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4201-SMU型および4211-SMU型を使用した高い測定接続容量における安定した微小電流測定の実現

Making Stable Low Current Measurements with the 4201-SMU and 4211-SMU

このアプリケーション・ノートでは、SMUの最大容量仕様について説明し、4201-SMU型および4211-SMU型で安定した微小電流測定を行うことができるいくつかのアプリケーションについて解説します。このアプリケーション事例には、フラット・パネル・ディスプレイ上でのOLEDピクセル・デバイスのテスト、長いケーブルを使用したMOSFETの伝達特性、スイッチ・マトリクスを介したFETテスト、チャック上でのナノFET I-V測定、およびコンデンサのリーク測定が含まれています。またテスト・システムの容量の計算についての詳細も記載されています。