ケースレー自動特性評価スイート(ACS)ソフトウェア

ケースレーのACS(Automated Characterization Suite)は、デバイスの特性評価、パラメトリック・テスト、信頼性テストから単純な機能テストまで、さまざまな用途に活用できる柔軟かつインタラクティブなソフトウェア・テスト環境です。ACSは、QAラボで使用されるベンチトップ機器から、完全に統合され自動化されたラックベースのパラメトリック・テスタまで、幅広いケースレー機器とシステム、ハードウェア構成、テスト設定に対応しています。ACSを使用すれば、プログラミングの知識がなくても、ユーザは容易にテストを実行できます。

 

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特性評価アプリケーションに最適なプログラミング設定による優れた柔軟性

ACSは、グラフィカル・ユーザ・インタフェースを備えた独立したツールであるScript Editorを装備しており、遠隔操作、データ解析、システム自動化を実行するPythonコードやTSP®スクリプトを開発できます。GUIデザインの作成/開発やユーザ・ライブラリ/モジュールの管理を直感的に行うことができます。

データ収集プロセスの自動化

ACSのウエハ・プローバ自動化オプションを使用することで、さまざまなタイプの半自動/全自動ウエハ・プローバに対応できるため、簡単にテストをセットアップでき、大量のデータをすばやく取込むことも可能です。このオプションには、ウエハ記述ユーティリティ、ビニング機能を備えたリアルタイム・ウエハ・マップ、カセット・サンプル・プラン・ユーティリティ、テスト後のカセット/ウエハ・レビュー・ユーティリティが含まれています。ACSに組み込まれた多くのツールや機能を活用することで、デバイスの自動特性評価機能を拡張できます。

テスト・プロジェクト/テスト結果の共有

ACSは、さまざまなハードウェア構成に共通する各種の主要な要素を提供しているため、作業時間の短縮と生産性の向上を実現します。あるハードウェア実装から別のハードウェア実装まで、一貫性のあるシステムの運用が可能なため、ある1つのデバイス・コンポーネントの特性評価でACSベースのシステムを使用した経験があれば、ウエハ・レベルのテスト用に設計された別のシステムにも簡単に対応できます。

ケースレー・ハードウェアの生産性の向上

ACSのツールは、テスト開発を簡素化し、システムにリンクされているすべてのケースレー機器の速度を最大化します。ACSとケースレーのTSPベースのハードウェアを組み合わせることで、新しいプログラミングの概念や言語の学習に時間を費やすことなく、目標を達成するために必要なデータを取得できます。その結果、テストのコストを削減でき、業界最高のテスト・スループットが達成できます。

型名 概要 価格
ACS-BASIC

ACS Basicエディションは、主に手動プローブ・ステーションまたはテスト・フィクスチャによる半導体コンポーネント・テスト向けです。初期デバイス特性評価を"トレース・モード"で迅速かつインタラクティブに行うことができます。また、GUIベースのセットアップ画面および広範な測定ライブラリを使用して、詳細なパラメータ抽出テストを作成できます。

US $6,660
構成と見積り
ACS.

ACSは、ウエハ全体を対象として半導体デバイスの測定を実行できるよう広範な半自動/全自動プローバをサポートしています。 また、プローバをインタラクティブに制御して個々のデバイスをテストできます。 実行時に個別デバイスの結果および複数デバイスの統計に基づいてテスト進捗を監視できます。

US $16,200
構成と見積り

ラボからファブまであらゆるアプリケーションに対応

ACSベースの統合テストシステムは、パラメトリック・ダイ・ソート、ハイパワー半導体コンポーネントの特性評価、ウエハ・レベルの信頼性テストなどのアプリケーションに最適なソリューションです。半自動/全自動プローバと適切に組み合わせることで、ハードウェアのコンフィグレーションやテスト・プロジェクトの開発を、特定のタスクに合わせて簡単に最適化できます。

GaN HEMTのI-V特性評価のための電源シーケンス

GaN HEMTは「ノーマリーオン型」の特性を持つため、I-Vの特性評価を行う場合に特定の電源シーケンスを必要とします。ACSソフトウェアは、デバイスのGaN HEMT特性評価に必要な電源シーケンスをサポートしているため、デバイスにダメージを与えることなく固有のI-V特性を測定できます。

GaN HEMTのI-V特性評価のための電源シーケンス(アプリケーション・ノート)

