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ジッタ測定/タイミング解析

今日のシリアル・データ規格では徹底したジッタ・コンプライアンス・テストが要求されるため、タイミング・ジッタについて熟知していなければ、高速通信システムの設計は不可能です。 テクトロニクスは豊富なテスト機器を取り揃えており、お客様が短時間で設計目標やコンプライアンス要件を満たせるようにお手伝いいたします。

Title
Dual-Dirac+ Scope Histograms and BERTScan Measurements
This primer discusses how the dual-Dirac relates to practical measurements that can be made with sampling scopes and BER-based instruments.
The Basics of Serial Data Compliance and Validation Measurements
High-speed serial bus architectures are the new norm in today’s high-performance designs. While parallel bus standards are undergoing some changes, serial buses are established across multiple markets …
Clock Recovery Primer, Part 2
Part 2 of looking at clock recovery from a practical point of view with emphasis on how it affects measurements.
Clock Recovery Primer, Part 1
Part 1 of looking at clock recovery from a practical point of view with emphasis on how it affects measurements.
Stressed Eye Primer
In addition to an introduction to stressed eye testing, this primer discusses some of the high-speed standards that use it, and how a receiver test using stressed eye is constructed.
Evaluating Stress Components using BER-Based Jitter Measurements
This primers describes how jitter measurements can be self-verified using a BER-based Jitter Peak measurement and how to simplify the jitter measurement challenge by using a pattern that does not …
Understanding and Characterizing Timing Jitter Primer
Timing jitter is the unwelcome companion of all electrical systems that use voltage transitions to represent timing information. Historically, electrical systems have lessened the ill effects of …
ジッタ測定に最適なプラットフォームの選択
シリアル・デバイスで発生するジッタは、設計エンジニアや開発者にとって大きな問題となっています。ジッタは、システム性能に影響を与えるため無視できない問題です。一方、ジッタの検出・評価は容易ではありません。PCI ExpressやFibre Channelなどの標準規格に準拠するためにもジッタ許容値をクリアする必要があります。専門家の間では …
ジッタ解析
パラメータ測定において、適切な許容誤差やテスト・マージンを確保するためには、既知の確度が必要になります。ジッタ測定も例外ではありません。当社は、ジッタ測定において確度を規定し、代表値を明示しています。確度とジッタ測定は、機器のタイミング安定度、サンプリング・ノイズ、機器の振幅ノイズ・フロア、信号の補間誤差など、いくつかの大きな要因によって影響を受けます。
80SJNBのジッタ測定結果の相関関係
80SJNBは、当社8000シリーズ・サンプリング・オシロスコーブ・フラットフォームにおいて、ジッタ、ノイズ、およびビット・エラー・レート( BER)を解析するアプリケーション・ソフトウェアです、 80SJNBは、ジッタおよびノイズをその主要成分に細かく分離できるので、デバッグ診断回報のようなコンプライアンス・テストの結果算出 …
Paper presented 8/9/05 at the T11.2 FC-MSQS Ad Hoc Meeting: Impact of Noise on BER Estimation
Page content will go here.
DesignCon 2015 Paper - Statistical Principles and Trends in Mask Testing
This paper relates mask testing on these models with that ultimate figure of merit, the system BER as measured against a mask. It includes a new method that determines the BER of a mask from an eye …
Jitter Fact Sheet
Regardless whether you need a quick clock jitter measurement, or a thorough analysis of a BER performance problem, Tektronix oscilloscopes and integrated software tools deliver. You can rapidly solve …
BERTScope® Bit Error Rate Testers Jitter Map “Under the Hood”
Delve into jitter problems in new ways, such as examining Random Jitter on each edge of the data pattern, separating out the jitter caused by transmitter pre-emphasis, and performing jitter …
BER等高線入門-アイ・ダイアグラムとBER
このアプリケーション・ノートでは、BER等高線測定の概要について説明します。具体的には、BER等高線とは何か、どのように構成され、ギガビット・スピードでのパラメータ性能に有効な観測方法である理由について説明します。さらに、BERTScopeビット・エラー・レート・テスタiによるBER等高線の例についても説明します。
Characterizing Phase Locked Loops Using Tektronix Real-Time Spectrum Analyzers
This application note shows measurements of linear and non-linear effects in both the time and frequency domains using Tektronix Real-Time Spectrum Analyzers.
