DAQ6510型データ・ロガー／データ収集システム

簡単にすばやくテストをセットアップし、実行できます。テスト・プログラムを作成する必要はありません。 DAQ6510型データ・ロガー／データ収集システムのタッチスクリーンにより、視覚的かつ直感的にテストをセットアップすることができます。リアルタイムなモニタリングにより、早期に問題を把握でき、、テスト時間の短縮やテスト・データの効率的な解析が可能になります。

特長

• 設定：1つの測定／スキャン・メニューを使用するだけで、複数の測定機能を備えたマルチチャンネル・スキャンのセットアップが可能
• 実行／モニタ：テスト中にスキャンの進行状況が表示されるため、範囲外やリミットを超過した測定項目があれば即座に確認が可能
• 解析：プロット機能や統計機能による測定結果の表示と解析。 タッチスクリーンのピンチ／ズーム機能により、測定結果を詳細に解析できる カーソルを使用することで、特定のセグメントのデータに対して統計値を計算することも可能

短い時間で大量のデータが収集できます。 すばやく測定し、すばやくチャンネルを切り替え、数多くのチャンネルをスキャンできます。

特長

• 0.0005PLC、または60Hz（50Hz）電源では8.3μs（10μs）
• マルチプレクサ・プラグイン・スイッチ・モジュールにより、毎秒800チャンネルの速度でスキャンが可能
• 最大80チャンネルの2極スイッチングによるスキャンが可能なため、1回のテストで膨大な数のサンプルを収集可能

LAN、LXI、USBインタフェースを標準装備しており、テスト・システムに簡単に統合できます。 フィールド・インストール可能なGPIBおよびRS-232インタフェースもオプションで用意されているため、6つのデジタルI/Oポートを使用した機器同士での直接同期や通信も簡単に行えます。 DAQ6510型は、どのようなPCインタフェースにもすばやく対応できます。

タッチスクリーン・ディスプレイを使用することで、膨大な数のデバイスを対象としたテストをすばやくセットアップできます。 テストが行われている間もテストのステータスをモニタできます。 グラフ形式または表形式で測定データがタッチスクリーン・ディスプレイに表示されます。

特長

• 1台のDAQ6510型メインフレームで1回セットアップを行うだけで最大80個のデバイスのテストが可能
• 必要に応じて、TSP-Link®インタフェースを使用して複数のDAQ6510型を接続し制御することで、チャンネル数の拡張が可能
• －200～1,820℃の温度のモニタが可能（8種類の熱電対、5種類のRTD、3種類のサーミスタを使用可能）
• リミットの設定、モニタするチャンネルの設定により、テスト中に発生した問題の検出が可能
• 重要なデータが失われないよう、外付USBメモリまたはPCにテスト・データを保存できる
• 電源回復後にDAQ6510型が再起動されるようにプログラムできるため、夜間や週末のテストなどで中断によって時間のロスを防止できる

DAQ6510型は、テスト・システムで一度にテストできるデバイスの数を増やせるため、テストのキャパシティを拡張できます。 高速な測定／スキャンが可能なDAQ6510型のメリットを生かせます。

特長

• テスト・システムのキャパシティを拡張（1つのテスト・システムで最大80個のデバイスに対応）
• 高速測定（積分時間：0.0005PLC）
• リレー・カードを使用することで、大量のDUTに対しても高速スキャンが可能（800チャンネル／秒）
• DAQ6510型に内蔵されたTSP機能を使用してプログラムを実行することで、DAQ6510型とPCとのデータのやり取りを最小限に抑えられる