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ケースレー光ソースメータ
ケースレー機器を利用すると、レーザ・ダイオード・モジュールをコスト効率よくテストできるLIV（光電流電圧）システムを簡単に構築できます。
- 2502型ファイバ調芯用光ダイオードメータ ：ハイスピード・アナログ出力により、ファイバ調芯段階でのLIVテストが可能
- パルス・レーザ・ダイオード・テスト・システム（2520/KIT1型積分球オプション）
：パルス／連続LIVテスト用の印加／測定機能を備えた同期テスト・テスト・システム
注意：この製品をEU諸国に発送することはできません。 詳細 - TECソースメータ、2510型および2510-AT型 ：レーザ・ダイオード・モジュールの熱電冷却器を制御することにより、温度の厳格な制御が可能
特長 | 利点 |
| アクティブな温度制御 | 温度の変動を防止します。温度が変動すると、レーザ・ダイオードの主出力波長に変化が生じ、信号のオーバーラップやクロストークの問題に発展する可能性があります。 |
| 50 W TECコントローラ | テスト速度や温度設定点レンジが他の低パワー・ソリューションよりも優れています。 |
| フル・デジタルP-I-D制御 | 温度の安定度が高く、単純なファームウェアの変更により簡単にアップグレードできます。 |
| 熱制御ループのオートチューニング機能（2510-AT型） | P、I、Dの各係数の最適な組み合わせを決定する際に、試行錯誤の実験は不要です。 |
| 広い温度設定点レンジ（–50℃～+225℃）と優れた設定点分解能（±0.001℃）と安定度（±0.005℃） | 冷却光コンポーネント／サブアセンブリの製造テストのほとんどの要件を満たします。 |
| さまざまな温度センサ入力（サーミスタ、RTD、ICセンサ）に対応しています。 | 幅広いレーザ・ダイオード・モジュールで一般に使用される各種温度センサに対応しています。 |
| AC抵抗測定機能 | TECデバイスのインテグリティを検証できます。 |
| 温度フィードバック要素の4線オープン／ショート・リード検知 | 測定値のリード抵抗誤差をなくして、疑似故障やデバイス損傷の可能性を低減します。 |
アクセサリ
2000-BENCHKIT
データシート
概要
マルチ・モデル・ベンチ変換キット
アクセサリ
2510-CAB
データシート
概要
ケーブル・アセンブリ
アクセサリ
4288-1
データシート
概要
シングル固定ラック・マウント・キット
アクセサリ
4288-2
データシート
概要
デュアル固定ラック・マウント・キット
アクセサリ
4288-5
データシート
概要
ラック・キット
| データシート | アクセサリ | 概要 |
|---|---|---|
| 表示（View） データシート | 2000-BENCHKIT | マルチ・モデル・ベンチ変換キット |
| 表示（View） データシート | 2510-CAB | ケーブル・アセンブリ |
| 表示（View） データシート | 4288-1 | シングル固定ラック・マウント・キット |
| 表示（View） データシート | 4288-2 | デュアル固定ラック・マウント・キット |
| 表示（View） データシート | 4288-5 | ラック・キット |