ケースレー超低抵抗構成6200/2182A型

2182A型と6220型または6221型を接続して、単一の機器のように動作させることができます。 2182A/622X型の組み合わせは、他のソリューションよりもはるかに優れ、抵抗測定、パルスI-V測定、および微分コンダクタンス測定に最適です。 2182A/622X型の組み合わせは、ナノテクノロジ関連の多くの用途にも適しています。結果の無効化や被測定デバイス(DUT)の破損を引き起こすような大きな電力消費を発生させることなく、抵抗を測定できます。

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Keithley Ultra-Low Resistance Configurations Series 6200/2182A

特長

利点

10nΩ~100MΩの抵抗を測定可能 測定レンジがきわめて広く、超低抵抗測定に特化しているため、高伝導材料、ナノ材料、および超電導材料の特性評価に適しています。
電流パルス・ソースと50 µsレベルの測定時間の同期 電力レベルをきわめて低くしてテストしないと簡単に壊れてしまうコンポーネント(ナノデバイスやナノ材料など)の電力消費を制限できます。
デルタ・モード電流反転による抵抗測定技術 熱オフセットの効果をなくして高確度な超低抵抗測定を実現し、1回の読み値のノイズを30 nVp-p(標準値)まで低減します。 複数の読み値を平均して、ノイズを大幅に低減できます。
微分コンダクタンス測定 他のコンダクタンス測定技術と比較して、速度が10倍速く、ノイズも減ります。 複数のスイープの結果を平均しなくても、優れた測定値が得られます。
ナノボルトメータと電流ソース・インタフェースのシームレスな連動 微分コンダクタンス測定や抵抗測定を行うときに2つの機器を単一の機器のように動作させることができます。
デルタ・モード、微分コンダクタンス、およびパルス・モードによる電流過渡の最小化 電流スパイクによって故障しやすいデバイスの特性評価を行うことができます。
型名 抵抗 ソース PCインタフェース 価格
6220/2182A

10nΩ - 100MΩ

DC: ±10fA – 100mA RS-232, GPIB US $8,390
構成と見積り
6221/2182A

10nΩ - 100MΩ

DC: ±10fA – 100mA
AC: 4pAp-p – 200mAp-p

RS-232, GPIB, LAN US $9,900
構成と見積り
型名 抵抗 ソース PCインタフェース 価格
6220/2182A

10nΩ - 100MΩ

DC: ±10fA – 100mA RS-232, GPIB US $8,390
構成と見積り
6221/2182A

10nΩ - 100MΩ

DC: ±10fA – 100mA
AC: 4pAp-p – 200mAp-p

RS-232, GPIB, LAN US $9,900
構成と見積り
アクセサリ 7009-5
データシート 概要
1.5m[5 FT]、シールドRS-232ケーブル
データシート アクセサリ 概要
表示(View) データシート 7009-5 1.5m[5 FT]、シールドRS-232ケーブル
Keithley Instruments Safety Precautions
Safety Precautions PA

This document contains safety information for Keithley Instruments products.


部品番号: 071341102
User
Hall Effect Measurements in Materials Characterization
ホワイトペーパー
How can I measure current or voltage via LabView for Model 6517B?
This LabView VI allows you to choose: Function (Voltage or Current), NPLC, Counts, Range, Resolution Digits and Buffer Delay Time. The Program outputs the reading buffer data, standard deviation and RMS value. The data will also be saved to a file …
FAQ ID774036
Model 4288-2 Dual Fixed Rack Mounting Kit
The Model 4288-2 Dual Fixed Rack Mounting Kit includes all of the hardware necessary for side-by-side rack mounting of two instruments, including Series 2000, 2182A, Series 2300, Series 2500, 2700, 2701, 6220, 6221, 6485, 6487, 6514, or 6517B.

文書番号: PA-290C
Datasheet
AC Versus DC Measurement Methods for Low-power Nanotech and Other Sensitive Devices
技術資料
#2615 Determining Resistivity and Conductivity Type using a Four-Point Collinear Probe and the Model 6221 Current Source
アプリケーション・ノート
Pulse Testing for Nanoscale Devices
技術資料
Problem: Reading Drift in Low Resistance Measurements
技術資料
Problem: Errors in Low Resistance Measurements
技術資料
Problem: Noisy Readings in Low Resistance Measurements
技術資料
Applications Guide - Techniques for Multi-Channel Testing and Data Acquisition
ファクト・シート
Achieving Accurate and Reliable Resistance Measurements in Low Power and Low Voltage Applications
ホワイトペーパー
Characterizing Nanoscale Devices with Differential Conductive Measurements
技術資料
New dG Measurement Methods Reveal Nanodevice Characteristics Faster, at Lower Cost
技術資料
New Instruments Can Lock Out Lock-ins
ホワイトペーパー
Keithley Pulse Solutions
パンフレット
An Improved Method for Differential Conductance Measurements
ホワイトペーパー
Unraveling Fuel Cell Electrical Measurements
技術資料
The Emerging Challenges of Nanotechnology Testing
技術資料
SOLUTIONS FOR SCIENTIFIC AND ENGINEERING RESEARCH

文書番号: 55W_30503_2
パンフレット
Keithley Instrumentation for Electrochemical Test Methods and Applications
This application note discusses a variety of electrochemical applications, including voltammetry, low and high resistivity measurements, battery test, potentiometry, electrodeposition, electrical device characterization, and other tests that involve …

文書番号: 1KW-60158-1
アプリケーション・ノート
Low-Voltage Measurement Techniques
技術資料
Low Level Measurements Handbook - 7th Edition

文書番号: 1KW-1559-0
ハンドブック