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製品サポートとダウンロード

テクトロニクスの製品サポートへようこそ

当社は、技術的な問題について、時間をかけて丁寧にご説明させていただきます。しかし、お忙しいお客様もおられることでしょう。そのため、現行製品のほか、多くの製造中止の製品についても、マニュアル、データ・シート、ソフトウェア等を用意し、簡単にダウンロードしていだだけるようにしております。ご使用の製品をお知らせ下さい。関連するあらゆるリソースをご提供いたします。

選択された製品型名は現在購入可能です。以下のサポート情報を提供しています。

  • データシート 文書番号: リリースの日付
    DSA8300型データ・シート
    DSA8300型は優れた信号忠実度による測定/解析機能を持った高性能等価時間サンプリング・オシロスコープで、コミュニケーション信号解析、シリアル・データ・ネットワーク解析、シリアル・データ・リンク解析のアプリケーションに適しています。
    85Z-26988-21
  • マニュアル マニュアルの種類 部品番号: リリースの日付
    DSA8300 Series

    Digital Serial Analyzer Quick Start User Manual

    主要ユーザ 071289700
    DSA8300 and 80A00, 80C00, 80E00, 80N01, 80X00, 82A00 Sampling Modules

    Declassification and Security

    機密解除 077057604
    DSA8300 Digital Serial Analyzer, 80C00/80E00/80A00 modules

    Specifications

    性能検査 077057105
    DSA8300 and 80A00, 80C00, 80E00 Sampling Modules

    Performance Verification

    性能検査 077068205
    DSA83UP

    Upgrades for DSA8300 Instrument

    フィールド・インストール手順 075103703
    80SJNB

    Jitter, Noise, BER, and Serial Data Link Analysis Software for DSA8300; Help file (PDF)

    主要ユーザ 077064105
    DSA8300

    Printable Application Help

    オンライン・ヘルプ 077056904
    DSA8300

    Digital Serial Analyzer

    プログラマ 077057006
    DSA8300 Series

    Digital Serial Analyzer Quick Start User Manual

    主要ユーザ 071289705
    DSA8300 Series

    Digital Serial Analyzer Quick Start User Manual

    主要ユーザ 071289704
    80SJNB

    Jitter, Noise, BER, and Serial Data Link Analysis Software for DSA8300; Help file (PDF) Online Help

    主要ユーザ 077064104
    80SJNB

    Jitter, Noise, BER, and Serial Data Link Analysis Software for DSA8300; Printable Online Help Online Help

    主要ユーザ 077064103
    80SJNB

    主要ユーザ 077064102
    DSA8300

    Performance Verification Technical Reference

    性能検査 077068200
    DSA8300

    Digital Serial Analyzer and Modules Service Manual

    サービス 077057201
    DSA8300 CEI-VSR

    Application software instructions, printed Online Help

    オンライン・ヘルプ 077087200
    80SJNB

    Jitter, Noise, BER, and Serial Data Link Analysis Software for DSA8300; Printable Online Help Online Help

