ダウンロード

マニュアル、データシート、ソフトウェアなどのダウンロード:

ダウンロード・タイプ
型名またはキーワード

フィードバック

検索

フィルタの選択 Type

Product Support Center

Find the latest firmware, software, drivers, manuals, brochures. specifications and technical literature.

Learning Center

Learn how to use our equipment to troubleshoot system anomalies, provide measurement insights, debug EMI, and more.

TekTalk Community Forum

Ask questions, explore products and solutions and discuss with other TekTalk members, including Tektronix engineers.

検索結果

1 - 10 ヒット数 50
  • Keithley Series 2790 Airbag and Electrical Device Test System
    Products

    ケースレー2790型エアバッグ/電気デバイス・テスト・システム

    プログラム可能なソース: 50~500V、0~50mA 6.5桁の精密な測定 40チャンネル
  • S46T_CAT1_1
    Products

    ケースレーS46型RFマイクロ波スイッチング

    周波数帯域:40GHz 最大32スイッチ・チャンネル 終端あり及び終端なしスイッチ・バージョン
  • Keithley Parametric S530
    Products

    半導体テスタ|パラメトリック・テスト・システム

    ウエハレベルの自動テストに対応した標準/カスタム構成システム
  • カーブ・トレーサとI-Vカーブ・トレーサ・ソフトウェアとの比較
    Blog Entry

    カーブ・トレーサとI-Vカーブ・トレーサ・ソフトウェアとの比較

    カーブ・トレーサは、 ダイオード、トランジスタ、サイリスタなどの半導体デバイスの特性を解析して、I-V曲線をトレースするために 使用する基本的な電子テスト・デバイス です。 故障解析やパラメトリック特性評価などのデバイス信頼性用途でよく使用されます。 テクトロニクスは、1955年に真空管の特性曲線を表示する業界初のカーブ・トレーサを発表しました。長年にわたり、トランジスタ、ダイオード …
  • MOSFET I-V曲線の測定方法
    Blog Entry

    MOSFET I-V曲線の測定方法

    MOSFETが正しく機能し、仕様を満たしていることを確認する最良の方法の1つが、I-V曲線をトレースすることによって特性を決定する方法です。I-Vテストが必要な出力特性は多数あります。ゲートリーク電流、ブレークダウン電圧、スレッショルド電圧、伝達特性、ドレイン電流などはすべて、I-V特性をトレースし、デバイスの正常な動作を確認するだけで導き出すことができます。 ケースレーの …
  • Keithley機器および製品
    Product Category

    Keithley機器および製品

    先進的なケースレー製品およびアプリケーションでエンジニアをサポート 現在テクトロニクスの傘下にあるケースレーは、70年以上にわたり、高性能製品テスト、プロセス・モニタリング、製品開発および研究におけるエレクトロニクス製造業者の特殊なニーズに対応する高度な電気テスト機器およびシステムを設計、製造、および販売してきました。 ケースレーには、直流(DC)またはパルス電気信号のソース、測定、接続、制御、または通信に使用するための約500の製品があります。 ケースレーの顧客には、3Dセンシング …
  • 漏れ電流(リーク電流)測定方法|高電圧半導体デバイス
    Technical Document

    漏れ電流(リーク電流)測定方法|高電圧半導体デバイス

    ソース・メジャー・ユニット(SMU)と KickStartソフトウェアを使用した高電圧半導体デバイスのブレークダウンと漏れ電流測定 はじめに 長年の研究と開発により、シリコンカーバイド(SiC)と窒化ガリウム (GaN)系パワーデバイスは、より現実的な選択肢になりつつあります。SiCとGaNへのシフトは、新しいデザインを可能にしています。SiC はハイパワー・アプリケーション向けに高電圧で高電力を駆動する能力を備え、GaNは中低電力アプリケーション向けに超高電力密度を備えており …
  • 漏れ電流(リーク電流)測定方法|高電圧半導体デバイス
    Technical Document

    漏れ電流(リーク電流)測定方法|高電圧半導体デバイス

    ケースレーは、ハイパワー半導体デバイスのテストでは、長い歴史と多くのノウハウを持っております。最近、2470型1100Vグラフィカル・ソースメータを発売し、SiC及びGaNデバイス・テストにおける困難な測定に対応します。このアプリケーションノートでは、2470型ソースメータ及びKickStartソフトウェアを使用した、高電圧半導体デバイス試験のためのアプリケーションをご紹介します。
  • エレクトロメータとピコアンメータ|微小電流計
    Technical Document

    エレクトロメータとピコアンメータ|微小電流計

    ケースレー高抵抗/低電流電位計6500/6430シリーズ 最高レベルの感度を誇る電流/電荷測定機器 ケースレー6400シリーズ・ピコアンメータ 高速でコスト効率が高い低電流測定ソリューション ケースレーナノボルトメータ2182A型 …
  • USB 2.0物理レイヤ・テスト
    Technical Document

    USB 2.0物理レイヤ・テスト

    USB 2.0対応のデバイス設計、特性評価および動作確認に携わっているエンジニアは、製品の市場投入のスピードアップを日々迫られています。当社の測定パッケージでは、USB-IF (USB Implements Forum, Inc.) 推奨のすべてのコンプライアンス・テストが、すばやく、正確に実行できます。