ケースレー4200A-SCS型パラメータ・アナライザ

4200A-SCS型があれば、半導体デバイス、材料、プロセス開発の研究や信頼性/障害解析の効率が大幅に改善されます。 高性能パラメータ・アナライザを使用すると、電流-電圧(I-V)測定、容量-電圧(C-V)測定、超高速パルスI-V測定の同期が可能です。

お使いのPCで無料でお試しください!

Product-series_4200-promo-options

DC電流-電圧
(I-V)レンジ

10aA~1A
0.2µV~210V

容量-電圧
(C-V)レンジ

1kHz~10MHz
±30V DCバイアス

パルスI-V
レンジ

±40V(80Vp-p)、±800mA
200MS/s、5nsサンプル・レート

 

ケースレー4200A-SCS型パラメータ・アナライザ

高速で信頼性の高いパラメータ解析

CVスイープを実行する4200A-SCS型、4200A-CVIV型の正面

電気特性評価の時間短縮は、簡単なことではありませんでした。 4200A-SCS型パラメータ・アナライザを使用すると、信頼性の高い、優れた測定/解析機能を利用できるだけでなく、特性評価の複雑さやセットアップの手間が最大50%も軽減されます。さらに、テスト・ガイダンスなど、セルフ・ラーニング・ツールを内蔵しているため、誰にでも信頼性の高い測定結果が得られます。

特長

  • 測定ガイダンス・ビデオを内蔵(日本語、英語、中国語、韓国語)
  • ユーザによるカスタマイズが可能なアプリケーション・テストが豊富に提供されており、簡単なセットアップですぐにテストが可能
  • リアルタイムの自動パラメータ抽出、データのグラフ化、演算など豊富な機能を装備

測定、スイッチ、繰り返し。

ウエハ・プローブ・ステーション上のケースレー4200A-CVIV型マルチスイッチ

4200A-CVIV型マルチスイッチを使用すると、配線を変更したり、プローバ・チップを持ち上げることなく、I-V測定とC-V測定を自動的に切り替えられます。競合製品と異なり、4チャンネル・タイプの4200A-CVIV型はディスプレイを装備しており、手元で詳細な情報が確認できるため、予期しない測定結果になった場合でも、すばやくテストをセットアップし、簡単にトラブルシューティングできます。

特長

  • 配線を変えずに、任意のデバイス端子にC-V測定結果を転送
  • ユーザによるコンフィグレーションが可能な低電流機能
  • 出力チャンネル名のパーソナライズが可能
  • テスト・ステータスをリアルタイムに確認可能

安定した低電流測定によるI-V特性評価

4201-SMU型、4211-SMU型モジュールを使用することで、大きな負荷容量で安定した低電流測定が行えます。4200A-SCS型は4種類のソース・メジャー・ユニット(SMU)パッケージが選択できるため、I-V測定のニーズに合わせて柔軟にカスタマイズできます。ケースレー製品は、フィールド・インストールが可能なユニットやプリアンプ・モジュールが用意されているため、ダウンタイムを抑えながら、高精度な低電流測定を確実に行えます。

特長

  • サービス・センターに返送せずに、お客様の環境で簡単にSMUの追加が可能
  • fAレベルの高精度測定が可能
  • 最大9つのSMUチャンネル
  • 長いケーブルや大きなチャックにも対応可能

解析用プローバおよび温度コントローラの統合

ウエハ・プローブ・ステーションの前に置かれたケースレー4200A-SCS型パラメータ・アナライザ

4200A-SCS型パラメータ・アナライザは、MPI Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 Cryogenic温度コントローラなど、数多くの手動/半自動ウエハ・プローバおよびCryogenic温度コントローラをサポートしています。

特長

  • "ポイント・アンド・クリック"の簡単なテスト・シーケンシング
  • プローバの機能をテストするための"手動"プローバ・モード
  • コマンドを削除しなくてもデバッグが可能なフェイル・プローバ・モード

コスト削減、投資保護

ケースレー・サービス・プランで投資を保護

ケースレー・ケア・プランは、従来のサービスに比べて低コストで迅速、高品質のサービスを提供します。 ワンクリックまたは電話連絡で修理を開始します。見積り、注文書発行は不要、承認(稟議、決済)手続きによって遅れが生じることもありません。

