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ケースレー光ソースメータ

ケースレー機器を利用すると、レーザ・ダイオード・モジュールをコスト効率よくテストできるLIV(光電流電圧)システムを簡単に構築できます。

  • 2502型ファイバ調芯用光ダイオードメータ :ハイスピード・アナログ出力により、ファイバ調芯段階でのLIVテストが可能
  • パルス・レーザ・ダイオード・テスト・システム(2520/KIT1型積分球オプション) :パルス/連続LIVテスト用の印加/測定機能を備えた同期テスト・テスト・システム
    注意:この製品をEU諸国に発送することはできません。 詳細
  • TECソースメータ、2510型および2510-AT型 :レーザ・ダイオード・モジュールの熱電冷却器を制御することにより、温度の厳格な制御が可能

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Keithley Optical SourceMeter Instruments

特長

利点

アクティブな温度制御 温度の変動を防止します。温度が変動すると、レーザ・ダイオードの主出力波長に変化が生じ、信号のオーバーラップやクロストークの問題に発展する可能性があります。
50 W TECコントローラ テスト速度や温度設定点レンジが他の低パワー・ソリューションよりも優れています。
フル・デジタルP-I-D制御 温度の安定度が高く、単純なファームウェアの変更により簡単にアップグレードできます。
熱制御ループのオートチューニング機能(2510-AT型) P、I、Dの各係数の最適な組み合わせを決定する際に、試行錯誤の実験は不要です。
広い温度設定点レンジ(–50℃~+225℃)と優れた設定点分解能(±0.001℃)と安定度(±0.005℃) 冷却光コンポーネント/サブアセンブリの製造テストのほとんどの要件を満たします。
さまざまな温度センサ入力(サーミスタ、RTD、ICセンサ)に対応しています。 幅広いレーザ・ダイオード・モジュールで一般に使用される各種温度センサに対応しています。
AC抵抗測定機能 TECデバイスのインテグリティを検証できます。
温度フィードバック要素の4線オープン/ショート・リード検知 測定値のリード抵抗誤差をなくして、疑似故障やデバイス損傷の可能性を低減します。
型名 チャンネル数 最大電流ソース/測定レンジ 最大電圧ソース/測定レンジ 電源 測定分解能(電流/電圧) 価格
2510. 1 5A 10V 50W - US $6,390
構成と見積り
2510-AT 1 5A 10V 50W - US $7,510
構成と見積り
2502 2 20mA 100 V 2 W 1 fA US $10,200
構成と見積り
2520. 1 5A 10V 50W 700 nA/0.33 mV US $28,400
構成と見積り
型名 チャンネル数 最大電流ソース/測定レンジ 最大電圧ソース/測定レンジ 電源 測定分解能(電流/電圧) 価格
2510. 1 5A 10V 50W - US $6,390
構成と見積り
2510-AT 1 5A 10V 50W - US $7,510
構成と見積り
2502 2 20mA 100 V 2 W 1 fA US $10,200
構成と見積り
2520. 1 5A 10V 50W 700 nA/0.33 mV US $28,400
構成と見積り
アクセサリ 2000-BENCHKIT
データシート 概要
マルチ・モデル・ベンチ変換キット
アクセサリ 2510-CAB
データシート 概要
ケーブル・アセンブリ
アクセサリ 4288-1
データシート 概要
シングル固定ラック・マウント・キット
アクセサリ 4288-2
データシート 概要
デュアル固定ラック・マウント・キット
アクセサリ 4288-5
データシート 概要
ラック・キット
データシート アクセサリ 概要
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