TIF2019オンライン(5) - スイッチング電源の広帯域ノイズ測定とノイズ源の特定方法

Start Date:
End Date:

Location:

日本
108-6106
東京都 
  
テクトロニクス

概要

GaNやSiCといったワイドギャップ半導体を用いたスイッチング・デバイスの動作速度は上がる傾向にあり、それに伴い、放射されるノイズの周波数も広帯域化し、一般的なスペクトラム・アナライザでは捕捉・解析が難しくなりつつあります。このセッションでは、それら広帯域ノイズを測定する手法及びノイズ源の特定方法について、測定事例を交えてご説明します。

講師:テクトロニクス 鹿取 俊介

※本セミナは、テクトロニクス・イノベーション・フォーラム2019(TIF2019)の収録セッションの配信です。
セッション配信に続き、講師による質疑応答時間がございます。
フォーラム当日に会場までお越しになれなかったお客様、もう一度聴きたいセッションがあるお客様はぜひ、お申し込みください。

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