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製品サポートとダウンロード

テクトロニクスの製品サポートへようこそ

当社は、技術的な問題について、時間をかけて丁寧にご説明させていただきます。しかし、お忙しいお客様もおられることでしょう。そのため、現行製品のほか、多くの製造中止の製品についても、マニュアル、データ・シート、ソフトウェア等を用意し、簡単にダウンロードしていだだけるようにしております。ご使用の製品をお知らせ下さい。関連するあらゆるリソースをご提供いたします。

選択された製品型名は現在購入可能です。以下のサポート情報を提供しています。

  • データシート 文書番号: リリースの日付
    MSO/DPO70000シリーズオシロスコープ
    プロトタイプの電源投入から製造テストまでの設計サイクルにおいて、多くのエンジニアはオシロスコープをツールとして使用しています。MSO/DPO70000シリーズ・オシロスコープの優れた機能、信号取込性能、解析機能は、エンジニアの迅速な測定作業を支援します。
    55Z-23446-33
    Ethernet Transmitter Test Application Software
    The Ethernet Transmitter Test Application automates 10GBASE-T, NBASE-T, and IEEE802.3bz (2.5G/5G) physical medium attachment (PMA) physical-layer (PHY) electrical testing to provide a fast and accurate way of testing your Ethernet designs.
    61W-24430-9
  • 技術情報 ドキュメントの種類 リリースの日付
    シグナル・インテグリティ:本当に検討すべき重要なファクター
    重要な測定においてオシロスコープを選択する場合、バナー・ス ペックと呼ばれる目立つ仕様だけで選んでしまうことがあります。 オシロスコープにおけるトップ3のバナー・スペックを以下に示し ます。周波数帯域サンプル・レートレコード長これらのバナー・スペックで最も注目されるのが「周波数帯域」 です。やはり、周波数帯域は広いほど高性能なのでしょうか。必 ずしもそうとは言えません。このテクニカル・ノートでは、この 非常に簡単な思い込みに対する落とし穴と、測定システムの有効 …
    テクニカル・ブリーフ
    USB 2.0物理レイヤ・テスト
    USB 2.0対応のデバイス設計、特性評価および動作確認に携わっているエンジニアは、製品の市場投入のスピードアップを日々迫られています。当社の測定パッケージでは、USB-IF (USB Implements Forum, Inc.) 推奨のすべてのコンプライアンス・テストが、すばやく、正確に実行できます。
    アプリケーション・ノート
    iCapture®アナログ MUX(マルチプレクサ)
    iCapture®アナログMUX(マルチプレクサ)はテクトロニクス独自の機能であり、1本の電圧プローブで電気信号をデジタル、アナログの両方の形式で同時に観測することができます。このホワイト・ペーパーでは、回路へのプロービングと、プローブ負荷を抑えるための課題について説明します。また、iCaptureアナログMUXの技術概要についても説明します。最後に、オシロスコープまたはロジック・アナライザを使用した場合のiCaptureアナログMUXの利点について説明します。
    ホワイトペーパー
    オシロスコープ 選定ガイド
    テクトロニクスは、さまざまなアプリケーション、用途に対応したオシロスコープを数多くご用意しています。この選定ガイドでは、現在ご利用いた だけるさまざまな種類のオシロスコープの概要と、ニーズに合った正しいオシロスコープの選定の手助けになるよう、選定の際に考慮すべき主要性能や機能、各シリーズ間の主な違いをご説明しています。
    選択ガイド
    NRZとPAM4シグナリングのための 光帯域要件
    つい最近までは、光帯域と電気的帯域の測定結果にそれほど大きな違いは見られませんでした。ところが、近年IEEE規格が変更されたことで、状況に大きな変化が生じています。 このホワイト・ペーパでは、規格で使用されている用語の意味を明らかにするとともに、それぞれの用語の関係を数学的に示しながら、光チャンネルの光/電気的帯域を理解し、正しく計算するのに必要な基礎知識を紹介しています。
    ホワイトペーパー
    SDRAMメモリ・システム組込みシステムのテスト/測定課題
    DRAM(Dynamic Random Access Memory)は、多様な性能を持ち、コンピュータや組み込みシステムなどのメモリ・システムで広く採用されています。この入門書では、DRAMの概要、DRAM開発の将来性、評価によるメモリ設計の改善について説明します。
    入門書
    第5回 オシロスコープ入門-オンライン版 解答と解説
    オシロスコープ入門-オンライン版 解答と解説
    入門書
    第3回 オシロスコープ入門-オンライン版 解答と解説
    オシロスコープ入門-オンライン版 解答と解説
    入門書
    第4回 オシロスコープ入門-オンライン版 解答と解説
    オシロスコープ入門-オンライン版 解答と解説
    入門書
    超高速信号を、世界で最も正確に捉える
    MSO/DSA/DPO70000シリーズ最高 33GHzのアナログ周波数帯域最高 100GS/s(2ch時)、 50GS/s(4ch同時)の高速サンプル・レート4ch同時 23GHzのリアルタイム周波数帯域最大 250Mポイント(4ch同時)のレコード長を実現強化されたDPO機能により、障害を迅速にデバッグ4ch同時に毎秒300,000回以上の高速波形取込(FastAcq)を実現
    ファクト・シート
    テクトロニクス、TekScope Anywhere™により、エンジニア間の連携と生産性を向上
    報道発表資料2015年7月27日 テクトロニクス(代表取締役 米山 不器)は、本日、PC波形解析ソフトウェア、TekScope Anywhere™(テックスコープ・エニウェア)発表します。このソフトウェアを使用することで、テクトロニクスのオシロスコープが備えている表示/解析/レポート機能を、Microsoft WindowsベースのPC、タブレット、サーバに拡張することができます。解析機能をオシロスコープから切り離すことにより、エンジニアは多くの時間をラボから離れて仕事することができ …