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データシート 型名 概要 価格
データシート 4200A-SCS-PK1型
高分解能IV測定向
210V/100mA、0.1fA分解能
MOSFETやCMOSなどの2~3端子デバイスの特性評価に対応。4200A-SCS-PK1パッケージに含まれるもの:
  • 4200A-SCS型パラメータ・アナライザ
  • 4200-SMU型モジュール(2)
  • 4200-PA型プリアンプ(1)
  • (1) 8101-PIV型テスト・フィクスチャとサンプル・デバイス(1)
見積り依頼
データシート 4200A-SCS-PK2型
高分解能I-V/C-V測定向
210V/100mA、0.1fA分解能、1kHz~10MHz
high-κ誘電体/ディープ・サブミクロンCMOSの特性評価に対応。4200A-SCS-PK2型パッケージに含まれるもの:
  • 4200A-SCS型パラメータ・アナライザ
  • 4200-SMU型モジュール(2)
  • 4200-PA型プリアンプ(1)
  • 4210-CVU型C-Vモジュール(1)
  • (1) 8101-PIV型テスト・フィクスチャとサンプル・デバイス(1)
見積り依頼
データシート 4200A-SCS-PK3型
高分解能/ハイパワーI-V/C-V測定向
210V/1A、0.1fA分解能、1kHz~10MHz
パワー・デバイス/high-κ誘電体/ディープ・サブミクロンCMOSデバイスの特性評価に対応。4200A-SCS-PK3型パッケージに含まれるもの:
  • 4200A-SCS型パラメータ・アナライザ
  • 4200-SMU型モジュール(2)
  • 4210-SMU型(2)
  • 4200-PA型プリアンプ(2)
  • 4210-CVU型C-Vモジュール(1)
  • (1) 8101-PIV型テスト・フィクスチャとサンプル・デバイス(1)
見積り依頼
データシート 4200-BTI-A型
超速NBTI/PBTI測定向
最先端CMOSテクノロジのNBTI/PBTI測定に対応。4200-BTI-A型パッケージに含まれるもの:
  • 4225-PMU型超速I-Vモジュール(1)
  • 4225-RPM型リモート・プリアンプ/スイッチ・モジュール(2)
  • 自動特性評価スイート(ACS)ソフトウェア
  • 超速BTIテスト・プロジェクト・モジュール
  • ケーブル
見積り依頼

半導体の信頼性

4225-PMU型パルス・モジュールによる信頼性テストの実行

4200A-SCS型は、面倒な配線に悩まされることなく、複雑な信頼性テストを実施できます。Hot Carrier Injection Degradation(HCI)やNegative Bias Temperature Instability(NBTI)などのプロジェクトが付属しており、すぐにデバイス解析を開始できます。大規模なラボでは、4200-BTIパッケージに付属するケースレーのACSソフトウェアを使用して、サイト・マッピングや自動プローバ制御などの機能を利用できます。

特長

  • DC I-V、C-V、パルス測定を1つのセットのテストにまとめる
  • 多くのプローバ、外部機器に対応
  • 使いやすいサイクリング・システムにより、コーディングせずに繰り返し測定が可能

高インピーダンス・アプリケーションのC-V測定

MOSCAPデバイスで実行された超低周波CV測定スイープ

ケースレーのカスタム低周波数C-Vテクニックを使用して、高抵抗サンプルの静電容量を解析します。この手法は、SMU(ソース・メジャー・ユニット)機器のみを使用して実行されますが、4210-CVU型と組み合わせることで、より高い周波数も計測できます。

特長

  • 1pF~10nFの感度による0.01~10Hzの周波数レンジ
  • 3.5桁の標準分解能、10fFの最小値

不揮発性メモリ

4225-PMU型パルス・モジュールで実行されたPUNDメモリ・テスト・シーケンス

完全にパルス化されたI-V特性評価を使用して、新技術をテスト段階に引き上げましょう。 4200A-SCS型には、フローティング・ゲート・フラッシュからReRAMおよびFeRAMまでの最新のNVRAMテクノロジをサポートし、すぐに実行できるテストが内蔵されています。電流と電圧のデュアル供給と測定機能により、トランジェントとI-Vドメインの両方の特性評価が可能です。

