お問い合わせ

テクトロニクス担当者とライブ・チャット: 午前6時~午後4時30分 PST

-

- 1-800-833-9200

全社でリモートワークをしております。 お問い合わせは右記お問い合わせ窓口(Web)をご利用ください。

ダウンロード

マニュアル、データシート、ソフトウェアなどのダウンロード:

ダウンロード・タイプ
型名またはキーワード

DAQ6510型データ・ロガー/データ収集システム

DAQ6510型は、操作性に優れた、タッチスクリーン式のユーザ・インタフェースを備えており、素早くテストをセットアップできたり、、テスト・ステータスをリアルタイムにモニタリングしながら、機器本体だけでデータを詳細に解析できます。

チャンネル数

80

測定機能

最大15種類

プラグイン・スイッチ・モジュール

12

感度

100nV
10pA
1µΩ

デジタイザ

1 MS/s
16 ビット

DAQ6510-displays

テスト・セットアップ/実行/解析時間の短縮

簡単にすばやくテストをセットアップし、実行できます。テスト・プログラムを作成する必要はありません。 DAQ6510型データ・ロガー/データ収集システムのタッチスクリーンにより、視覚的かつ直感的にテストをセットアップを簡単にすることができます。スキャンステータスのリアルタイムなモニタリングにより、早期に問題を把握でき、テスト時間の短縮やテスト・データの効率的な解析が可能になります。

特長

  • 設定:1つの測定/スキャン・メニューを使用するだけで、複数の測定機能を備えたマルチチャンネル・スキャンのセットアップが可能
  • 実行/モニタ:テスト中にスキャンの進行状況が表示されるため、範囲外やリミットを超過した測定項目があれば即座に確認が可能
  • 解析:プロット機能や統計機能による測定結果の表示と解析。タッチスクリーンのピンチ/ズーム機能により、測定結果を詳細に解析できる。カーソルを使用することで、特定のセグメントのデータに対して統計値を計算することも可能

豊富な測定機能

DAQ6510型は、6.5桁の分解能と15種類の測定機能を生かした高度な測定が行えます。低電流/低電圧/温度測定にも対応でき、内蔵デジタイザを使用してトランジェント信号も観測できます。

特長

  • 電圧:100nV~1,000V(基本DCV確度:0.0025%)
  • 電流:10pA~3A
  • 抵抗:1µΩ~120MΩ
  • 容量:0.1pF~100µF
  • 熱電対、測温抵抗体、サーミスタを使用した温度測定(-200~1,820℃)
  • デジタイザ(1MS/s、16ビット、読み値の保存容量:700万回)
  • 12種類のプラグイン・スイッチ・モジュールと最大80チャンネルにより、あらゆるテスト・システムに対応可能
DAQ6510_FrontwFeet_MeasurePlot 7700_Card_Stack 7708
Keithley Datalogger Dashboard

データをストリーミングしログ化することで、クラウドベースのデータ可視化を安全に実現

DAQ6510型からデータをストリーミングし、リアルタイムのIoTダッシュボードを作成し、どこからでもアクセス可能にすることで、データの可視化を実現できます。

特長

  • PCを使用しなくても、リアルタイムでどこからでもDAQ6510型から直接データ・ストリームの監視や記録が可能
  • 測定しきい値やその他の数学的なルールに基づいたトリガを使用することで、電子メールやテキストによるアラートの受信が可能
  • インストール不要で、どこからでもアクセスし、現在および過去のデータの可視化、アーカイブ、共有、変換、分析が可能。
  • ダッシュボードの作成による標準化および再現性や可読性の向上
  • 複数テスト全体のデータセットのオーバーレイ、時間相関、比較
詳細を見る

テスト時間の短縮

短時間に大量のデータが収集できます。すばやく測定し、すばやくチャンネルを切り替え、数多くのチャンネルをスキャンできます。

特長

  • 0.0005PLC、または60Hz(50Hz)電源では8.3μs(10μs)
  • マルチプレクサ・プラグイン・スイッチ・モジュールにより、毎秒800チャンネルの速度でスキャンが可能
  • 最大80チャンネルの2極スイッチングによるスキャンが可能なため、1回のテストで膨大な数のサンプルを収集可能
DAQ6510_TempChamberTestSetup172_10in
DAQ6510 DSubConnectorRemoval_4inTightcrop

