ケースレー超高感度電流ソース6200シリーズ

6220型DC電流ソースと6221型AC/DC電流ソースは、電流ノイズがきわめて低く、使い勝手に優れています。 低電流ソースは、半導体、ナノテクノロジ、超電導体業界をはじめとして、研究開発から製造に至るまでの幅広いテスト環境で重要となります。 高確度な電流ソースおよび内蔵の制御機能を持つ6220型と6221型は、ホール測定、デルタ・モードによる抵抗測定、パルス測定、微分コンダクタンス測定などの用途に適しています。

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特長

利点

10 14 Ωの出力インピーダンス さまざまな出力インピーダンスを持つ負荷に安定した電流を供給できます。
65000ポイント・ソース・メモリ 包括的なテスト電流スイープを電流ソースから直接実行できます。
0.1 V~105 V(10 mVステップ)の出力電圧コンプライアンス 過電圧に弱いデバイスの損傷を防止します。
4 pA~210 mA P-PのソースAC電流(6221型) コンポーネント/材料のAC特性評価に対応しています。
10 MHzの出力更新レート(6221型) 最大100 kHzの滑らかな正弦波を生成できます。
1 mHz~100 kHzの周波数レンジに対応した標準/任意波形ジェネレータを内蔵(6221型) 複雑なプログラマブル負荷/センサ信号として使用したり、ノイズ・エミュレーション用として使用したりすることができます。
5 μsレベルのプログラマブル・パルス幅(6221型) 壊れやすい低電力コンポーネントの電力消費を制限したり、2182A型ナノボルトメータと組み合わせて50 μsレベルでパルスI-V測定を実行したりすることができます。
再構成可能なトライアキシャル出力 該当する用途のガード要件を満たすよう簡単に調整できます。
型名 電流 抵抗 掃引点 PCインタフェース 内部波形ジェネレータ 価格
6220 ±(100 fA~100 mA)

10 nΩ~200 MΩ(2182A型が必要)

65,536(64k) GPIB、RS-232 - US $4,780
構成と見積り
6221 ±(100 fA~100 mA)

10 nΩ~200 MΩ(2182A型が必要)

65,536(64k) GPIB、RS-232、Ethernet 1 mHz~100 kHz、10 MS/sの出力更新レート US $6,410
構成と見積り
型名 電流 抵抗 掃引点 PCインタフェース 内部波形ジェネレータ 価格
6220 ±(100 fA~100 mA)

10 nΩ~200 MΩ(2182A型が必要)

65,536(64k) GPIB、RS-232 - US $4,780
構成と見積り
6221 ±(100 fA~100 mA)

10 nΩ~200 MΩ(2182A型が必要)

65,536(64k) GPIB、RS-232、Ethernet 1 mHz~100 kHz、10 MS/sの出力更新レート US $6,410
構成と見積り
アクセサリ 2000-BENCHKIT
データシート 概要
マルチ・モデル・ベンチ変換キット
アクセサリ 237-ALG-15
データシート 概要
表示(View) データシート 低ノイズ3軸ケーブル、15 m
アクセサリ 237-ALG-2
データシート 概要
3スロット・トライアキシャル・ケーブル(ワニ口クリップ付)
データシート アクセサリ 概要
表示(View) データシート 2000-BENCHKIT マルチ・モデル・ベンチ変換キット
237-ALG-15 低ノイズ3軸ケーブル、15 m
表示(View) データシート 237-ALG-2 3スロット・トライアキシャル・ケーブル(ワニ口クリップ付)
Model 4288-2 Dual Fixed Rack Mounting Kit
The Model 4288-2 Dual Fixed Rack Mounting Kit includes all of the hardware necessary for side-by-side rack mounting of two instruments, including Series 2000, 2182A, Series 2300, Series 2500, 2700, 2701, 6220, 6221, 6485, 6487, 6514, or 6517B.

文書番号: PA-290C
Datasheet 12 Jan 2020
Model 237-ALG-2 Triaxial Cable
The Keithley Instruments Model 237-ALG-2 is a 6.6 ft (2 m) triaxial cable that is terminated with a three-slot male triaxial connector on one end and alligator clips on the other end.

文書番号: PA-298D
Datasheet 12 Jan 2020
Model 6220 DC Current Source and Model 6221 AC and DC Current Source
Datasheet 12 Jan 2020
Keithley I/O Layer - version C07 (Windows 8, 7, Vista, and XP Compatible)
Keithley I/O Layer version C07 (KIOL-850C07 adds a change to only send the :syst:rem command to RS-232 connections This release replaces previous versions of KIOL-850B07, KIOL-850C02, KIOL-850C03, KIOL-850C04, KIOL-850C05, KIOL-850C06). This version

部品番号: KIOL-850C07
Software 27 Dec 2019
Guide to Measuring New Materials and Devices
ハンドブック 26 Dec 2019
SOLUTIONS FOR SCIENTIFIC AND ENGINEERING RESEARCH