長いケーブル/容量性フィクスチャを使用するテストに

4201-SMU型モジュールで実行したVg-Idテスト

テストを行う際に、きわめて長いケーブル、大きな負荷容量のフィクスチャが必要な場合は、4201-SMU型または4211-SMU型を使用します。これらのSMUは、LCDテスト・ステーション、プローバ、スイッチ・マトリクス、その他の大型または複雑なテスタとの接続に最適です。フィールド・インストールが可能なバージョンでは、サービス・センタに返送せずに容量を追加できます。

ナノスケール・デバイスの特性評価

カーボン・ナノチューブFET曲線

4200A-SCS型の統合計測器機能は、カーボン・ナノチューブなどのナノスケール・エレクトロニクスの開発における測定要件を簡素化します。事前に設定されたテスト・プロジェクトから調査を開始し、そこから作業を展開します。 SMUのパルス・ソース・モードは低電圧C-Vと超速パルスDC測定を数秒で組み合わせ、過熱問題の低減に役立ちます。

材料の比抵抗

材料科学における4点共線プローブ法を使用した比抵抗測定

SMUを内蔵した4200A-SCS型を使用し、4点共線プローブまたはファンデルポー法を使用して、抵抗率を簡単に測定します。含まれているテストではファンデルポー計算を自動的に反復して行い、貴重な研究時間を節約します。最高電流分解能が10aA、入力インピーダンスが>10­­­­16Ω超であるため、より正確な結果が得られます。

MOSFET特性評価

4200A-SCS型パラメータ・アナライザで実行されたMOSFETしきい値電圧測定

4200A-SCS型は、コンポーネントまたはウエハ内のテストを通じて、MOSデバイスの完全な特性評価に必要なすべての計測器を統合できます。MOSCapの酸化膜の厚さ、しきい値電圧、ドーピング濃度、可動イオン濃度などを含む、テストとプロジェクトが含まれています。これらのテストはすべて、計測器上でボタンをタッチするだけで実行できます。

データ・シート モジュール 概要 構成/見積り
4200A-CVIV型 I-V/C-Vマルチスイッチ・モジュール 構成と見積り
4201-SMU型 大容量測定用ミディアム・パワー・ソースメジャー・ユニット 構成と見積り
4211-SMU型 大容量測定用ハイパワー・ソースメジャー・ユニット 構成と見積り
4201-SMU-R型 大容量測定用ハイパワー・ソースメジャー・ユニット(フィールド・インストール可能) 構成と見積り
4211-SMU-R型 大容量測定用ハイパワー・ソースメジャー・ユニット(フィールド・インストールが可能) 構成と見積り
4200-SMU型 ミディアム・パワー・ソースメジャー・ユニット 構成と見積り
4210-SMU型 ハイパワー・ソースメジャー・ユニット 構成と見積り
4200-SMU-R型 FIELD REPLACEABLE MPSMU 構成と見積り
4210-SMU-R型 FIELD REPLACEABLE HPSMU 構成と見積り
4200-PA型 リモート・プリアンプ・モジュール 構成と見積り
4210-CVU型 容量電圧ユニット 構成と見積り
4220-PGU型 高電圧パルス・ジェネレータ・ユニット 構成と見積り
4225-PMU型 超速パルス・メジャー・ユニット 構成と見積り
4225-RPM型 リモート・プリアンプ/スイッチ・モジュール 構成と見積り
4200-BTI-A型 超速BTIパッケージ 構成と見積り
4200A-SCS Parameter Analyzer Datasheet