    主要ユーザ 077064101
    DSA8300 and Sampling Modules

    Performance Verification Technical Reference

    性能検査 077068202
    DSA8300 Digital Serial Analyzer

    Practices for Measurements on 25 Gb/s Signaling Application Note Other

    トレーニング/チュートリアル 071320701
    80X01 and 80X02

    Electrical Sampling Module Extender Instructions

    フィールド・インストール手順 071320600
    DSA8300 Series

    Digital Serial Analyzer Quick Start User Manual

    主要ユーザ 071289703
    DSA8300

    Digital Serial Analyzer Programmer Manual

    プログラマ 077057003
    DSA8300 Digital Serial Analyzer

    TekScope and Connectivity Software Installation Manual

    フィールド・インストール手順 071289804
    DSA8300

    Printable Application Help Online Help

    オンライン・ヘルプ 077056903
    DSA8300 Digital Serial Analyzer

    TekScope and Connectivity Software Installation Manual

    フィールド・インストール手順 071289803
    DSA8300

    Instrument software restore instructions Read This First

    フィールド・インストール手順 071316200
    DSA8300 Digital Serial Analyzer

    TekScope and Connectivity Software Installation Manual

    フィールド・インストール手順 071289802
    DSA8300, CSA/DSA/TDS8000 Series

    Differential Channel Alignment Application Online Help

    オンライン・ヘルプ 077077500
    DSA8300

    Printable Online Help Online Help

    オンライン・ヘルプ 077056902
    DSA8300 Series

    Digital Serial Analyzer Quick Start User Manual

    主要ユーザ 071289702
    DSA8300

    Digital Serial Analyzer Programmer Manual

    プログラマ 077057002
    80A00 and 82A00 Series

    Sampling Modules Read This First

    User 071138613
    DSA83UP

    Upgrades for DSA8300 Instrument Instructions

    フィールド・インストール手順 075103702
    DSA8300 and Sampling Modules

    Performance Verification Technical Reference

    性能検査 077068201
    DSA8300

    Digital Serial Analyzer Programmer Manual

    プログラマ 077057001
    DSA8300

    Printable Online Help Online Help

    オンライン・ヘルプ 077056901
    DSA8300

    Specifications Technical Reference

    性能検査 077057100
    DSA83UP

    Upgrades for DSA8300 Instrument Instructions

    フィールド・インストール手順 075103701
    DSA8300 Digital Serial Analyzer and Modules

    Sampling Oscilloscope Service Manual

    サービス 077057200
    DSA8300

    Digital Serial Analyzer Microsoft Windows 7 Operating System Restore Instructions

