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DDR

PCIeテスト、検証、
デバッグ

最新規格に対応

PCI Expressは、任意の2つのポート間の全二重通信をサポートするパラレル・バス・アーキテクチャです。そうしたミックスド・シグナルの場合、信号を1つのデバイスから別のデバイスにきわめて低いエラー・レートで送信することが、トランスミッタ設計上の重要な鍵となります。

クラウド・コンピューティング、IoT、人工知能などに代表される次世代技術の台頭により、テスト環境は新たな問題に直面しています。PCI Express規格が第4世代(16.0GT/s)から第5世代(32.0GT/s)に進むにつれ、エンジニアはデータ・レートの倍増に不随する、さまざまな新しい検証の課題に直面しています。

  • チャンネル損失/シンボル間干渉(ISI)対策
  • マージンが少ないなど、制約が多い環境でも動作するシリコンとプラットフォームの設計
  • 物理層とプロトコル層の両方でのデバッグ

次世代の高速データ・レートやストレージ規格に対応するには、業界の専門家によって現世代の機能を設計、保守し続けると同時に、32.0 GT/sの性能を達成できるエンドツーエンドのソリューションを提供する必要があります。

テクトロニクスは、お客様のカスタムPCI Expressテストのニーズに合わせて柔軟に設計された包括的なソリューションを提供することで、ベース・シリコン、アドイン・カード/システム、組込み設計の検証を支援します。当社の自動化ソフトウェアにより、セットアップや校正といった処理を自動化できるため、テストの複雑さが大幅に軽減されます。最先端のテスト/測定ハードウェアと組み合わせることで、これらのソリューションは、迅速かつ正確な測定を実現しています。

  • トランスミッタ
  • レシーバ
  • リファレンス・クロック
  • 位相ロック・ループ帯域幅

第5世代トランスミッタのコンプライアンス・テスト

4.0規格からわずか2年後に、スタックの全レベルにおけるチップレベルの動作を記述したPCI Express 5.0 Base仕様がリリースされました。400G Ethernet、クラウドAIモデリング、NANDベースのストレージなどの需要に後押しされ、この新しい規格では、これまでで最速の32.0GT/sのシグナリング・レートが実現されました。

32.0GT/sのデータ・レートをサポートするトランスミッタを提供することは簡単なことではありません。ジッタや電圧の要求が厳しくなり、マージンも少なくなるためです。テクトロニクスのソリューションは、お客様の設計を正確かつ効率的に検証、デバッグ、最適化するために設計されています。

詳細:TekExpress PCIe(第5世代)Txコンプライアンス・テスト・ソリューション

第5世代レシーバのコンプライアンス・テスト

PCI Express GPU(Graphic Processor Unit)、ネットワーク・インタフェース・カード(NIC)、ストレージ・デバイス、サーバ、スイッチなどは、高損失チャネルにおいても低いエラー・レートで動作するようにレシーバを設計、調整しなければならないため、かつてない大きな課題に直面しています。こうしたハードルは、第5世代(32.0GT/s)のレートで動作するレシーバへの移行に伴い、ますます高くなっています。

テクトロニクスは、PCI-SIGワークグループのアクティブ・メンバとして、ストレス・アイ・キャリブレーション、ジッタ・トレランス・テスト、トランスミッタ/レシーバ・リンク・イコライゼーション・テストなどのレシーバ・テストに不可欠な、高度な専門知識の習得と維持に取り組んでいます。お客様は、当社の専門知識をご活用いただくことで、信頼性の高いテスト結果が得られます。

第1世代~第4世代トランスミッタの検証とコンプライアンス

すべてのエンジニアが、可能な限り高いデータ・レートを使用した設計を行っているわけではありません。当社の自動コンプライアンス・テスト・ソフトウェアは、2.5GT/sから32.0GT/sまでのPCI Expressトランスミッタの検証/コンプライアンス・ソリューションを提供し、すべてのデータ・レートに影響を与える仕様変更や技術変更通知(ECN)を取り入れることで、下位互換性を維持しています。

詳細:PCI Expressトランスミッタ・ソリューション・データ・シート