文書番号: 1KW-60780-5
Datasheet 22 Jan 2020
I have lost the device library on the 4200A-SCS, how to get it back?
The best way to get the library back is to re-install Clarius the their system. It’s free from our Tek.com website. Here is the link :https://www.tek.com/software/clarius/1-3
FAQ ID247546 15 Jan 2020
Is there a resettable fuse on the interlock circuit for model 4200A-SCS?
Yes, there is a resettable fuse. It takes several minutes to reset, please give it some time.This is discussed on page 4 and 5 of the included application note. Here is a link to the application note on the Tek website: https://www.tek.com/document/a
FAQ ID248681 15 Jan 2020
Does Model 4200A-SCS support Model 590-CV meter like the Model 4200-SCS?
The Model 590-CV is a stand alone CV meter and can be controlled from either the 4200A-SCS and 4200-SCS using the KIXI (remote interface software).
FAQ ID249356 15 Jan 2020
Does the 4200A-SCS support ICCAP?
Although the 4200ICCAP-6.0 driver is obsolete, the 4200A is ICCAP supported through the KXCI software.  The 4200 drivers in the KXCI software come with ICCAP in them and all KXCI programs for the 4200 are compatible with the 4200A. Note: ICCAP only
FAQ ID255351 15 Jan 2020
What is the time required to switch between Pulse IV (4225PMU) and CV (4210ACVU) measurements using the 4225-RPM for the 4200A-SCS?
The RPM eliminates the need to re-cable and increases switching speed between Pulsed IV and CV measurements.  However, we do not specify the switching time for the RPMs in the data sheets. A simple test using a MDO3102 yeided the below approximate s
FAQ ID469646 15 Jan 2020
What is included in the 4200A-SCS Windows 10 Upgrade option?
The 4200A-SCS can be upgraded from the Windows 7 operating system to Windows 10. The part number for this upgrade is 4200A-WIN10-UP. This service will provide a USB flash drive containing the upgrade program files and instructions for installing the
FAQ ID780921 15 Jan 2020
Do I need to calibrate my instruments separately when I upgrade from the 4200-SCS to a 4200A-SCS mainframe?
No; when the 4200A-MF-UP service is selected, the 4200-SCS is converted to the 4200A-SCS mainframe. This system gains the Clarius software. All supported instrument modules in the original system will be moved to the new, 4200A-SCS mainframe and will
FAQ ID780926 15 Jan 2020
Ultra-Fast I-V Applications for the Model 4225-PMU Ultra-Fast I-V Module
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Safely Using the Interlock on the Keithley Model 4200-SCS
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Ultra Fast Single Pulse Technique for Channel Effective Mobility Measurement
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
SOLUTIONS FOR SCIENTIFIC AND ENGINEERING RESEARCH

文書番号: 55W_30503_2
パンフレット 26 Dec 2019
電気特性評価をシンプルに - 4200A-SCS型 パラメータ・アナライザ
材料、半導体デバイス評価に最適な究極のパラメータ・アナライザ DC/パルスI-V、C-Vそしてトランジェント評価を簡単、確実に実行できる4200A-SCS型 パラメータ・アナライザをご紹介します。

文書番号: 1KZ-60869-0
特長 26 Dec 2019
4200型半導体パラメータアナライザでのランプレート法を用いた準静的CV測定
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
4200半導体パラメータアナライザを用いた光起電材料や太陽電池の電気的特性評価
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
The Emerging Challenges of Nanotechnology Testing
技術資料 26 Dec 2019
Advances in Electrical Measurements for Nanotechnology E-Handbook
Rev 3.13
ファクト・シート 26 Dec 2019
TECHNIQUES FOR MEASURING RESISTIVITY FOR MATERIALS CHARACTERIZATION

文書番号: 1KW-60826-0
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Pulsed I-V Testing for Components and Semiconductor Devices - Applications Guide
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Pulse Testing for Nanoscale Devices
技術資料 26 Dec 2019
Probing Transistors at the Contact Level in Integrated Circuits
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Making Stable Low Current Measurements with High Test Connection Capacitance Using the 4201-SMU and 4211-SMU
This application note explains the maximum capacitance specifications of an SMU, and describes several applications on which the 4201-SMU and 4211-SMU enables you to make stable low current measurements. The example applications describe include the

文書番号: 1KW-61609-0
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Making Optimal Capacitance and AC Impedance Measurements with the 4210-CVU Capacitance Voltage Unit
Capacitance-voltage (C-V) and AC impedance measurements are commonly performed on many types of devices for a wide variety of applications.  This application note describes how to make optimal capacitance measurements using proper measurement techniq

文書番号: 1KW-61528-0
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
低電流パルスI-V測定
このアプリケーションノートは、超速I-Vを定義し、時間-測定ウィンドウにおける電流測定の基本的な限界を説明し、低電流超速I-V測定を行うための技法を解説します  

文書番号: 1KW-61527-0
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
400Vまでの高電圧に対応 : 3端子デバイスの高電圧CV測定
このアプリケーションノートでは、4200A-CVIVマルチスイッチ・バイアスティー機能を使用してCISS、COSS、およびCRSS測定を行う方法について説明します。また、より高いドレイン電圧を測定するために、どのように計測器のDC出力電圧を2倍に高めた方法も示し、これは、GaNなどのハイパワー半導体デバイスをテストするのに大変役立ちます。