    フィールド・インストール手順 071289900
    DSA8300 Series, Rev A

    Digial Serial Analyzer Declassification and Security Instructions

    機密解除 077057600
    DSA8300 Series

    Digital Serial Analyzer Quick Start User Manual

    主要ユーザ 071289700
  • 技術情報 ドキュメントの種類 リリースの日付
    82A04型フェーズ・リファレンス・モジュールとTDS8200型/CSA8200型サンプリング・オシロスコープによる超低ジッタ特性
    当社では新製品のCSA8200型サンプリング・オシロスコープをベースに、82AO4型フェーズ・リファレンス・モジュールを組合わせ、ジッタ・フロアが200fSRMs未満という極めて低い測定を可能にしました。また同時に、高いアクイジション・レート、優れた信号忠実度、そして柔軟性の高い動作モードを実現しています。 
    アプリケーション・ノート
    オシロスコープ 選定ガイド
    テクトロニクスは、さまざまなアプリケーション、用途に対応したオシロスコープを数多くご用意しています。この選定ガイドでは、現在ご利用いた だけるさまざまな種類のオシロスコープの概要と、ニーズに合った正しいオシロスコープの選定の手助けになるよう、選定の際に考慮すべき主要性能や機能、各シリーズ間の主な違いをご説明しています。
    選択ガイド
    NRZとPAM4シグナリングのための 光帯域要件
    つい最近までは、光帯域と電気的帯域の測定結果にそれほど大きな違いは見られませんでした。ところが、近年IEEE規格が変更されたことで、状況に大きな変化が生じています。 このホワイト・ペーパでは、規格で使用されている用語の意味を明らかにするとともに、それぞれの用語の関係を数学的に示しながら、光チャンネルの光/電気的帯域を理解し、正しく計算するのに必要な基礎知識を紹介しています。
    ホワイトペーパー
    ジッタ測定に最適なプラットフォームの選択
    シリアル・デバイスで発生するジッタは、設計エンジニアや開発者にとって大きな問題となっています。ジッタは、システム性能に影響を与えるため無視できない問題です。一方、ジッタの検出・評価は容易ではありません。PCI ExpressやFibre Channelなどの標準規格に準拠するためにもジッタ許容値をクリアする必要があります。専門家の間では、ジッタはBER(ビット・エラー・レート)の異常発生を事前に知らせる役割があるとされています。ジッタが発生すると、アイ・ダイアグラムの開口部が小さくなるため …
    テクニカル・ブリーフ
    入門書オシロスコープのすべて
    この入門書では、初めてオシロスコープを使用する方を対象に、オシロスコープの基本的な機能および操作方法について説明しています。 聞きなれない用語が出てきましたら、本書の末尾の用語集でその意味を確認してください。本書には、オシロスコープの動作原理や操作についての用語テストや選択式問題が掲載されているので、教材としても適しています。数学やエレクトロニクスの知識は必要ありません。 この入門書では、以下の項目について説明します。 ■ オシロスコープの動作原理 ■ …
    入門書
    80SJNBのジッタ測定結果の相関関係
    80SJNBは、当社8000シリーズ・サンプリング・オシロスコーブ・フラットフォームにおいて、ジッタ、ノイズ、およびビット・エラー・レート( BER)を解析するアプリケーション・ソフトウェアです、 80SJNBは、ジッタおよびノイズをその主要成分に細かく分離できるので、デバッグ診断回報のようなコンプライアンス・テストの結果算出、そして高ビットレートのシリアル・データ・リンクで使用されるシステム成分の検証か可能になります 
    ホワイトペーパー
    見えない問題の検出に役立つ、シリアル・データTDR とS パラメータ測定のソリューション
    当社DSA8200 型は、TDR 性能の革新的な向上を実現し、真の差動S パラメータを提供します(最大50GHz)
    ファクト・シート
    シリアル・データ・リンク解析の理想的なソリューション
    1台でアイ・ダイアグラム、ジッタ、インターコネクト解析に対応Gbps超の高速シリアル規格では、伝送路における信号劣化が大きくなり、振幅およ びタイミング・マージンが急速に減少する一方、この問題に対処するためレシーバへ のFFE/DFEイコライザ採用が進んでいます。 DSA8200型デジタル・シリアル・アナライザは、各種モジュールおよびソフトウェア の組合せにより、アイ・ダイアグラムによるトランスミッタ特性評価はもちろんのこと、 差動TDRによる伝送路のインピーダンス評価、Sパラメータ計測 …
    ファクト・シート
    シリアル・データ・リンク解析
    シリアル・データ通信リンクはより高速なデータ・レートを目指して第二、第三世代に移行しつつあり、難しい設計を成功させるためにはすべてのリンクの詳細な解析が重要になってきました。トランスミッタ、チャンネル、レシーバ要素のモデルを持ったジッタ、ノイズ、BER解析ツールがあれば、次のような質問に答えることかできます:データ・レートが3Gbpsを超え、イコライゼーションが使われても、従来のリンクは適合するのか。ケーブル長が6mから10mになってもシステムは適合するのか …
    アプリケーション・ノート
    高速デジタル・シリアル解析
    この入門書は、小規模「システム」、つまり、マザーボード搭載のチップセットとハード・ディスク・ドライプ問のデータ交換などのアプリケーションで使用する個々のトランシーバーセットの検証をテーマにしています。ここで説明する測定方法は、あらゆる規模のシステムに適用される前提に基づいています。その前提とは、個々の要素は、その周辺にあるコンポーネントからの外部的な影響を切り離した場合、相互に作用するサブシステムを含む「ブラック・ボックス」よりも評価しやすいということです。 
    入門書
    TDRインピーダンス測定
    TDRインピーダンス測定 アプリケーション・ノート
    ファクト・シート
    テクトロニクス、HDMI 2.0のコンプライアンス・テスト/デバッグ・サポートを発表
    報道発表資料2014年6月16日新しい4Kビデオ・モニタ技術により、高速かつ再現性に優れた正確な測定を実現 テクトロニクス(代表取締役 米山 不器)は、最新HDMI ®2.0規格用の、テクトロニクス完全自動コンプライアンス・テスト/デバッグ・ソリューションのMOI(Method of Implementation:試験手順書)が、HDMIフォーラムに承認されたことを発表します。テクトロニクスのソリューションは、HDMI 2 …
    プレス・リリース
    テクトロニクス、PAM4のトータル解析ソリューションを発表
    New Measurement Tools Operate on both Real Time and Equivalent Time Oscilloscopes, Deliver Lowest Noise AcquisitionsBEAVERTON, Ore., Sept. 28, 2015 - Tektronix, Inc., the world's leading manufacturer of oscilloscopes, today announced the industry's …
    プレス・リリース
    100Gbps通信システムの物理レイヤ・テスト
    このアプリケーション・ノートでは、100Gシステム構築に必要なトランスミッタ/ レシーバのテストについて説明します。25+Gbpsのどのハイスピード・シリアル技術も同様の方式であるため、このアプリケーション・ノートでは100GbEのコンプライアンス要件にしたがって説明し、Fibre Channelの32GFCなどの高速レート・システムとの差異については、その都度説明します。25~28Gbpsの電気シグナリングなど、100GbE仕様に差異がある場合は、OIF-CE(I Optical …
    アプリケーション・ノート
    高速インターコネクト、特性評価、測定に基づいたモデリング
    最新の信号規格では、デジタル回路設計がギガヘルツ、ギガビット・レンジになり、信頼性の高いシステム動作の実現には、インターコネクトの性能が重要な要素となってきました。反射、クロストーク、周波数に依存するトランスミッション・ラインの損失、散乱などのシグナル・インテグリティ問題は、システム性能と信頼性を著しく低下させることがあります。これらのシグナル・インテグリティ問題の影響を測定し、シミュレーションし、正確に予測することは、正しく機能する回路設計のためには非常に重要です。これは …