アイ・ダイアグラムの構造分析
このアプリケーション・ノートは、アイ・ダイアグラムとは何か、その構造、アイ・ダイアグラム生成のための一般的なトリガ方法について説明します。また、アイ・ダイアグラムをスライスすることで得られるさまざまな情報についても説明します。さらに、トランスミッタ、チャンネル、レシーバ・テストの基本的な方法についても説明します。この分野に馴染のないエンジニアでも、一般的に使用される概念がわかるように書かれています …
Comparing Jitter Using a BERTScope® Bit Error Rate Testing
Comparison of DCD and F/2 Jitter.
リアルタイム・オシロスコープを使用したPLL の特性評価
PLL (Phase-Locked Loop) は通信のアプリケーションでよく使用されます。PLL は、デジタル・データ信号からのクロック・リカバリ(CDR)、衛星伝送信号からのキャリア再生、周波数と位相の変調と復調、および高精度受信機の周波数シンセサイザなどで使用されます。PLL の特性には、帯域、ノイズ、アクイジション・レンジ、速度、ダイナミック・レンジ、安定性、および精度があります …
Clock Recovery’s Impact on Test and Measurement
As clock recovery becomes increasingly common in more systems and test setups, its effects on measurements must be considered. Many outside influences can disturb the relationship between data and …
Six Sigma’ Mask Testing with a BERTScope® Bit Error Rate Tester
Six sigma is a form of mask testing that provides for critical insight when mask testing depth specification are important for pass/fail testing or deeper evaluation on high-speed signaling standards …
82A04型フェーズ・リファレンス・モジュールとTDS8200型/CSA8200型サンプリング・オシロスコープによる超低ジッタ特性
当社では新製品のCSA8200型サンプリング・オシロスコープをベースに、82AO4型フェーズ・リファレンス・モジュールを組合わせ、ジッタ・フロアが200fSRMs未満という極めて低い測定を可能にしました。また同時に、高いアクイジション・レート、優れた信号忠実度、そして柔軟性の高い動作モードを実現しています。 
ジッタ・トレランス・テストとジッタ伝達特性テストのためのコントロールジッタの生成
高速シリアル通信システムを設計する場合、常にジッタが問顕になります。日常の作業でジッタの特性評価を行っていると、意図的なジッタまたは制御可能なジッタを持ったクロック・ソースまたはデータ・ソースが必要になることがあります。目的に応じて信頼性があり、再現可能な結果を得るためには、このようなジッタ・ソースの細部まで十分な注意を払うことが重要です …
Enjoy the flexibility to perform analysis tasks including timing, eye and jitter analysis outside the lab with TekScope Anywhere. TekScope Anywhere Waveform Analysis Software brings the power of …
1m 31s
Title
Enabling PAM4 for Emerging Requirements in Data Communications
This webinar presents measurement techniques for PAM4 Data Communications and is useful for engineers involved in designing and developing 28G, 56G or 100G components, modules and systems. Find out …
Jitter Fundamentals
View this recorded webinar to get a solid overview of jitter components as well as jitter characterization and visualization. Learn how to control Jitter during system design and improve timing …
How to Address Your Toughest Serial Bus Design Challenges with EDA and Measurement Correlation
This Tektronix webinar will teach engineers how to use modeling tools to correlate simulations with high-speed physical layer measurements on Serial Bus Standards using the DPO/MSO70000 Series …
Advanced Jitter and Noise Analysis
 As serial data speeds increase, the need to perform accurate timing and jitter measurements is key to staying current in your design role. Check out this new webinar that covers advances in the …
Choosing the Right Platform for Jitter Measurements