文書番号: 1KW-61529-0
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Making Charge-Pumping Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System and Series 3400 Pulse/Pattern Generator

文書番号: Job #2851
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Making Ultra-Low Current Measurements with the Low-Noise Model 4200-SCS
Making Ultra-Low Current Measurements with the Low-Noise Model 4200-SCS Semiconductor Characteriztion System Parametric characterization of semiconductor devices typically requires making extremely low current measurements. For MOSFET devices, the ga

文書番号: Application Note Number 2241
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Making I-V and C-V Measurements on Solar/Photovoltaic Cells Using the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Moving from Windows XP to Windows 7? Upgrade Your Model 4200-SCS
使用方法ガイド 26 Dec 2019
Monitoring Channel Hot Carrier (CHC) Degradation of MOSFET Devices using Keithley's Model 4200-SCS

文書番号: Print job #2535
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Measuring Inductance Using the 4200-CVU Capacitance-Voltage Unit
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
4200A-SCSパラメータアナライザでのMOSFETのゲート電荷測定
このアプリケーションノートでは、4200A-SCSパラメータアナライザによるJEDECゲート電荷テスト方法に基づいたMOSFETのゲート電荷を測定する方法について説明します。

文書番号: 1KW-61388-0
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
ACS Integrated Test System for Lab-Based Automation
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Performing Charge Pumping Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Performing Charge Pumping Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note explains how to make charge pumping measurements using the 4200A-SCS with the optional 4225-PMU Ultra-Fast I-V Module (PMU) or 4220-PGU Pulse Generator Unit (PGU).

文書番号: 1KW-60634-0
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Performing Very Low Frequency Capacitance-Voltage Measurements on High Impedance Devices Using the Mode 4200-SCS Semiconductor Characterization System
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
A Local Area Network Laboratory Based on the Keithley 4200-SCS for Engineering Education in Microelectronics
ホワイトペーパー 26 Dec 2019
Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Full color brochure covering the semiconductor characterization system, Model 4200-scs.
パンフレット 26 Dec 2019
Modifying Keithley Interlock Cable 236-ILC-3 for Use w/Cascade 12000 Series Semiautomatic Probers
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Model 4200-SCS & KTEI 5.0 Software Extend Semi Characterization to Stress-Measure, Reliability Test
Cleveland, Ohio - December 11, 2003 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI) today announced availability of its Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System with its integral Keithley Test Environment-Interactive (KTEI) v5.0 software.
プレス・リリース 26 Dec 2019
Integral PC Design of Keithley Model 4200-SCS is at the Leading Edge of a New Instrumentation Trend
技術資料 26 Dec 2019
KTEI V8.2 for the Model 4200-SCS: Characterize NVM, Measure VLF C-V, Make More Pulsed or Ultra-fast I-V Measurements in Parallel
パンフレット 26 Dec 2019
Writing Prober Drivers for the Model 4200-SCS

文書番号: Job #2361. Updated 01/07
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Optimizing Low Current Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Keithley Pulse Solutions
パンフレット 26 Dec 2019
Discover Today's Solutions for Tomorrow's Nano Characterization Challenges
パンフレット 26 Dec 2019
有機FETのDC IV及びACインピーダンス測定
このアプリケーションノートでは、4200A-SCSパラメータアナライザを使用して、OFETでDC I-VおよびACインピーダンス測定を最適化する方法の概要を説明します。 最良の結果を得るためのタイミングパラメータ、ノイズ低減、シールド、適切なケーブル配線、およびその他の重要な測定上の注意事項について説明します。

文書番号: 1KZ-61313-0
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Using the 4200A-CVIV Multi-Switch to Make High Voltage and High Current C-V Measurements
This application note explains the implementation of the bias tee modes of the 4200A-CVIV to make high voltage C-V measurement. It assumes the reader is familiar with making C-V measurements with the Keithley 4200A-SCS using the CVIV.