    プレス・リリース
    Tektronix Simplifies Serial Bus Debug to Drive Engineering Productivity
    Rolls Out Significant Upgrades to Popular DPOJET Analysis Toolset, Enhances Serial Analysis Capabilities, Expands Automobile Industry Bus Support BEAVERTON, Ore., July 3, 2012 - As serial bus standards become faster and more complex, debug has …
    プレス・リリース
    Tektronix Further Strengthens Support for Automated MIPI® M-PHY Testing
    ST-Ericsson and Tektronix Join Forces to Showcase Test Solutions at MIPI Alliance All Member Conference in BerlinBEAVERTON, Ore. and Berlin - June 12, 2012 - Tektronix, Inc., the world's leading manufacturer of oscilloscopes, today announced a series …
    プレス・リリース
    高速信号の波形取込に最適なPinpoint®トリガ
    試作回路のトラブルシュート、回路性能の評価、シグナル・インテグリティの検証など、どの作業もデータの取込が必要です。これには、高速信号の捕捉に充分な高い性能があること、検出すべきイベントを柔軟に組合せができること、という2点において、優れたトリガ・システムが必要になります。DPO7000およびDPO70000シリーズは、この2点において最高のパフォーマンスを備えたオシロスコープです。
    パンフレット
    波形記録時間
    4ch使用時における周波数帯域で取込を行う場合の波形記録時間
    アプリケーション・ノート
    DDRメモリの電気的検証
    スマート・フォンからサーバまで、ほとんどすべての電子デバイスには、なんらかの形式のRAMメモリが使用されています。フラッシュ型NANDはさまざまな民生家電で今も数多く使われていますが、コンピュータやコンピュータベースの製品においては今なおSDRAMはメモリ技術の主流となっており、ビット単価も比較的安価でスピードとストレージ容量のバランスも優れています。スピードの高速化、大容量化を実現しつつ、低コスト、低予算、メモリ・デバイスの寸法の小型化を求める企業にとって、DDR(Double-Data …
    アプリケーション・ノート
    テクトロニクス、MHL 3.0拡張解析/コンプライアンス・テスト・ソリューションを発表
    報道発表資料2015年7月29日テクトロニクス(代表取締役 米山 不器)は、本日、最新のMHL(Mobile High-Definition Link)規格に対応した拡張解析/コンプライアンス・テスト・ソリューションを発表します。新製品のMHL 3.0ソリューションは、最新のMHL CTS(Compliance Test Specification)3.2をサポートしており、6Gbps、3Gbps、1.5Gbpsのすべてのデータ・レートにおけるソース、シンク …
    プレス・リリース
    DDRやSoCなど、高速デジタル回路の新しい検証とデバッグ手法
    最新の組込み/コンピューティング・システムは、高速のバス、業界規格によるサブシステム、さらにはチップに集積された機能などにより、ますます高機能化しています。高機能化になっただけでなく、システムはますます複雑になり、信号品質の影響も受けやすくなっているため、トラブルシュートには時間がかかるようになっています。
    アプリケーション・ノート
    組込みシステム設計におけるシリアル・バスのデバッグ
    組込みシステムは、今日ではいたるところで目にすることができます。組込みシステムを簡単に定義すると、大型システム/機械をモニタ、制御するために、その一部として組込まれた、特殊用途のコンピュータ・システムと言えます。一般的な組込みシステムでは、電源を入れるとただちに特別なアプリケーションが実行され、電源がオフになるまで停止することはありません。今日では、ほとんどすべての電子デバイス、製品が組込みシステムであると言えます。組込みシステムの簡単な例を次に示します。
    アプリケーション・ノート
    テクトロニクス、MIPI M-PHY v3.1仕様に対応した業界初のテスト・ソリューションを発表
    報道発表資料2014年11月12日MSO/DPO70000DXシリーズ・オシロスコープとP7600シリーズTriMode™プローブによる、業界トップクラスの低ノイズM-PHY測定ソリューションテクトロニクス(代表取締役 米山 不器)は、本日、MIPIアライアンスが最近発表したMIPI M-PHY v3.1仕様に対応した、業界初、物理レイヤの送信端における特性評価/デバッグ・ソリューションを発表します。このソリューションはMIPI M-PHY High Speed Gear 1/2/3 …
    プレス・リリース
    テクトロニクス、HDMI 2.0のコンプライアンス・テスト/デバッグ・サポートを発表
    報道発表資料2014年6月16日新しい4Kビデオ・モニタ技術により、高速かつ再現性に優れた正確な測定を実現 テクトロニクス(代表取締役 米山 不器)は、最新HDMI ®2.0規格用の、テクトロニクス完全自動コンプライアンス・テスト/デバッグ・ソリューションのMOI(Method of Implementation:試験手順書)が、HDMIフォーラムに承認されたことを発表します。テクトロニクスのソリューションは、HDMI 2 …
    プレス・リリース
    Tektronix Delivers Advanced 802.11 WLAN Test Solutions for Embedded Design Engineers
    Upgrades to Mixed Domain Oscilloscope, Performance Oscilloscopes, Spectrum Analyzers and Analysis Software Ease Challenge of Integrating WLAN in Embedded SystemsBEAVERTON, Ore., Nov. 19, 2013 - Tektronix, Inc., a leading worldwide provider of test …
