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【ホール6　デバイス&テクノロジーエリア　小間番号：F110】
テクトロニクスでは、Society5.0の実現を支える高速通信やIoT、ロボットなどにおける技術革新にともなう新しい計測課題に応えるソリューションをご紹介します。
Society5.0のベース技術には、高速の有線／無線の通信やインタフェース、低消費電力技術など、多くの要素がありますが、ここでは、特に計測の課題となる、高速／中速の通信／インタフェースのテストやデバッグ、ＩｏＴデバイスの評価、テスト、パワー・インテグリティに対しての新しいソリューションについてご覧いただきます。

USB規格はUSB Type-Cコネクタ／ケーブルの規格化により激変しました。USBの名称「ユニバーサル」なコネクタ／ケーブルとして様々な規格で共用されるようになりました。その用途はデータ通信のみならず給電にまで及びます。中でもThunderbolt3での採用はUSBに大きな影響を与え、まもなく発表予定のUSB4ではThunderbolt3の技術の利用により40Gbpsデータ転送レートを実現しています。ここでは最新のUSB規格USB Type-C、USB-PD、USB4/USB3.2について一挙にご説明します。

IoT向け無線通信として様々な無線規格が登場してきています。このセッションでは、Bluetooth LE/Bluetooth5及びLPWAの通信規格の概要についてご説明すると同時に、無線モジュールの評価方法及び運用時のトラブル解決に必要となる電波環境のモニタリング手法について説明いたします。IoTデバイスの評価においては無線の評価と同時に消費電流の評価も重要になってきます。超低消費電力のIoTデバイスの消費電流を正確に測定するための測定手法についてご説明致します。

微小電流・電圧測定セミナでは、DC微小電流、微小電圧を測定する上での基礎知識、効果的な測定手法と勘所を、実機デモを交えて分かりやすく解説します。

半導体パラメータ・ アナライザは、高感度の電流 電圧測定、インピーダンス測定、超速 IV 測定（パルス測定 が 1台で 簡単、正確に 実現できる 測定器 として 半導体デバイス、材料、電子部品など 様々なデバイスの電気特性評価に 活用されています。 本セミナでは、半導体パラメータ ・ アナライザを使用 す る際に知っておくべき基本知識や注意点を 、実演を交えな がら解説いたします。これから電気特性評価を始める方に最適 なセミナです。

本セミナでは間もなく発表予定のUSB4について解説します。本イベントは10/24(木)開催のセミナと同一内容の、追加開催セミナです。

近年、IoTを初めとする無線技術の拡大により、RF通信用のコンポーネントを評価する必要性が増加しています。今回のネットワーク・アナライザ入門セミナでは、RF回路設計の経験の少ないお客様を対象に、周波数ドメインの考え方やSパラメータの基礎など、ネットワーク測定に必要な基礎知識について解説します。また、ネットワーク・アナライザの動作原理と適切な使用方法、正確な測定に不可欠なキャリブレーション手法について説明します。最後に、実際の測定例と測定結果の読み取り方法について紹介します。

コモディティ化し、広く普及したPCI Express Gen1～Gen5物理層の計測に関連する規格概要を解説し、Txテストのみならず、必要性が増加しているRxコンプライアンス・テストについてGen1～Gen4のソリューションをご紹介します。
プロトコルの概要については、VIAVIソリューションズ株式会社の協力により、トランザクション／データリンク層についてご説明します。また、組込みシステムにも広く利用されるPCI Express Ge2/Gen3について、差動プローブを用いたチップ間インタフェースの測定方法をご紹介します。

本講座は、TDRの原理の説明から始まります。時間軸での伝送路の反射について、実際の反射実測を交えて説明します。また、反射の要因の特定と、その影響を低減する方法について紹介します。
差動高速伝送路の設計に際しては、伝搬遅延時間の違い、周辺回路による差動電磁界の変化、隣接差動線によるクロストークの影響などについての考慮が必要ですが、ここでは周波数軸、時間軸の両法の測定を説明します。
最後に基板レイアウトの具体例とSパラメータの結果を紹介します。 この講座では10Gbps程度の高速伝送路を対象にしています。