    入門書
    Receiver Test Solution Application Fact Sheet
    Receiver testing poses one of the biggest challenges for designers who need to exercise and characterize emerging devices. This fact sheet presents the Tektronix Receiver Testing solution.
    ファクト・シート
    Remote Head Acquisition Improves High Speed Serial Measurement
    As high speed serial data rates continue to increase, the need to maximize margin in measurements increases. Coaxial cables, even good quality ones can impact the measurement margin. Remote heads for oscilloscopes provide clear advantages that …
    アプリケーション・ノート
    Ultralow drive voltage silicon traveling-wave modulator Paper (Optical Society of America)
    Silicon platforms are emerging as a commercial platform for integrated photonics. To integrate directly with on-chip electronics, drive voltages at or below 1 Vpp are desirable.In this paper from the Optical Society of America, the DSA8300 Series …
    テクニカル・ブリーフ
    Jitter Fact Sheet
    Regardless whether you need a quick clock jitter measurement, or a thorough analysis of a BER performance problem, Tektronix oscilloscopes and integrated software tools deliver. You can rapidly solve problems and meet your design goals and …
    ファクト・シート
    Finding and Examining Pattern-dependent Failures with FrameScan™ Acquisition Technology
    As bit rates increase to 10 Gbps and beyond, pattern-dependent failures become much more common in the generation, transmission, and reception of signals in various data and communication products and systems. Unfortunately with traditional test …
    アプリケーション・ノート
    Fast probe enhances advanced four-channel oscilloscopes
    製品資料
    Variations in 10 Gigabit Ethernet Laser Transmitter Testing Using Reference Receivers
    One of the key tools used by telecom/datacom original equipment manufacturers, system installers and system servicers to view eye patterns on an oscilloscope and test the quality of a laser’s time-domain signal is the reference receiver (RR). This …
    アプリケーション・ノート
    Storage Solutions Fact Sheet
    This technology fact sheet describes the key elements of the Tektronix SATA/SAS Testing Solution Support for SATA and SAS PHY Layer Testing for Hosts, Devices and Cables.
    ファクト・シート
    Semtech Turns to Tektronix DSA8300 Sampling Scope to Characterize New 25-28 Gb/s CDR Devices
    This customer case study illustrates the benefits that Tektronix DataCom test solutions deliver to characterize electrical performance of 100G technologies with the industry’s lowest intrinsic noise floor.     
    導入事例
    System Extends InfiniBand Cable Reach To 100 m
    製品資料
    SOLUTIONS FOR SCIENTIFIC AND ENGINEERING RESEARCH
    パンフレット
    Case Study: Freescale Semiconductor Uses Tektronix IConnect®
    ChallengeFreescale Semiconductor establishes a new approach to the usual methodology adopted in modeling a Transmitter. The transmitter was modeled using only one port (TDR) and assuming lossless Package and Board Transmission line.SolutionUnlike the …
    テクニカル・ブリーフ
    Case Study: Altera Finds Performance Validation of High-speed+ Configurable FPGA Required Flexible+ Power Test Instrument
    Read this customer testimonial from Altera on the performance of the CSA8200 sampling oscilloscope. 
    ファクト・シート
    HDMI/DVI Method Of Implementation (MOI)
    This document is the Procedures Guide for HDMI Sink Instruments Differential Impedance Measurements using the Tektronix TDS/DSA8200 and Sampling Module 80E04.
    MOI
    Test methodologies for high-speed serial designs
    製品資料
    Tests Show That Optical Infiniband Cable Performance Exceeds Copper
    テクニカル・ブリーフ
    TDR and S-parameter Measurements - How Much Performance Do You Need?