    プレス・リリース
    Tektronix Adds Full Test Support for DDR4, DDR3L and LPDDR3 Standards
    Industry's Only Oscilloscope-Based JEDEC Conformance Package that Supports All Generations of Memory Standard TestsBEAVERTON, Ore., Dec. 7, 2012 - Tektronix, Inc., a leading worldwide provider of test, measurement and monitoring instrumentation …
    プレス・リリース
    100Base-TXの物理層コンプライアンス・テスト
    イーサネット物理層を製品設計で検証するエンジニアは、幅広いテストを迅速に、高い信頼性で、効率よく実行する必要があります。このアプリケーション・ノートでは、検証のためのさまざまなテストや、マルチレベル信号のテスト時に発生する問題について説明し、オシロスコープに内蔵されているテスト・ソフトウェアが提供するリターン・ロスなどの検証サイクルの短縮、および高い信頼性によって実現される、これまでにない効率の向上について説明します。
    アプリケーション・ノート
    MSO/DPO70000シリーズ・オシロスコープ・ファクトシート
    ■ 最高 33GHzのアナログ周波数帯域(保証値、プローブ込み) ■ 最高 100GS/s(2ch時)、 50GS/s(4ch同時)の高速サンプル・レート ■ 4ch同時 23GHzのリアルタイム周波数帯域 ■ 最大 500M(4ch同時)、最大 1G(2ch同時)のレコード長を実現 ■  DPO機能により、障害を迅速にデバッグ 4ch同時に毎秒300,000回以上の高速波形取込(FastAcq)を実現    
    ファクト・シート
    入門書オシロスコープのすべて
    この入門書では、初めてオシロスコープを使用する方を対象に、オシロスコープの基本的な機能および操作方法について説明しています。 聞きなれない用語が出てきましたら、本書の末尾の用語集でその意味を確認してください。本書には、オシロスコープの動作原理や操作についての用語テストや選択式問題が掲載されているので、教材としても適しています。数学やエレクトロニクスの知識は必要ありません。 この入門書では、以下の項目について説明します。 ■ オシロスコープの動作原理 ■ …
    入門書
    オシロスコープを使用したEthernet問題のトラブルシュート
    バス問題または関連するシステム問題のトラブルシュートに役立つ10BASE-T、100BASE-TX Ethernetの物理レイヤの基礎について説明しています。Ethernet解析機能を装備したオシロスコープを設定し、自動デコード/トリガ/サーチ機能を使用して測定結果を読み取る方法を学びます。  
    アプリケーション・ノート
    テクトロニクスのオシロスコープとオプションのソフトウェアを使用したシリアル・サポート
    テクトロニクスのオシロスコープは、シリアル・バスのデバッグまたはコンプライアンス検証を簡単に実行するためのオプションの解析機能を用意しています。オシロスコープごとにサポートされているシリアル規格の一覧表です。
    選択ガイド
    Working Remotely with Tektronix Oscilloscopes Running the Windows Operating System
    Most modern Tektronix oscilloscopes support one or more ways of working remotely. These methods include simple file-sharing and offline analysis, control using PC software, custom programming in Python or other languages, and Windows Remote Desktop …
    テクニカル・ブリーフ
    Using FastFrame™ Segmented Memory
    This application note explains how to use FastFrame(TM) Segmented Memory feature to capture signal bursts or data packets without using memory to capture unimportant dead time.  This application note applies to the following series of …
    アプリケーション・ノート
    Remote Head Acquisition Improves High Speed Serial Measurement
    As high speed serial data rates continue to increase, the need to maximize margin in measurements increases. Coaxial cables, even good quality ones can impact the measurement margin. Remote heads for oscilloscopes provide clear advantages that …
    アプリケーション・ノート
    Inside the MSO/DPO70000DX Series
    Tektronix MSO/DPO70000DX Series oscilloscopes feature a custom, highly advanced, front-end (Multi-Chip Module or MCM), that ensures that the integrity of high-speed signals are maintained before they are sampled. This delivers an industry leading …
    アプリケーション・ノート
