製品の最終認証テストに時間と費用を投資する前に、デバイスを認証ラボに送る準備ができていることを確認する必要があります。問題が発生したときは、問題にすばやくフォーカスし、原因を特定し、コストのかかる遅延を発生させずに修復する手順のための適切なツールが必要です。

効率的にデバッグするには、問題をすばやく特定し、間欠的な干渉を捕捉するソリューションが必要になります。 これは、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせによって実現されます。

ソフトウェア・ソリューションで探す必要がある機能の一部は次のとおりです。

• 対象となる周波数で障害のない状態およびゼロインをバイパスするためのQP（疑似ピーク）検波。
• 特定の高調波のみをテストし、近接界プローブでそれらのエミッションがボード上のどこで発生しているかを探すための高調波チェック。
• 既知の周波数の高調波でエミッションを検出することを可能にする高調波マーカ。
• 被測定デバイス（DUT）と周囲の雑音、デバイスの以前の反復などを比較するための複数トレースの表示機能。
• 障害が間欠的か再発しているかを判断するための、自動または手動によるマルチ障害の再測定。
• 同じユーザが設定可能なレポートによる、複数の形式による複数の測定。

ハードウェアについては、リアルタイム・スペクトラム・アナライザを使用することによりEMIデバッグがより簡単になります。リアルタイム・スペクトラム・アナライザが提供する利点の一部は次のとおりです。

• トランジェント信号、間欠的な信号を取込む機能。
• 同じ周波数で複数のソースをデバッグする機能。
• 即時フィードバック － 従来の掃引スペクトラム・アナライザは掃引に時間がかかり、重要な信号を取込めない可能性があります。

リアルタイム・スペクトラム・アナライザを使用した放射プリコンプライアンス・テストの詳細については、当社のブログをご覧ください。トラブルシューティング技術に関する詳細は、以下のボタンをクリックしてダウンロード可能な「EMIのトラブルシューティングの実例」アプリケーション・ノートに記載されています。