半導体試験システム（ケースレー）

材料、半導体プロセス／デバイスの電気特性評価に対応した完全統合型ソリューション

ハイパワー半導体デバイスの特性評価に対応した完全なソリューション

ウエハ・レベルの自動テストに対応した標準／カスタム構成システム

半導体デバイスのテストに特化した低電流スイッチング

半導体デバイスの特性評価、信頼性テスト、パラメトリック・テスト、およびコンポーネント・テストに対応しています。