ケースレーIVy - 視覚化、インタラクティブ操作、共有
ケースレーIVyは、電流-電圧（I-V）特性評価、被測定デバイス（DUT）のトラブルシューティング、および測定結果の共有を迅速かつ簡単に行うためのツールです。 プログラミングなしで測定結果の視覚化、インタラクティブ操作、共有を行うことができ、DUTに関する理解を深めることができます。
ケースレーIVyは、ファームウェア・バージョン3.1.0以降の2600Bシリーズ・ソースメータに対応しています。
内蔵アプリケーション |
概要 |
対応機種 |
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3端子デバイスのテスト
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3端子デバイスの特性を表す曲線群を描画 ケースレーIVyを利用すると、FETやカーボン・ナノチューブ（CNT）など、3端子デバイスの曲線群を迅速かつ簡単に作成できます。 各テストに適した2600Bシリーズを調べるには、ここをクリックしてください。 |
2600Bシリーズ・ソースメータ |
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2端子デバイスのテスト
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2端子デバイスをI-Vモードで視覚化 LED、金属酸化物バリスタ（MOV）、ダイオード、チェナー、センサ、キャパシタなど、さまざまな2端子デバイスのI-V機能テストおよび特性評価を行うことができます。 |
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トレンド・モニタリング
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デバイスの動作を時間モードで表示 デバイスの経時的な刺激応答動作を即座に把握できます。 さまざまな能動／受動デバイスの立上り時間、セトリング時間、またはその他のI/V特性を取込むことができます。 |
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インタラクティブ解析
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インタラクティブ操作による理解促進 ピンチ／ズーム操作によってデバイスの性能を詳細に調べることができます。 I-V曲線全体の任意のポイントで実際の供給値／測定値を調べることにより、動作パラメータの理解を深めることができます。 |
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共同作業
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共同作業のためのデータ共有 簡単かつ迅速に共同作業を行えるように、電子メール、Dropbox、またはGoogleドライブを使用してデータを瞬時に共有できます。 図表およびCSVフォーマットのデータを利用できます。 |
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Tips and Techniques for Efficient DC Testing and Current-Voltage Characterization
This e-guide explores some of the most common DC current vs. voltage (I-V) tests being performed today, the seemingly inherent complications posed by each, and how new techniques can help to not only overcome these challenges but enhance efficiency …
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パンフレット | |
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7 Keys to Detecting Potential DUT Issues - Minimize Troubleshooting Time and Boost Productivity
文書番号： 1KW-60606-0 |
ポスター | |
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Connecting 2600B SMU Instruments to Mobile Devices
Two diagrams show you how to easily connect your 2600B Series Source Measure Unit (SMU) Instrument to an Android or iOS mobile device.
Download the PDF to read more:
文書番号： 1KW-60603-0 |
使用方法ガイド | |
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Power Supply Measurement Tips
Designing a bench power supply is a complex process with numerous steps. With this guide, we will follow a simple work flow and provide testing tips at each of 10 design stages. Hopefully you will find a few that will make your testing more effective …
文書番号： 46A_60180-2 |
パンフレット | |
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Source Measure Units - Save Time, Space and Money and Make Multiple Measurements Accurately Using a Single Instrument
Learn how the integrated five-in-one functionality of just one source measure unit (SMU) instrument eliminates many of the issues associated with using multiple instruments, including workspace clutter, measurement insight delays and much higher …
文書番号： 1KW-61419-0 |
パンフレット |