ソフトウェア

数々の受賞に輝く優れたオシロスコープの解析機能をPCで利用できます。いつでもどこでも波形を解析できます。

円滑で効果的な教育／学習環境を構築できるネットワークベースの教育現場向けソリューション

複雑なプログラミングなしで、わずか数分で測定を開始できます。 I-V特性評価などを行うことができます。

2端子デバイス用カーブ・トレーサの使い慣れたユーザ体験により、電流と電圧の両方で特性のトレースが可能。

プログラミングなしでI-V特性評価を行うことができます。 測定結果の視覚化、インタラクティブ操作、共有が容易です。

TSP対応機器用のTSPテスト・スクリプトを作成、変更、デバッグ、および管理できます。

半導体デバイスの特性評価、信頼性テスト、パラメトリック・テスト、およびコンポーネント・テストに対応しています。

検出が困難なトランジェントなRF信号も確実に取込み、検出し、解析することが可能な豊富な機能を備えたテスト・ツールです。

• テクトロニクスのリアルタイム・アナライザ／オシロスコープで取込んだ信号の解析
• 優れた確度の時間相関のとれたマルチドメイン測定
• 記録／解析機能
• さまざまなアプリケーションに対応できる拡張信号解析オプション

高性能オシロスコープにRF／ベクトル解析機能を追加

テクトロニクスのすべてのRSAスペクトラム・アナライザをサポートし、膨大なRFデータセットから特定の信号をすばやく特定できます。

AWGの制御、機器のエミュレーションと波形生成が可能なPCベースのソフトウェア環境

（無償）波形をすばやく作成し、テクトロニクスの波形／ファンクション・ジェネレータに転送できます。