テクトロニクス社は5月21日、BERTScopeビットエラーレートテスタ「BSA286CL型」を発表した。

レシーバテストは、100Gの電気システムや半導体のテストにおいて重要となっている。半導体レシーバのイコライゼーションの進化に伴い、高いレベルのジッタトレランスをテスト、デバッグし、さらにマージン測定する必要がある。従来のビットエラーレートテスタでは、これらのタスクを効果的に測定するために必要な、十分に小さなジッタノイズフロアによる障害生成ができなかった。「BSA286CL型」は、BERTScopeの高い操作性を備えつつ、これらの高確度障害機能とエラー解析の要求に完全に応える。

また、100Gシリコンの特性評価において、OIF-CEI-28GVSRのシステムをテストする場合、レシーバのマージン不良を見極めるため、BERTの性能限界までシステムのパーツをドライブする能力が重要になる。「BSA286CL型」には、100G物理レイヤテストに対応した先端の変調技術による、新設計のジッタ障害システムが搭載されている。また、28.6GbpsのBERTScopeはハイレベルの正弦波ジッタ(SJ)、その他のジッタ障害をサポートし、主要100Gデータレートにおいて300fsという小さな固有ジッタフロア性能を実現している。

さらに、もう1つの新しい機能が、最高28.6Gbpsのランダム、有界非相関、および高周波正弦波のジッタ(RJ、BUJ、SJ)障害の組み合わせであり、さまざまなジッタトレランス(JTOL)周波数において7.5UIを上回るレベルの組み合わせが可能になる。OIF-CEI 3.0 JTOLの仕様、およびIEEE 802.3bj 100G仕様に見られる同様のニーズにも適合する。

BERTScopeビットエラーレートテスタ「BSA286CL型」