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DDR

DDRのテスト、検証、デバッグ

DDRメモリ・インタフェース

ダブル・データ・レート(DDR)メモリを使用するデバイスが増えています。ノートPC、コンピュータ、モバイル機器に始まり、現在では最先端のサーバ、自動車、クラウド・コンピューティング・アプリケーションへと移行しています。DDRシステムの性能をテストし、検証するのは難しいことですが、メモリ測定を想定して構築されたオシロスコープ、プローブ、テスト自動化ソフトウェアで測定ベンチをアップグレードすることにより、プロセスがよりシンプルかつ効率的になります。

DDR5

DDR3/4と比較した場合、DDR5では周波数帯域、密度、チャンネル効率が向上します。一方で、データ転送速度や信号速度が高速になるため、コンプライアンス、デバッグ、検証のために、より高度な性能測定が必要になります。

当社のTekExpress DDR5トランスミッタ・ソリューションは、最新のJEDECメモリ規格要件を満たしているため、メモリ設計の検証に十分に時間をかけることができ、データも短時間に収集できます。DDR5自動テスト・ソフトウェア・オプションは、MSO/DPO70000DX/SXシリーズ・オシロスコープでご利用になれます。

  • バースト状のDDRトラフィックのDFE解析が可能
  • リード/ライト・バーストの自動分離
  • SDLAによるディエンベッド技術

詳細:TekExpress DDR5トランスミッタ自動化ソリューション

詳細:TekExpress DDR5トランスミッタ・データ・シート

DDR Memory
DDR Memory Visual trigger

DDR4/LPDDR4

今日のデバイスでは、高速なデータ・レートと柔軟性を備えた実証済みの技術であるDDR4 DRAMが広く使用されています。しかし、設計がJEDEC規格に準拠していることを検証しなければならないのは言うまでもありません。DDRA/DDR-LP4自動テスト・ソフトウェア・オプションは、MSO/DPO70000C/DX/SX シリーズ オシロスコープでご利用になれます。

  • リード/ライトを容易に識別
  • DDR4またはLPDDR4仕様に準拠した自動セットアップ/テスト
  • テスト・レポートの自動作成
  • さまざまなインターポーザと高性能プローブに対応

詳細:DDRAメモリ・インタフェースの検証とデバッグ・データ・シート

DDR3/LPDDR3

DDR3、LPDDR3の設計では、JEDECの電気規格に対する振幅、タイミング、アイ・ダイアグラムのコンプライアンス検証測定が重要です。

自動テスト・パッケージは、広帯域のMSO/DPO70000C/DX/SXシリーズ・オシロスコープ、12ビットのA/Dコンバータを搭載した6シリーズMSOでご利用になれます。

どちらのプラットフォームも以下の機能を備えています。

  • リード/ライトを容易に識別
  • DDR3の仕様に準拠した自動セットアップ/テスト
  • テスト・レポートの自動作成
  • さまざまなインターポーザと高性能プローブに対応

6シリーズMSO:DDR3/LPDDR3の測定/解析データ・シート

MSO/DPO70000C/DX/SX:DDRAのメモリ・インタフェース検証/デバッグ・データ・シート

DDR3 LPDDR3