • USB 2.0のデコード機能を装備したオシロスコープで可能なトリガ、検索について説明します …
Application Kit for USB 3.1 Transmitter and Receiver Testing
This kit contains the following application notes:   USB 3.1 Receiver Compliance Testing covers all aspects of USB 3.1 receiver testing, including stressed eye calibration and jitter tolerance …
Title
Electrical Validation of the Type-C Interface
The introduction of the Type-C interface, and its implementation across multiple high-demand serial standards, has created new challenges for developers. These include new compliance channel …
Testing USB 31
With computer peripheral devices demanding more bandwidth; the industry is making its move to faster serial I/O. USB3.1 brings a staggering 10Gb/sec to computing peripherals. View this short webinar …
Simplify your USB TypeC Design Validation From Complexity to Confidence
Comprehensive tools for debugging failures are key to building confidence that your product will pass compliance and achieve certification. This in-depth webinar will help simplify your validation …
Title
USB 3.0 Cable Tests MOI
This MOI specifies the testing procedures for the Super Speed channels of a USB 3.0 cable and mated cable assembly. 
USBSSP DPOJET MOI
This MOI specifies the testing procedures for USB 3.1 Transmitter Tests (Gen 1 and Gen 2) using Tektronix DPOJET and Tektronix Oscilloscopes. 
USB 2.0 Hub MOI
High-Speed Electrical Testing - Hub MOI 
USB 3.1 Receiver Testing MOI
This MOI reviews the methods used for USB 3.1 (10 Gb/s) receiver compliance testing using the BERTScope Bit Error Rate Testers. 
USB 2.0 Test Procedures MOI
USB 2.0 Test Procedures Method of Implementation  
USB 3.0 Receiver Testing MOI
This MOI reviews the methods used for USB 3.0 receiver compliance testing using the BERTScope Bit Error Rate Testers. 
USB 3.1 Cable Tests MOI
This MOI specifies the testing procedures for the SuperSpeed channels of a USB 3.1 cable and mated cable assembly including Type-C to Type-C and Type-C to legacy connectors. 
USB 2.0 Host MOI
High-Speed Electrical Testing - Host MOI 
Tektronix USB2.0 Device MOI
USB 2.0 Universal Serial Bus Measurement MOI 
Tektronix High-Speed Electrical Testing - Host MOI
High-Speed Electrical Testing - Host MOI 
High-Speed Electrical Testing - Hub MOI
High-Speed Electrical Testing - Hub MOI