ハイサイドVgsなどのフローティング差動測定は、周波数が高いため（高速のターンオン、ターンオフ）、またオシロスコープ用のプローブには高い周波数帯域で十分なコモンモード除去能力がないため、測定が困難、または測定できません。コモンモードの除去能力が十分にないと、測定値は実際の差動信号ではなく、コモンモードの誤差の影響を大きく受けます。

テクトロニクスには、GaN、SiCのデバイスの動作要件でも周波数性能が低下しない、唯一のソリューションである絶縁プローブ（ISOVu）があり、正確な差動測定が行えます。また、伝導損失、デッドタイム損失、スイッチング損失を正確に計算して実証できます。さらに、統合型のゲート・ドライバを使用していない場合、フローティング差動測定が行えるため、デバイスのオン／オフのデッドタイムを正確に測定して制御できます。また、ハード・スイッチングにおける過渡電圧（dv/dt）と過渡電流によるパワー・コンバータからの高周波放射の過大評価を回避できます。

IsoVuを使用した測定誤差の原因究明の例

電源効率、待機電力、高調波、EMIに関する規制および市場要件はますます厳しくなっています。プリコンプライアンスの実行は、後のコンプライアンス試験に合格するためにますます重要になっています。設計がコンプライアンスに不合格になった場合でも、市場投入までの時間と費用を節約できます。プリコンプライアンス・ソフトウェアを備えたパワーアナライザがあれば、正確な電源効率、高調波、待機電力が自動で測定できます。また、簡単で正確なEMIプリコンプライアンスのためには、プリコンプライアンス・ソフトウェアを備えたスペクトラム・アナライザも必要です。

手頃な価格のプリコンプライアンス・テストは簡単にセットアップでき、潜在的な問題を明らかにして、より高価なコンプライアンス・テスト施設でのテスト時間を最小限に抑えることができる