ケースレー2606B型高密度ソースメータ

製造テストでは、ラック・スペースの不足が大きな問題になることが多く、新しくテスト・ラックを追加するのはできるだけ避けたいところです。2606B型は従来の2Uサイズのマルチメータより小型であり、同じラック・スペースでより多くのチャンネルを利用できます。

• 重ねたり、ラック収納にも対応可能
• 放熱のために1Uの間隔を空ける必要なし
• 同じ占有スペースで3倍のチャンネル数
• 3分の1のスペースで3倍のチャンネル数を使用可能

テスト・スクリプト・プロセッサ（TSP®）技術により、SMU機器内にテスト・プログラムを組み込み、実行できるため、業界トップクラスの速度でテストが行えます。TSP-Link®技術により、メインフレームを使用せずに、最大64チャンネルの高速SMUパーピン・パラレル試験を可能にします。すべてのチャンネルは、500ns未満で同時に、独立して制御されます。

• 時間のかかるPCとの間のバス通信を完全に排除
• 2602B型ソースメータと互換性のあるTSPスクリプト・コード
• 最大32のTSP-Linkノードまたは64の独立したSMUチャンネルに接続可能
• テスト要件の変化に合わせて簡単に再設定が可能

業界トップクラスのレーザ・ダイオード（LD）製造テスト用DCテスト・システムでは、電流の印加とレーザ・ダイオード・モジュールの電圧-電流のモニタリング（光電流測定）のどちらにも、高速／高確度のSMUが使用されます。 SMUは、優れたシステム同期機能とスループットを備えた、最も費用対効果の高いLIV計測器です。

• プログラマブルな電流印加機能：最高3A、パルス幅：100μs
• 優れた電圧／電流測定分解能：100nV、0.1fA
• 内蔵TSP処理機能により、PC-機器間のバス通信を低減

電圧／電流の印加機能と測定機能を統合し、高精度、高確度を実現した2606B型システム・ソースメータは、ドレイン曲線、スレッショルド電圧、ゲート漏れ、相互コンダクタンスなど、ウエハやパッケージ化された部品のトランジスタの特性評価に最適です。

• プログラマブルな電流印加機能：最高3A、パルス幅：100μs
• 優れた電圧／電流測定分解能：100nV、0.1fA
• 優れた確度（0.015%）と6.5桁の分解能
• 内蔵TSP処理機能により、PC-機器間のバス通信を低減