    Windows 7 Ultimate 64 Bit SP1 Operating System Recovery
    This document instructs how to restore the instrument operating system.
    入門書
    In-circuit Measurement of Inductors and Transformers with an Oscilloscope
    An oscilloscope can be used to measure the performance of inductors and transformers under operating conditions.  This application note: Provides a quick review of practical inductor and transformer theory, especially related to power supply …
    アプリケーション・ノート
    DesignCon 2015 Paper – Hybrid Modeled Measured Characterization of a 320 Gbit/s Backplane System
    This paper explores a case study of a multilane Ethernet backplane 320 Gbit/s system that is difficult to fully measure and deembed, implements a hybrid method of modeling, deembedding, and measurement, explores improvements to the metrology and …
    ホワイトペーパー
    Automated Low Voltage Differential Signaling (LVDS) Measurements
    Low Voltage Differential Signaling (LVDS) is a popular signaling system for applications requiring high speed data transfers using low power. This application note explains the basic elements of LVDS signaling, details measurements based on an …
    アプリケーション・ノート
    Analyzing 8b/10b Encoded Signals with a Real-time Oscilloscope
    This application note discusses troubleshooting and verifying devices with 8b/10b serial buses using the Tektronix MSO/DPO/DSA70000 Series oscilloscopes with their powerful real time triggering of 8b/10b serial buses.
    アプリケーション・ノート
    Analyzing 26 to 53 GBd PAM4 Optical and Electrical Signals
    The need to deliver data rates in excess of 50 Gb/s has created great interest in bringing next generation PAM4 components and systems to market. This paper presents techniques for analyzing 28 GBaud and 53 GBaud optical and electrical PAM4 signals …
    アプリケーション・ノート
    Tektronix Provides Raspberry Pi with Measurement Solutions to Test and Develop Current and Next Generation High Speed Interfaces
    23 GHz Mixed Signal Oscilloscope and 25GS/s Arbitrary Waveform Generators Help Raspberry Pi to Test HDMI, MIPI and USB InterfacesBRACKNELL, UK. March 20, 2017 - Tektronix, Inc., a leading worldwide provider of measurement solutions, today announced …
    プレス・リリース
    The Basics of Serial Data Compliance and Validation Measurements
    High-speed serial bus architectures are the new norm in today’s high-performance designs. While parallel bus standards are undergoing some changes, serial buses are established across multiple markets – computers, cell phones, entertainment systems …
    入門書
    Best Practices for MSO/DPO70000/DPO7000 Series oscilloscopes
    This document summarizes the Best Practices for using Tektronix MSO70000/C, DPO7000/C, DPO70000/B/C/D and DSA70000/B/C/D Series products.
    入門書
    OS Restore Process for MSO/DPO70000/DPO7000 Series oscilloscopes
    This document identifies the OS Restore Process for MSO/DPO70000/DPO7000 Series oscilloscopes.
