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信頼性の高い製品を迅速に開発。

信頼性の高い製品を最短で市場に投入するには、迅速に製品にストレスをかけて、設計や製造上の潜在的な弱点を特定できるプロセスが必要です。 

経験豊富な技術スタッフと業界トップサプライヤのオンサイト・テスト機器により、お客様のあらゆるテスト要件に対応します。70年以上にわたって、軍事、航空宇宙、通信、医療、半導体業界のフォーチュン500企業がテクトロニクスを信頼し、部品から製品レベルに至るテスト要件を満たしてきました。

 

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HALTテスト:厳格な評価を通じて製品の信頼性を向上

HALTテストとは

高加速度寿命試験(Highly Accelerated Life Testing、HALT)は、電子および機械アセンブリ内に潜む設計上の欠点や脆弱性を明らかにするために、綿密に作成された優れた手法です。HALTテストでは、通常の運転パラメータをはるかに超える極端な条件に製品を曝すことで、実用環境で使用されるまで発生しない可能性がある問題を戦略的に明らかにします。

ストレス・テスト:材料と設計のしきい値の探索、評価

HALTテストでは、通常の使用パラメータをはるかに超える極端な条件に製品を曝します。極端な条件:

  1. 温度変化:製品を激しい温度変化に曝します。

  2. 急速な熱サイクル:急速な温度遷移を繰り返し、潜在的な弱点を明らかにします。

  3. 多軸振動:過酷な多軸振動評価により、潜在的な脆弱性を明らかにします。

HALTテスト・プロセスを理解する

合理化されたHALTテスト・プロセス

  1. 計画とストレッサの選択:まず、テスト目的を定義し、製品の重要部品を特定します。次に、テストに使用する環境ストレス要因(極端な温度や振動など)を選択します。この手順は、HALTテスト・プロセス全体の基礎となり、弱点を発見する方向性を明確に定義します。

  2. 機器のセットアップとベースライン・テスト:適切なテスト機器を準備し、校正済みであることを確認して、目的のストレス条件を設定する準備を整えます。センサとデータ収集ツールを設置して、製品性能をモニタします。ストレッサを適用する前に、ベースライン・テストを実施して、通常の状態で製品がどのように機能するかを評価します。この初期評価が、今後の比較に使われるベンチマークとなります。

  3. ストレスの適用とモニタリング:まず低いレベルから始めて徐々にレベルを上げ、選択したストレス要因を徐々に適用します。製品の挙動、性能、想定される基準からの逸脱を継続的にモニタします。この手順は、製品がストレスにどのように反応するかを観察し、潜在的な問題の発生を特定するために重要です。

  4. 故障解析と応急措置:HALTテスト中に故障が発生した場合は、徹底的に解析して、根本原因を特定します。必要に応じて応急措置を適用し、テスト・プロセスを中断したり、製品の安全性にリスクをもたらす可能性のある重大な問題に対処します。必要に応じてストレス・レベルとパラメータを調整し、制御されたテスト環境を維持して、特定した問題に対処します。

  5. 反復テストとデータ解析:HALTテスト・プロセスを繰り返して、ストレスの適用、モニタリング、解析を複数回、実施します。各サイクルは、弱点と稼動限度を体系的に特定するのに役立ちます。収集したデータを解析して傾向とパターンを明らかにすることで、製品の信頼性に影響を与える、最も重要な問題に最優先で対処できます。

  6. 文書化とレポート作成:テスト・プロセス全体で、故障モード、根本原因、推奨措置などの所見を詳細に文書に記録します。結果をまとめて包括的なレポートを作成し、関係者と共有します。効果的に文書化することで、HALTテストで得られた知見を効果的に伝達し、今後の対策の指針とすることができます。

  7. 改善と検証:HALTテストで得られた知見をもとに、設計と製造に変更を加えることで、製品の総合的な信頼性と堅牢性を強化できます。最終検証テストを実施して、特定された弱点に対してこれらの改善が効果的に適用されていることを確認します。製品の性能と信頼性が満足できるレベルに到達したら、厳格なテストを実施して改善されていることを確認し、市場投入のための認証を取得します。

HALTテストが重要な理由

HALTテストは、製品構造の潜在的な欠陥を体系的に特定する、プロアクティブな取り組みです。これらの欠陥は、実際の使用時に動作上の欠陥として現れる可能性があります。

HALTテストの主な目的は、製品固有の信頼性を高めることです。以下が必要な場合は、必須の検討事項です。

  1. 設計上の弱点の特定: HALTテストにより、複雑な設計上の脆弱性と製造上の異常を即座に検出できます。

  2. 徹底的な故障解析: HALTテスト時に発見された故障は、発生箇所と根本原因を正確に特定するために、綿密に解析されます。

  3. 是正措置の戦略的展開: HALTテストから得られた知見を活用して、設計や製造に関して、情報に基づく意思決定ができます。これにより、製品構造全体を強化できます。

  4. 開発プロセスの最適化: HALTテストにより、設計段階と製造段階の両方で潜在的な問題にすばやく対処し、製品開発に効率よくつなげることができます。

  5. 故障から詳細な知見への加速: HALTテストの最終的な目的は、意図的に故障を発生させて、潜在的な課題や弱点に関する貴重な知見を得ることです。

  6. 市場投入に向けた確信の構築: HALTテストを完了することで、組織は貴重な資産を得ることができます。厳格なテストを通過した製品を、確信をもって発売できることが保証されるからです。この確信は、顧客の信頼と満足度を獲得する上で不可欠です。

HALT and HASS Testing Services

HASSテスト

HASSテスト(Highly Accelerated Stress Screening、高加速ストレス・スクリーニング)とは、製品の堅牢性を維持し、製造の弱点を特定するために使われるスクリーニング・ツールです。HALTテストによってデータを推定することで、製品に対して従来のESS(Environmental Stress Screen、環境ストレス・スクリーニング)レベルよりも厳格なHASSを実施できます。

HASSレベルは従来のスクリーニング・ツールよりも強力であるため、POS(プルーフ・オブ・スクリーニング、スクリーニング実証)手順を使用して、試験品を刺激して製造上の弱点を発見し、HASSの有効性を確立できますが、試験品の製品寿命を大幅に軽減するほど強力ではありません。製品のスクリーニングにHASSを導入することは、高レベルの堅牢性を維持するための優れた手段であり、製品のスクリーニングに必要なテスト時間を短縮し、長期的な節約につながります。

2つを組み合わせたHASS/HALTテストには大きな利点があります。製品開発コストを削減できるうえ、市場投入時間を短縮し、保証コストの削減にもつながります。これにより、顧客満足度も改善されます。テクトロニクスの経験豊富なHALTテスト・エンジニアが、HASS/HALTテスト要件に対応できるようサポートします。

経験豊富な技術スタッフと業界トップサプライヤのオンサイト・テスト機器により、お客様のあらゆるテスト要件に対応します。70年以上にわたって、軍事、航空宇宙、通信、医療、半導体業界のフォーチュン500企業がテクトロニクスを信頼し、部品から製品レベルに至るテスト要件を満たしてきました。

ISTA Certified Package Testing 

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ISO 17025 Accredited Testing Services 

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