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半導体の設計/製造

新しい設計の市場投入までの時間短縮

SiCやGaNといった新しい半導体材料の多くは、開発時に特有の課題を持っています。

高速のデジタル・インタフェースを利用するには、PHY検証サイクルの迅速化が必須です。デバッグ速度、プロトコル・デコード速度、および各種ノイズ・ソース(クロストークなど)に由来するジッタ/ノイズの特定速度を向上させることは、設計者にとって重大な要件です。

数多くの電気検証試験を短時間で実行しなければなりません。