    入門書
    Comparison of New versus Legacy Ethernet Compliance Test Automation
    New test automation software is available for Ethernet 1000BASE-T, 100BASE-TX, and 10BASE-T compliance testing.  The new "CMENET3" solution is based on the TekExpress framework and provides significant test time and workflow improvements over the …
    ファクト・シート
    Dual Scope Synchronization
    The Tektronix DPO/DSA/MSO70000 models above 12 GHz in bandwidth provide 50 GS/s sampling rate on each of 4 channels simultaneously, or 100 GS/s sampling rate on 2 channels in interleaved mode. With interleaved operation comes the opportunity for …
    アプリケーション・ノート
    Debugging High-Performance Designs with Mixed Signal Oscilloscopes
    These are real world functional examples of how engineers have used the Tektronix MSO70000 Series Performance Mixed Signal Oscilloscope in the following three areas of electronic design: Memory High Speed Serial (PCI Express and HDMI Video) RF
    ホワイトペーパー
    High Speed Interface Standards
    This e-Guide will help you learn more about design challenges for testing PCIe 4.0, SAS, SuperSpeed USB, and DDR4 standards. Within the pages of the eGuide you will also get quick access to technical resources that will help you understand design …
    使用方法ガイド
    Tektronix Wins "Best in Test" 2010 Award
    受賞ニュース
    Tektronix Launches TekScope Anywhere to Improve Collaboration, Boost Productivity
    New Software Solution Extends Visualization, Analysis and Reporting Capabilities of Tektronix Oscilloscopes to PCs, TabletsBEAVERTON, Ore., Jan. 27, 2015 - Tektronix, Inc., the world's leading manufacturer of oscilloscopes, today announced TekScope …
    プレス・リリース
    Power Supply Measurement and Analysis Primer
    A power supply is a component, subsystem, or system that converts electrical power from one form to another; commonly from alternating current (AC) utility power to direct current (DC) power. The proper operation of electronic devices ranging from …
    入門書
    Project 25 Land Mobile Radio (LMR) Solution
    Quick overview of the complete Tektronix solution for Project 25 Land Mobile Radio (LMR).
    ファクト・シート
    Maintain Signal Integrity From Bus To Oscilloscope At 30 GHz And Beyond
    With serial data rates continuing to climb, the margin between pass and fail has shrunk to the point where noise from the signal and the measurement system can combine to close the eye. This technical article will provide guidance on signal integrity …
    製品資料
    Mixed Signal Design Guide
    Modern embedded system design and computing systems have become progressively more powerful by incorporating high-speed buses, industry standard subsystems, and more integrated functionality in chips. They have also become more complex, more …
    アプリケーション・ノート
    New Solution Boosts Accuracy of High-Speed Signal Measurements
    Tektronix Introduces SignalCorrect Software, TCS70902 Calibration Source to Quickly Characterize and De-embed Interconnects BEAVERTON, Ore., Jan. 18, 2015 - Tektronix, Inc., the world's leading manufacturer of oscilloscopes, has introduced a new …
    プレス・リリース
    2020 Tektronix and Keithley Product Catalog
    We have the right products to ensure your success. Browse our new Tektronix and Keithley Product Catalog and explore our complete line of test and measurement solutions. You’ll find over 130 pages of key product details and specifications …
    選択ガイド
    Advanced Radar Analysis: Tools for Measuring Modern Radar Application Note
    With today's rapid advances in radar technology, developing and manufacturing highly specialized and innovative electronic products to detect radar signals takes leading-edge technology and tools. Tektronix innovative test equipment reduces testing …
    アプリケーション・ノート
    Tektronix Named Finalist For EDN Innovation Award
    受賞ニュース
  • The NEW P7700 Series TriMode Probe provides the highest probe fidelity available for real-time oscilloscopes. Watch our 60-second video to see how this new probe can help minimize noise and easily …
    期間: 55s
    The MSO/DPO70000 Series oscilloscope delivers exceptional signal acquisition performance and analysis capability. Discover your real signals and capture more signal details with the industry's …
    期間: 5m 50s
    This Tektronix webinar will teach engineers how to use modeling tools to correlate simulations with high-speed physical layer measurements on Serial Bus Standards using the DPO/MSO70000 Series …
    期間: 27m 39s
    Learn how to open closed eyes using equalization techniques and how to de-embed reflections and loss caused by the measurement setup using SDLA Visualizer for Tektronix Real-Time Oscilloscopes.
    期間: 30m 56s
    Learn how to dramatically cut down test time on required compliance interop tests for USB3 using an automated test suite from Tektronix. 
    期間: 4m 5s
    Get a view into next generation datacenter technology. After an overview, we dive into the signal analysis of coherent links.
    期間: 24m 53s
    As design margins shrink, accurate and standard-specific measurement is key to debugging, verifying design and performing interoperability testing when designing PCIe devices. Having confidence in …
    期間: 53m 34s
    This webinar will explain how to prepare for next generation DDR-based memory testing. Learn about the changes these new standards bring to electrical verification and how to prepare for proper …
    期間: 15m 38s