DUTとのすばやく確実な接続が可能なインタフェース

DAQ6510型には、豊富なプラグイン・スイッチ・モジュールが用意されており、MTA、D-subなどを使用したテストも、すばやく効率的にセットアップできます。システム・メンテナンスや新しいテスト・システムのセットアップを行うときに、プラグイン・スイッチ・モジュールの変更に伴うダウンタイムが最小に抑えられます。

豊富なインタフェース・オプション

LAN、LXI、USBインタフェースを標準装備しており、テスト・システムに簡単に統合できます。フィールド・インストール可能なGPIBおよびRS-232インタフェースもオプションで用意されているため、6つのデジタルI/Oポートを使用した機器同士での直接同期や通信も簡単に行えます。 DAQ6510型は、どのようなPCインタフェースにもすばやく対応できます。

DAQ6510_Rear DAQ6510_OptionalInterface_iEEE488_4in_0 DAQ6510_OptionalInterfaceRS232_4in DAQ6510_OptionalInterfaceTSPLink_4in
Kickstart2.0_Datalogger Plot_012618

KickStartによる高速PC自動化テスト

KickStart PC制御ソフトウェアを使用すれば、PC上ですばやくデータ取得するためのプログラムを作成できます。ソフトウェアにはプログラミングの必要がありません。メニュー画面を使用してテスト・セットアップを入力するだけでテストを実行できます。測定が終わると、結果は表形式とグラフ形式で表示されます。

DAQ6510_App-4

環境/加速度寿命試験を確実に実行可能

タッチスクリーン・ディスプレイを使用することで、膨大な数のデバイスを対象としたテストをすばやくセットアップできます。テストが行われている間もテストのステータスをモニタできます。グラフ形式または表形式で測定データがタッチスクリーン・ディスプレイに表示されます。

特長

  • 1台のDAQ6510型メインフレームで1回セットアップを行うだけで、最大80個のデバイスのテストが可能
  • 必要に応じて、TSP-Link®インタフェースを使用して複数のDAQ6510型を接続し、制御することで、チャンネル数の拡張が可能
  • -200~1,820℃の温度のモニタが可能(8種類の熱電対、5種類のRTD、3種類のサーミスタを使用可能)
  • リミットの設定、モニタするチャンネルの設定により、テスト中に発生した問題の検出が可能
  • 重要なデータが失われないよう、外付USBメモリまたはPCにテスト・データを保存可能
  • 電源回復後にDAQ6510型が再起動されるようにプログラムできるため、夜間や週末のテストなど、中断による時間のロスを防止できる

コスト効率に優れた低抵抗コンポーネント・テストが可能

DAQ6510型により、ケーブル、低抵抗、コネクタなどのコンポーネントを優れた確度と信頼性でテストできます。

特長

  • 高感度(1μΩ)測定
  • 4線抵抗機能により、テスト・リードによる抵抗誤差を解消
  • オフセット補正による接触熱による誤差の解消
DAQ6510_App-5
DAQ6510_App-6

製造テストにおけるキャパシティの拡張とスループットの向上

DAQ6510型は、テスト・システムで一度にテストできるデバイスの数を増やせるため、テストのキャパシティを拡張できます。高速な測定/スキャンが可能なDAQ6510型のメリットを生かせます。高速な測定/スキャンが可能なDAQ6510型のメリットを生かせます。

 

特長

  • テスト・システムのキャパシティを拡張(1つのテスト・システムで最大80個のデバイスに対応)
  • 高速測定(積分時間:0.0005PLC)
  • リレー・カードを使用することで、大量のDUTに対しても高速スキャンが可能(800チャンネル/秒)
  • DAQ6510型に内蔵されたTSP機能を使用してプログラムを実行することで、DAQ6510型とPCとのデータのやり取りを最小限に抑えられます。
データ・シート モジュール 概要 構成/見積り
データシート 7700 20チャンネル・マルチプレクサ 構成/見積り
データシート 7701 32チャンネル差動マルチプレクサ 構成/見積り
データシート 7702 40チャンネル差動マルチプレクサ、SC付き 構成/見積り
データシート 7703 32チャンネル高速差動マルチプレクサ 構成/見積り
データシート 7705 40チャンネル制御モジュール 構成/見積り
データシート 7706 オールインワンI/Oモジュール 構成/見積り
データシート 7707 マルチプレクサ・デジタルI/Oモジュール、25ピン付き 構成/見積り
データシート 7708 40チャンネル差動マルチプレクサ・モジュール 構成/見積り
データシート 7709 6×8マトリックス・モジュール、25および50ピンFe付き 構成/見積り
データシート 7710 20チャンネル60Vソリッド・ステート・マルチプレクサ・カード 構成/見積り
データシート 7711 2 GHZ、デュアル1×4、50 Ωマルチプレクサ・カード 構成/見積り