文書番号: 1KW-61356-0
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Using the Ramp Rate Method for Making Quasistatic C-V Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Improving the Measurement Speed and Overall Test Time of the Model 4200-SCS
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Gate Dielectric Capacitance-Voltage Characterization Using the Model 4200
Application Note Number 2239 Gate Dielectric Capacitance - Voltage Characterization Using the Model 4200 Semiconductor Characterization System Maintaining the quality and reliability of gate oxides is one of the most critical and challenging tasks in
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Using the Model 4200-CVU-PWR C-V Power Package to Make High Voltage and High Current C-V Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Using the Wafer Map Parameters Option with Cascade Nucleus Prober Software and the Model 4200-SCS

文書番号: Job number 2657.
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Model4200-CVU-PWR C-V パワーパッケージを用いた 4200A-SCS半導体特性評価システムでの 高電圧及び高電流CV測定

文書番号: 1KW-60637-0
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
DC Electrical Characterization of RF Power Transistors
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
E-Handbook Guide to Switch Considerations by Signal Type
ファクト・シート 26 Dec 2019
C-V Characterization of MOS Capacitors Using the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Four-Probe Resistivity and Hall Voltage Measurements with the Model 4200-SCS

文書番号: Rev 7.15.11 ah
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Breathe New Life into Your 4200-SCS Parameter Analyzer
ファクト・シート 26 Dec 2019
Making van der Pauw Resistivity and Hall Voltage Measurements Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note provides an overview of the van der Pauw and Hall effect measurement methods and how to use the built-in applications that are included with the 4200A-SCS Parameter Analyzer to perform these measurements.

文書番号: 1KW-60641-1
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Wafer Level Reliability Testing with the Keithley Model 4200A-SCS Parameter Analyzer
Evolving design scales and new materials are making wafer level reliability testing more critical than ever. This is also driving the demand for reliability testing and modeling much further upstream, especially into the R&D process. Instrumentma

文書番号: 1KW-61526-0
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Evaluating Oxide Reliability
Application Note Number 2240 Evaluating Oxide Reliability Using V-Ramp and J-Ramp Techniques Oxide integrity is an important reliability concern, especially for today's ULSI MOSFET devices, where oxide thickness has been scaled to a few atomic layers
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Electrical Characterization of Carbon Nanotube Transistors (CNT FETs) with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
1 ns Pulsing Solutions for Non-Volatile Memory Testing
Ultra-fast (<10 ns) pulsing is required to develop the newest non-volatile memory types like Flash, PCRAM, STT-RAM and others. In addition to the recommended minimum and allowable minimum pulse widths possible using the Keithley 4225-PMU Ultra-Fas

文書番号: 1KW-61454-1
テクニカル・ブリーフ 26 Dec 2019
CVとIVの切り替え測定
4200A型 半導体パラメータ・アナライザと 4200A-CVIV型 マルチスイッチを使った簡単な切り替え方法をご紹介します。

文書番号: 1KW-60635-0
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Electrical Characterization of Photovoltaic Materials and Solar Cells with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Evaluating Hot Carrier Induced Degradation of MOSFET Devices
Application Note # 2197 Evaluating Hot Carrier Induced Degradation of MOSFET Devices With decreased MOSFET gate length, hot carrier induced degradation has become one of the most important reliability concerns.
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Creating External Instruments Drivers for the Model 4200-SCS

文書番号: technical note #2661
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
I-V Measurements of Nanoscale Wires and Tubes with the Model 4200-SCS and Zyvex S100 Nanomanipulator

文書番号: Job #2481
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
C-V Testing for Semiconductor Components and Devices - Applications Guide
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Model 4200A-SCS Clarius V1.7 Software

部品番号: 077132609
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual

部品番号: 4200A-901-01G_September_2019_Reference.pdf
Manual 26 Nov 2019
Modèle 4200A-SCS Liste d'Avertissements
Warnings from the QSGs, User's Manual and Reference Manual translated into French for the 4200A-SCS Other

部品番号: 077126000
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A-SCS Clarius V1.6.1 Software

部品番号: 077132608
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A Parameter Analyzer User's Manual
The Keithley Instruments Model 4200A-SCS User's Manual provides detailed product, connection, accessory, application, and Clarius+ software information. User Manual

部品番号: 4200A-900-01C
Manual 26 Nov 2019
Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System Declassification and Security Instructions
Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System Declassification and Security Instructions Instructions

部品番号: 077134300
Manual 26 Nov 2019
Keithley PreAmp Adapter Installation

部品番号: PA-633A
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A-SCS Declassification and Security Instructions
Model 4200A-SCS Declassification and Security Instructions Instructions

部品番号: 077126200
Manual 26 Nov 2019
ACS Software Quick Start Guide

部品番号: ACS-903-01
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A-RM Rack Mount Kit Installation Instructions
Model 4200A-RM Rack Mount Kit Installation Instructions

部品番号: 071348701
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A-CVIV Multi-Switch User's Manual
User's manual for the 4200A CV-IV multi-switch.