    In this paper you will read about the accuracy requirements for serial data network analysis debug, compliance, validation, and characterization applications. In addition you will learn how TDR-based measurement tools can provide you a quicker way to …
    アプリケーション・ノート
    Automation Answers Compliance Challenge
    Interoperability and compliance concerns are commanding an ever-larger share of the serial system designer's attention. Fully automated compliance solutions are the answer. They can implement consistent test regimes while attending to the details …
    ファクト・シート
    Analyzer modules provide complete 40/100-Gbit/s test solution
    製品資料
    Tektronix Helps Intel Break the 20 Gbps Cable Barrier Resulting in World’s Fastest and Longest Infiniband Cables
    Challenge - To help Intel develop and evaluate a new generation of 20 Gbps Infiniband optical cables for scaling out advanced computer clusters to distances of up to 100 metres. Solution - A Tektronix AWG7102 arbitrary waveform generator is used to …
    導入事例
    Tektronix unveils fastest scope probe yet
    製品資料
    PAM4 Signaling in High Speed Serial Technology: Test, Analysis, and Debug
    Learn valuable information on testing PAM4 technology and approaches for validating PAM4 signals.  This application note describes: PAM4 technology for 50-400G applications Provides details of PAM4 signaling Outlines important aspects of …
    アプリケーション・ノート
    FB-DIMM Compliance and Troubleshooting Solutions
    This Application Fact Sheet gives you a quick look at the tools available to you, to meet the demands of your FB-DIMM design challenges. Take a look.
    ファクト・シート
    Sequential-sampling scopes+ TDR challenge VNAs
    製品資料
    Eye Measurements on Optical RZ Signals
    This technical brief describes several automatic eye measurements for RZ signals contained in Tektronix' DSA8200 sampling oscilloscope. Examples of real signals are presented, as well as guidelines to ensure valid test results. A method of building …
    テクニカル・ブリーフ
    Equalization and Serial Data Link Analysis Methods (SDLA) with 80SJNB Advanced Application Note
    This application note describes test and measurement methodology used by serial data standards running on lossy/dispersive channels which close the eye diagram at the receiver, and where equalization (FFE/DFE) is used to to open the eye. Comparison …
    アプリケーション・ノート
    Extinction Ratio (ER) Calibrated White Paper
    This white paper explains some of the benefits of highly accurate ER measurements in both 10 GbE (Ethernet), with its relatively low ER requirement, and in SONET/ SDH , and the methodology that supports consistent, accurate ER result.
    ホワイトペーパー
    Effects of Infiniband Fixture Crosstalk on Synthesized Eye Diagram
    In working with Infiniband designs, the crosstalk that is created by attached fixtures may result in inaccurate eye diagram representation. This application note will take you through the process of de-embedding fixture crosstalk from synthesized …
    アプリケーション・ノート
    Tektronix Introduces Optical Modules with Industry’s Highest Sensitivity, Lowest Noise
    New Modules for DSA83000 Sampling Oscilloscope Increases Production Yields for 100G Designs; Tektronix adds comprehensive 400G PAM4 TDECQ Measurement_____BEAVERTON, Ore. March 21, 2017 - Tektronix, Inc., a leading worldwide provider of measurement …
    プレス・リリース
    Performing RIN and RIN OMA Measurements on the DSA8300 Sampling Oscilloscope
    Detailed information on the measurement of the RIN OMA for the purpose of 10 Gb/s Ethernet, IEEE 802.3ae and similar specifications is presented, using a Tektronix DSA8300 Sampling Oscilloscope.
    アプリケーション・ノート
    Practices for Measurements on 25 Gb/s Signaling
    This application note describes the measurement practices for the characterization and compliance test of the transmitter and receiver for 25+ Gb/s signaling in 100 G systems. Focus is on oscilloscope measurements, with some comments on BERTs.