付属品

  • 1757 — ペア、汎用テスト・リード・セット、1000V Cat II
  • USB-B-1 — USBケーブル、Type A-Type B、1m、校正証明書、3年保証

オプション・インタフェースおよびプログラマブル・デジタルI/O

  • KTTI-RS232 — RS-232通信/デジタルI/Oアクセサリ(ユーザによるインストールが可能)
  • KTTI-GPIB — GPIB通信/デジタルI/Oアクセサリ(ユーザによるインストールが可能)
  • KTTI-TSP — TSP-Link通信/デジタルI/Oアクセサリ(ユーザによるインストールが可能)

利用可能なアクセサリ

テスト・リード、プローブ

  • 1752 — プレミアム安全テスト・リード・キット
  • 1754 — 2線汎用テスト・リード・キット(10個)
  • 1756 — 汎用テスト・リード・キット
  • 5804 — ケルビン(4線)汎用テスト・リード・キット(10個)
  • 8610 — 低熱ショート・プラグ

PC用通信インタフェースおよびケーブル

  • KPCI-488LPA — IEEE-488インタフェース(PCIバス)
  • KUSB-488B — IEEE-488 USB-GPIBインタフェース・アダプタ
  • USB-B-1 — USBケーブル、Type A-Type B、1m
  • 174694600 — TSP-Link/Ethernet用CAT5クロス型ケーブル
  • 7007 — シールド付GPIBケーブル

アダプタ

  • DB9-MM — 9ピン、D-sub、インタフェース・オプション用Ma-Maコネクタ

トリガ/コントロール

  • 8503 — DIN-BNCトリガ・ケーブル

ラック・マウント・キット

  • 4299-8 — 固定ラック・マウント・キット、シングル
  • 4299-9 — 固定ラック・マウント・キット、デュアル
  • 4299-10 — 固定ラック・マウント・キット、デュアル。 1つはDAQ6510型用、1つは26xxBシリーズ用
  • 4299-11 — 固定ラック・マウント・キット、デュアル。1つはDAQ6510用、1つは2400/2000シリーズ用など

交換用ヒューズ

  • FU-99-1 — 電流入力ヒューズ、3A、250V、速断型、5×20mm
  • FU-106-1.25 — 電源入力ヒューズ、1.25A、250V、スローブロー

利用可能なサービス

延長保証

  • DAQ6510-EW — 工場保証期間3年を出荷日から4年間に延長
  • DAQ6510-5Y-EW — 工場保証期間3年を出荷日から5年間に延長
  • プラグイン・モジュールの保証についてはデータ・シートを参照

校正契約

  • C/DAQ6510-3Y-DATA KeithleyCare — 3年間の校正/データ・プラン
  • C/DAQ6510-5Y-DATA KeithleyCare — 5年間の校正/データ・プラン
  • C/DAQ6510-3Y-STD KeithleyCare — 3年間の標準校正プラン
  • C/DAQ6510-5Y-STD KeithleyCare — 5年間の標準校正プラン

Control your instruments from your PC

Drive innovation through faster test & measurement with KickStart Software. KickStart instrument control software for the PC enables quick test setup, text execution and data visualization. By plotting data immediately and offering quick statistical summaries of the data in the reading table, KickStart allows you to gather insights faster and make the decisions you need to make.

  • Run tests on multiple types of bench instruments independently or simultaneously
  • Auto export data for long term logging
  • Replicate tests quickly using saved test configurations
  • Use built-in plotting, comparison and statistical tools to quickly discover measurement anomalies and trends
  • Configure tests using simulated instruments and swap in real instruments when available
See How