部品番号: 4200A-CVIV-900-01D
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual
The Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual provides detailed instruction for the 4200A-SCS.

部品番号: 4200A-901-01F
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A-SCS Semiconductor Characterization System Quick Start Guide
Model 4200A-SCS Semiconductor Characterization System Quick Start Guide Quick Start User Manual

部品番号: 4200A-903-01A
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A-SCS Package 3 System Quick Start Guide
Model 4200A-SCS Package 3 System Quick Start Guide Quick Start User Manual

部品番号: 4200A-PK3-903-01A
Manual 26 Nov 2019
KTE Interactive V9.1 Service Pack 2 Software Release Notes & Installation Instructions
Release notes and installation instructions for KTE Interactive software for the 4200. Release Notes

部品番号: PA-895R
Manual 26 Nov 2019
Model 4200-Compiler Installation Instructions
4200-Compiler installation instructions for the 4200A-SCS and 4200-SCS Instructions

部品番号: PA-1030E
Manual 26 Nov 2019
Model 4210-MMPC-C Multi-Measurement Prober Cable Kit Quick Start Guide
This multi-measurement cable set is a collection of standard and custom connectors and accessories used to take I-V, C-V, and pulsed I-V measurements using a single prober cable setup. Instruction Manual

部品番号: PA-1001D
Manual 26 Nov 2019
ACS Software Reference Manual

部品番号: ACS-901-01
Manual 26 Nov 2019
ACS Basic Software Reference Manual

部品番号: ACSBASIC-901-01
Manual 26 Nov 2019
ACS Basic Software Quick Start Guide

部品番号: ACSBASIC-903-01
Manual 26 Nov 2019
Model 4200A-SCS-PK2 Parameter Analyzer Quick Start Guide
Model 4200A-SCS-PK2 Parameter Analyzer Quick Start Guide Quick Start User Manual

部品番号: 4200A-PK2-903-01A
Manual 26 Nov 2019
Models 4200-MAG-BASE, VAC-BASE, and 4225-RPM

部品番号: PA-624C
Manual 26 Nov 2019
Pulse I-V Characterization of Non-Volatile Memory Technologies

文書番号: 1KW-60638-0
アプリケーション・ノート 26 Nov 2019
Performing Very Low Frequency Capacitance-Voltage Measurements on High Impedance Devices Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer

文書番号: 1KW-60644-0
アプリケーション・ノート 26 Nov 2019
Low Level Measurements Handbook - 7th Edition

文書番号: 1KW-1559-0
ハンドブック 26 Nov 2019
TECHNIQUES FOR MEASURING RESISTIVITY FOR MATERIALS CHARACTERIZATION

文書番号: 1KW-60826-0
アプリケーション・ノート 26 Nov 2019
Keithley Instrumentation for Electrochemical Test Methods and Applications
This application note discusses a variety of electrochemical applications, including voltammetry, low and high resistivity measurements, battery test, potentiometry, electrodeposition, electrical device characterization, and other tests that involve

文書番号: 1KW-60158-1
アプリケーション・ノート 26 Nov 2019
How to Choose and Apply Source Measure Unit SMU Instruments
アプリケーション・ノート 26 Nov 2019
Optimizing Low Current Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

文書番号: 1KW-60636-0
アプリケーション・ノート 26 Nov 2019
Evolving Materials and Testing for Emerging Generations of Power Electronics Design
Transitioning from silicon to wide bandgap semiconductors such as silicon carbide and gallium nitride means that power module designs can be physically smaller than what came before, while also increasing MOSFET switching speed and energy efficiency.