    アプリケーション・ノート
    Next-Gen App Performs HDMI Compliance Tests
    製品資料
    Programmable Interface Changes Between Tektronix DSA8200 and DSA8300 Sampling
    This document contains the summary of changes to the Programmable Interface (PI).Comments on GPIB and TekVisa.  
    ホワイトペーパー
    Highly Reliable Testing of 10-Gb/s Systems (STM-64/OC-192)
    Meeting the Growing Need for BandwidthThe growth of the Internet, e-commerce, virtual private networks, IP telephony, and other data-centric applications, is prompting a demand for increased bandwidth. To keep up, network providers are being forced …
    アプリケーション・ノート
    Two good test probes are all you need
    テクニカル・ブリーフ
    Time Domain Methods for Measuring Crosstalk for PCB Quality Verification Application Note
    This application note discusses the elements of crosstalk and demonstrates how you can measure crosstalk on a single-layer PCB using the TDS8200 Series Sampling Oscilloscope or the CSA8200 Series Communications Signal Analyzer.
    アプリケーション・ノート
    TDR Impedance Measurements: A Foundation for Signal Integrity
    Achieve stable and accurate TDR results with Tektronix sampling oscilloscopes.At today’s high operating frequencies, anything that affects your signal’s rise time, pulse width, timing, jitter or noise content can impact reliability at the system …
    ファクト・シート
    2020 Tektronix and Keithley Product Catalog
    We have the right products to ensure your success. Browse our new Tektronix and Keithley Product Catalog and explore our complete line of test and measurement solutions. You’ll find over 130 pages of key product details and specifications …
    選択ガイド
  • This webinar reviews TDR basics and the ability to create S-parameters using TDR/TDT measurements to validate high speed channels for debug or de-embedding in a Serial Data Link Analysis …
    期間: 21m 50s
    Watch Tektronix experts as they provide a brief overview of test technologies being demonstrated on 100G components, transceivers and systems for the Datacom and Long Haul Networking Design …
    期間: 4m 37s
    With PAM4 moving into production and 400G design efforts in full swing, the test challenges around characterization, verification and debug, and manufacturing testing have never been greater. This …
    期間: 18m 33s
    Learn how more margin and higher yields are made possible with lowest optical noise, highest sensitivity solution available today. See comprehensive characterization – TDECQ accuracy and …
    期間: 1m 33s
    View this demonstration of interoperability at OFC2013 using Tektronix DSA8300 Sampling Oscilloscope and BSA286C BERTScope. Tektronix assisted the Optical Internetworking Forum (OIF) and member …
    期間: 4m 56s
    See how to conduct PAM-4 Analysis using PPG3204 Pattern Generator and DSA8300 Sampling Oscilloscope on multi-level eye diagrams.
    期間: 2m 6s
    Designing and developing 100G components, modules and systems requires the latest tools and techniques. In this video, you'll learn how to:Set up a complete system for active optical cable …
    期間: 2m 7s
    At this booth, we're demonstrating our DS8300 Digital Sampling Oscilloscope including new PAM4 software modules. 
    期間: 2m 10s
    At OFC 2018 it’s not just about speed but also interoperability both between standards and among equipment vendors. Here Tek’s Pavel Zivny showcases a demonstration system with a Tektronix DSA8300 …
    期間: 3m 27s
    During ECOC 2014, Tektronix demonstrated 56 Gb/s Eye Diagram analysis on a DSA8300 Sampling Oscillocope.
    期間: 2m 10s
    Watch Tektronix experts as they provide a brief overview of test technologies being demonstrated on 100G components, transceivers and systems for the Datacom and Long Haul Networking Design …
    期間: 2m 16s