半導体ワークフロー全体に対応したアプリケーションを提供

ACS Basic EditionおよびACS Standard Editionソフトウェアは、半導体ワークフロー全体に対応した広範なテストを実施できるため、半導体デバイスの詳細な特定評価に最適です。ACS BasicおよびACS Standardが統合されたテスト・システムは、以下の特長を備えています。

  • デバイス、ウエハ、カセット・レベルでのテスト
  • 柔軟なコンフィグレーション、ソフトウェア、アプリケーションのカスタマイズ
  • インタラクティブで自動化されたシステム操作
  • GUIツールとスクリプト・ツールの強力な組み合わせによるテスト・モジュール開発

開発フェーズ

ACS Basic Editionソフトウェアは、コンポーネントおよびディスクリート(パッケージ化された)半導体デバイスのパラメトリック・テストに最適です。このソフトウェアは、研究開発に携わる技術者やエンジニアの生産性の向上に役立つ各種の機能を備えています。

  • パッケージ化されたデバイス(MOSFET、BJT、IGBT、ダイオード、抵抗器など)用に設計
  • 豊富なテスト・ライブラリ・セットが用意されており、プログラミングなしで迅速かつ簡単にテストのセットアップと実行が可能
  • データ解析ツールを内蔵しており、パラメトリック・データの迅速な解析が可能
  • ケースレーの2600Bシリーズ(2604B型、2614B型、または2634B型)、2400シリーズ、2651A型、および2657A型システム・ソースメータをサポート

統合フェーズ

ACS Standard Editionソフトウェアは、堅牢なプロセス開発やウエハ・レベルの信頼性(WLR)などの半自動ウエハ・テストを統合するフェーズで使用されます。このソフトウェアは、SMU-per-pin方式のシステム・レベル・テストに使用できます。ACS WLRソフトウェアには、以下のような特長があります。

  • 個々のウエハまたはカセット全体をテストする完全自動化機能
  • 柔軟なテスト・セットアップと並列テストに対応したソフトウェア
  • JEDECの標準テスト手法に準拠した信頼性テスト・モジュール(RTM)
  • カスタマイズされたテスト・モジュール/手順の作成が可能

製造フェーズ

ACS Standard Editionソフトウェアは、プロセス制御監視(PCM)、ウエハ受入テスト(WAT)、ダイ・ソートなどが完全に統合され自動化されたラックベースのパラメトリック・テスタでも使用されます。ACSに組み込まれた多くのツールや機能を活用することで、デバイスの自動特性評価機能を拡張できます。

  • ウエハ/カセット・レベルの自動化
  • デバイス/テストをサイト/サブサイトにマップするテスト・マップ
  • インタラクティブなプローバ制御モード
  • 単一またはウエハ単位のケースレー・データ・ファイル
アクセサリ ACS-2600-RTM
データシート 概要
ACS向け信頼性テスト・オプション
データシート アクセサリ 概要
表示(View) データシート ACS-2600-RTM ACS向け信頼性テスト・オプション
ACS Automated Characterization Suite Software

文書番号: 1KW-61545-0
Datasheet
ACS Basic Edition Semiconductor Parametric Test Software for Component and Discrete Devices

文書番号: 1KW-2996-2
Datasheet
ACS-2600-RTM Data Sheet
Datasheet
Testing Power Semiconductor Devices with Keithley High Power System SourceMeter SMU Instruments
アプリケーション・ノート
Testing High Power Semiconductor Devices from Inception to Market
パンフレット
ACS Integrated Test System for Lab-Based Automation
アプリケーション・ノート
ACS Integrated Test System for Multi-Site Parallel Test
アプリケーション・ノート
Power Sequence for GaN HEMT Characterization

文書番号: 1KW-61637-0
アプリケーション・ノート
Greater Reliability Testing Confidence from Lab to Fab - Wafer Level Reliability Test Solutions
Keithley Instruments has long been an industry leader in both overall parametric test technology and wafer level reliability (WLR) testing. Several generations of Keithley’s parametric test solutions have offered WLR test algorithm libraries as …
ポスター
VDS Ramp and HTRB Reliability Testing of High Power Semiconductor Devices
アプリケーション・ノート
Cost Effective Semiconductor Lab Automation
技術資料
Evolving Semiconductor Characterization and Parametric Test Solutions for the Evolving Semiconductor Industry (also Applicable to Series 2600B)
ホワイトペーパー