文書番号: 75W-61556-0
テクニカル・ブリーフ 26 Nov 2019
Electrical Characterization of Carbon Nanotube Transistors (CNT FETs) with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

文書番号: 1KW-60633-0
アプリケーション・ノート 26 Nov 2019
Electrical Characterization of Photovoltaic Materials and Solar Cells with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

文書番号: 1KW-60642-0
アプリケーション・ノート 26 Nov 2019
DC I-V Testing for Components and Semiconductor Devices
DC I-V measurements are the cornerstone of device and material testing. This DC I-V testing applications e-guide features a concentration of application notes on DC I-V testing methods and techniques using Keithley’s Model 4200-SCS Parameter Analyzer
アプリケーション・ノート 26 Nov 2019
C‑V Characterization of MOS Capacitors Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer

文書番号: 1KW-60645-0
アプリケーション・ノート 26 Nov 2019
4200-SCS KTEI V9.1 Service Pack 2
4200-SCS KTE Interactive V9.1 Service Pack 2 includes all changes from KTEI V9.1 Service Pack 1, plus additional enhancements and fixes for known bugs. This service pack is to be installed on top of either KTEI V9.1 or V9.1 Service Pack 1 software on

部品番号: 4200-KTEI-V9.1SP2
Software 12 Nov 2019
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.7
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix Company, at TEK.com to upgrade the parameter analyzer. If installing on a

部品番号: 4200A-CLARIUS-V1.7
Software 12 Nov 2019
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.3
The 4200A-SCS Clarius+ Software Suite provides a clear, uncompromised parameter analysis for your semiconductor devices, materials, processes and more. Download the latest version of Clarius+ to stay up-to-date with the ever-growning library of ready

部品番号: 4200A-CLARIUS-V1.3
Software 12 Nov 2019
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.5
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix company, at tek.com to upgrade the parameter analyzer.If installing on a per

部品番号: 4200A-CLARIUS-V1.5
Software 12 Nov 2019
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.6.1
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix Company, at TEK.com to upgrade the parameter analyzer. If installing on a

部品番号: 4200A-CLARIUS-V1.6.1
Software 12 Nov 2019
An Ultra-Fast Single Pulse (UFSP) Technique for Channel Effective Mobility Measurement

文書番号: 1KW-60643-0
アプリケーション・ノート 12 Nov 2019
Touch, Test, Invent with the Next Generation Current and Voltage Source-Measure Instruments
ファクト・シート 12 Nov 2019
Resistivity Measurements of Semiconductor Materials Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer and a Four-Point Collinear Probe

文書番号: 1KW-60640-0
アプリケーション・ノート 12 Nov 2019
Simplifying MOSFET and MOSCAP Device Characterization e-Guide
This e-guide answers some common questions about making better semiconductor measurements, with a focus on DC I-V and capacitance-voltage (C-V) measurements. It also touches on more specific applications and how you can simplify making the measuremen

文書番号: 1KW-60780-1
パンフレット 12 Nov 2019
Upgrade Your 4200-SCS System and Protect Your Investment
Upgrade your 4200-SCS Parameter Analyzer to the 4200A-SCS - the industry's highest performance analyzer - and accelerate I-V, C-V, and ultra-fast pulsed I-V testing of your complex devices for materials research, semiconductor device design, process

文書番号: 1KW-60873-1
ファクト・シート 12 Nov 2019
Using the Model 4225-RPM Remote Amplifier/ Switch to Automate Switching Between DC I-V, C-V, and Pulsed I-V Measurements

文書番号: 1KW-60628-0
アプリケーション・ノート 12 Nov 2019
METHODS AND TECHNIQUES FOR SEMICONDUCTOR CHARACTERIZATION

文書番号: 1KW-60825-0
アプリケーション・ノート 12 Nov 2019
Using the Ramp Rate Method for Making Quasistatic C-V Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

文書番号: 1KW-60639-0
アプリケーション・ノート 12 Nov 2019
Listen to our panel discuss three measurement applications where the properties of new materials have influenced how measurements are made. 
In this video, we show you how to quickly set up your test for making automatic I-V and C-V measurements on the Keithley 4200A-SCS Parameter Analyzer.
Get tips on improving DC I-V and capacitance voltage measurements, along with tips on performing DC pulsed tests.
This webinar presents a new process that makes characterization and parameter extraction easier and quicker. We'll be discussing the extraction of common parameters as well as which tests to run t...
Listen to our panel discuss three semiconductor measurement applications where shrinking sizes or faster speeds have changed the device measurement methods being used for the newest memory, integr...
Measuring new materials or devices? Watch how you can get insights faster-than-ever with hassle-free connections, faster test setup, and built-in test libraries and learning tools. See how to gain...