文書番号: 55W_30503_2
パンフレット 26 Dec 2019
The Emerging Challenges of Nanotechnology Testing
技術資料 26 Dec 2019
Advances in Electrical Measurements for Nanotechnology E-Handbook
Rev 3.13
ファクト・シート 26 Dec 2019
Achieving Accurate and Reliable Resistance Measurements in Low Power and Low Voltage Applications
ホワイトペーパー 26 Dec 2019
#2611 Low-Level Pulsed Electrical Characterization with the Model 6221/2182A Combination
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Low-Voltage Measurement Techniques
技術資料 26 Dec 2019
Pulse Testing for Nanoscale Devices
技術資料 26 Dec 2019
Making Precision Low Voltage and Low Resistance Measurements E-Handbook
ファクト・シート 26 Dec 2019
Precision, Low Current Sources for Device Testing and Characterization
パンフレット 26 Dec 2019
Problem: Noisy Readings in Low Resistance Measurements
技術資料 26 Dec 2019
Problem: Errors in Low Resistance Measurements
技術資料 26 Dec 2019
Problem: Noisy Readings in High Resistance Measurements
技術資料 26 Dec 2019
Problem: Reading Drift in Low Resistance Measurements
技術資料 26 Dec 2019
Problem: Error in Low Voltage, Low Current Measurements
技術資料 26 Dec 2019
#2615 Determining Resistivity and Conductivity Type using a Four-Point Collinear Probe and the Model 6221 Current Source
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Applications Guide - Techniques for Multi-Channel Testing and Data Acquisition
ファクト・シート 26 Dec 2019
Advances in Electrical Measurements for Nanotechnology
Rev 3.15.13
ハンドブック 26 Dec 2019
New Instruments Can Lock Out Lock-ins
ホワイトペーパー 26 Dec 2019
New dG Measurement Methods Reveal Nanodevice Characteristics Faster, at Lower Cost
技術資料 26 Dec 2019
New Materials and Devices E-Guide
パンフレット 26 Dec 2019
Low Voltage/ Low Resistance Measurements
製品選択ガイド 26 Dec 2019
Models 6220 Current Source Specifications Rev. B
Model 6220 Programmable Current Source Specifications Rev. B

文書番号: SPECS-6220B
項目 26 Dec 2019
MODEL 6221 AC AND DC CURRENT SOURCE INSTRUMENT SPECIFICATION
MODEL 6221 AC AND DC CURRENT SOURCE INSTRUMENT SPECIFICATION REV C

文書番号: SPEC-6221C
項目 26 Dec 2019
Keithley Pulse Solutions
パンフレット 26 Dec 2019
An Improved Method for Differential Conductance Measurements
ホワイトペーパー 26 Dec 2019
Hall Effect Measurements in Materials Characterization
ホワイトペーパー 26 Dec 2019
Hall Effect Measurements Essential for Characterizing High Carrier Mobility
技術資料 26 Dec 2019
Discover Today's Solutions for Tomorrow's Nano Characterization Challenges
パンフレット 26 Dec 2019
Optoelectronics Test Selector Guide
製品選択ガイド 26 Dec 2019
Optimizing Low-Current Measurements and Instruments
ホワイトペーパー 26 Dec 2019
Unraveling Fuel Cell Electrical Measurements
技術資料 26 Dec 2019
AC Versus DC Measurement Methods for Low-power Nanotech and Other Sensitive Devices
技術資料 26 Dec 2019
E-Handbook to Understanding Electrical Test and Measurement
ファクト・シート 26 Dec 2019
Characterizing Nanoscale Devices with Differential Conductive Measurements
技術資料 26 Dec 2019
Electrical Measurements on Nanoscale Materials
技術資料 26 Dec 2019
Models 6220 Current Source Specifications Rev. B Manual
User Manual

部品番号: SPEC-6220B
Manual 25 Dec 2019
MODEL 6221 AC AND DC CURRENT SOURCE INSTRUMENT SPECIFICATION

部品番号: SPEC-6221C
Manual 25 Dec 2019
Keithley Instruments Safety Precautions
Safety Precautions PA

部品番号: 071341102
Manual 26 Nov 2019
Model 6220 DC Current Source Model 6221 AC and DC Current Source User's Manual

部品番号: 622X-900-01C
Manual 26 Nov 2019
Model 6220 DC Current Source Model 6221 AC and DC Current Source Reference Manual

部品番号: 622X-901-01C
Manual 26 Nov 2019
High Impedance Semiconductor Resistivity and Hall Effect Test Configurations
パンフレット 26 Nov 2019
Install v2.7 of the Free Example Software for the Models 6220/6221.
Install v2.7 of the Free Example Software for the Models 6220/6221.

部品番号: 6220-EXMPL-2.7
Software 12 Nov 2019
Keithley I/O Layer version C10 (Windows 10, 8, 7 Compatible)
Keithley I/O Layer version C10 (KIOL-850C10 adds support for Windows 10 Operating System and installs NI-VISA Runtime 17.5 and NI-ICP 17.0. This release replaces previous versions of KIOL-850B07, KIOL-850C02, KIOL-850C03, KIOL-850C04, KIOL-850C05, KI

部品番号: KIOL-850C10
Software 12 Nov 2019
Flashwizard version C12 (Windows 7, Vista, XP, Win2K, NT, ME, 98 Compatible)
Flashwizard executable version C12 (Windows 7, Vista, XP, Win2K, NT, ME, 98 Compatible)

部品番号: FLASH-WIZARD-C12
Software 12 Nov 2019
6220/6221 Firmware revision A04
6220/6221 Firmware revision A04

部品番号: 6221-801A04
Software 12 Nov 2019
6220/6221 Firmware Revision A05
6220/6221 A05 Firmware Installation Package

部品番号: 6221-801A05
Software 12 Nov 2019
622x Native LabView 2009 Driver version 1.0.0 - Project Style
6220 & 6221 Native LabView 2009 Driver version 1.0.0 - project style.

部品番号: 622X-LV-1.0.0
Software 12 Nov 2019
6220/6221 IVI Driver for Visual Basic (VB), VC/C++, Labview (LV) and LabWindows CVI, Rev. B01.1 (6.4Mb) - Requires Installation of Keithley I/O Layer (KIOL-850)
6220/1 IVI Driver Rev. B01.1

部品番号: 622X-855B011
Software 12 Nov 2019
6220/6221 Firmware Revision D03
6220/6221 D03 Firmware Installation Package (READ RELEASE NOTES FIRST)

部品番号: 6221-801D03
Software 12 Nov 2019