ケースレー自動特性評価スイート（ACS）ソフトウェア
特性評価アプリケーションに最適なプログラミング設定による優れた柔軟性
ACSは、グラフィカル・ユーザ・インタフェースを備えた独立したツールであるScript Editorを装備しており、遠隔操作、データ解析、システム自動化を実行するPythonコードやTSP®スクリプトを開発できます。GUIデザインの作成／開発やユーザ・ライブラリ／モジュールの管理を直感的に行うことができます。
データ収集プロセスの自動化
ACSのウエハ・プローバ自動化オプションを使用することで、さまざまなタイプの半自動／全自動ウエハ・プローバに対応できるため、簡単にテストをセットアップでき、大量のデータをすばやく取込むことも可能です。このオプションには、ウエハ記述ユーティリティ、ビニング機能を備えたリアルタイム・ウエハ・マップ、カセット・サンプル・プラン・ユーティリティ、テスト後のカセット／ウエハ・レビュー・ユーティリティが含まれています。ACSに組み込まれた多くのツールや機能を活用することで、デバイスの自動特性評価機能を拡張できます。
テスト・プロジェクト／テスト結果の共有
ACSは、さまざまなハードウェア構成に共通する各種の主要な要素を提供しているため、作業時間の短縮と生産性の向上を実現します。あるハードウェア実装から別のハードウェア実装まで、一貫性のあるシステムの運用が可能なため、ある1つのデバイス・コンポーネントの特性評価でACSベースのシステムを使用した経験があれば、ウエハ・レベルのテスト用に設計された別のシステムにも簡単に対応できます。
ケースレー・ハードウェアの生産性の向上
ACSのツールは、テスト開発を簡素化し、システムにリンクされているすべてのケースレー機器の速度を最大化します。ACSとケースレーのTSPベースのハードウェアを組み合わせることで、新しいプログラミングの概念や言語の学習に時間を費やすことなく、目標を達成するために必要なデータを取得できます。その結果、テストのコストを削減でき、業界最高のテスト・スループットが達成できます。
| 型名 | 概要 | 価格 |
|---|---|---|
| ACS-BASIC | ACS Basicエディションは、主に手動プローブ・ステーションまたはテスト・フィクスチャによる半導体コンポーネント・テスト向けです。初期デバイス特性評価を"トレース・モード"で迅速かつインタラクティブに行うことができます。また、GUIベースのセットアップ画面および広範な測定ライブラリを使用して、詳細なパラメータ抽出テストを作成できます。 |
US $2,900 構成と見積り |
| ACS. | ACSは、ウエハ全体を対象として半導体デバイスの測定を実行できるよう広範な半自動／全自動プローバをサポートしています。 また、プローバをインタラクティブに制御して個々のデバイスをテストできます。 実行時に個別デバイスの結果および複数デバイスの統計に基づいてテスト進捗を監視できます。 |
US $18,000 構成と見積り |
ラボからファブまであらゆるアプリケーションに対応
ACSベースの統合テストシステムは、パラメトリック・ダイ・ソート、ハイパワー半導体コンポーネントの特性評価、ウエハ・レベルの信頼性テストなどのアプリケーションに最適なソリューションです。半自動／全自動プローバと適切に組み合わせることで、ハードウェアのコンフィグレーションやテスト・プロジェクトの開発を、特定のタスクに合わせて簡単に最適化できます。
GaN HEMTのI-V特性評価のための電源シーケンス
GaN HEMTは「ノーマリーオン型」の特性を持つため、I-Vの特性評価を行う場合に特定の電源シーケンスを必要とします。ACSソフトウェアは、デバイスのGaN HEMT特性評価に必要な電源シーケンスをサポートしているため、デバイスにダメージを与えることなく固有のI-V特性を測定できます。
半導体ワークフロー全体に対応したアプリケーションを提供
ACS Basic EditionおよびACS Standard Editionソフトウェアは、半導体ワークフロー全体に対応した広範なテストを実施できるため、半導体デバイスの詳細な特定評価に最適です。ACS BasicおよびACS Standardが統合されたテスト・システムは、以下の特長を備えています。
- デバイス、ウエハ、カセット・レベルでのテスト
- 柔軟なコンフィグレーション、ソフトウェア、アプリケーションのカスタマイズ
- インタラクティブで自動化されたシステム操作
- GUIツールとスクリプト・ツールの強力な組み合わせによるテスト・モジュール開発
開発フェーズ
ACS Basic Editionソフトウェアは、コンポーネントおよびディスクリート（パッケージ化された）半導体デバイスのパラメトリック・テストに最適です。このソフトウェアは、研究開発に携わる技術者やエンジニアの生産性の向上に役立つ各種の機能を備えています。
- パッケージ化されたデバイス（MOSFET、BJT、IGBT、ダイオード、抵抗器など）用に設計
- 豊富なテスト・ライブラリ・セットが用意されており、プログラミングなしで迅速かつ簡単にテストのセットアップと実行が可能
- データ解析ツールを内蔵しており、パラメトリック・データの迅速な解析が可能
- ケースレーの2600Bシリーズ（2604B型、2614B型、または2634B型）、2400シリーズ、2651A型、および2657A型システム・ソースメータをサポート
統合フェーズ
ACS Standard Editionソフトウェアは、堅牢なプロセス開発やウエハ・レベルの信頼性（WLR）などの半自動ウエハ・テストを統合するフェーズで使用されます。このソフトウェアは、SMU-per-pin方式のシステム・レベル・テストに使用できます。ACS WLRソフトウェアには、以下のような特長があります。
- 個々のウエハまたはカセット全体をテストする完全自動化機能
- 柔軟なテスト・セットアップと並列テストに対応したソフトウェア
- JEDECの標準テスト手法に準拠した信頼性テスト・モジュール（RTM）
- カスタマイズされたテスト・モジュール／手順の作成が可能
製造フェーズ
ACS Standard Editionソフトウェアは、プロセス制御監視（PCM）、ウエハ受入テスト（WAT）、ダイ・ソートなどが完全に統合され自動化されたラックベースのパラメトリック・テスタでも使用されます。ACSに組み込まれた多くのツールや機能を活用することで、デバイスの自動特性評価機能を拡張できます。
- ウエハ／カセット・レベルの自動化
- デバイス／テストをサイト／サブサイトにマップするテスト・マップ
- インタラクティブなプローバ制御モード
- 単一またはウエハ単位のケースレー・データ・ファイル
アクセサリ
ACS-2600-RTM
データシート
概要
ACS向け信頼性テスト・オプション
| データシート | アクセサリ | 概要 |
|---|---|---|
| 表示（View） データシート | ACS-2600-RTM | ACS向け信頼性テスト・オプション |