80SICMX • 80SICON • 80SSPAR

DSA8300型 サンプリング・オシロスコープ用iConnect®ソフトウェア

オンラインで読む:

特長

  •   TDRオシロスコープによるSパラメータの測定
  •  
    • 差動、シングルエンド、ミックスド・モードによるインサーションおよびリターン・ロス、周波数領域のクロストーク
    •  
    • PCI Express、Serial ATA、HDMI、Inifiniband、およびGigabit Ethernetの、アイ・マスク・テストを含む規格のコンプライアンス・テストや製造でのテスト
    •  
    • 簡単なキャリブレーション手順による人為的なエラーの低減と、フィクスチャを組込む必要のない簡単な手順
    •  
    • 直感的で使いやすく、正確なシリアル・データ、ギガビットのデジタル設計、シグナル・インテグリティ
  • 合成されたアイ・テストによる詳細なインターコネクト・リンク性能検証
  •  
    • 業界標準(PRBS、CJTPAT、K28.5、HDMIなど)またはユーザ定義のストレス・パターンが適用可能
    •  
    • ストレス信号によるトランスミッタ/レシーバ・イコライゼーション・モデルの効果
    •  
    • ジッタ/ノイズ注入による現実の信号のシミュレーション
    •  
    • 計算されたBER、アイ開口、ジッタ、ノイズの測定と、データ・リンクの任意のポイントにおけるBERマスク・テスト
  •   インターコネクトのジッタ、信号ロス、クロストーク、反射、リンギングの原因を手軽に解析
  •  
    • 複数のインターコネクトを時間領域と周波数領域で同時に解析
    •  
    • インターコネクトのリンク解析をすばやく実行し、システムレベルのシミュレーションの正確さを確保
  •   インピーダンスとSパラメータの高精度測定
  •  
    • 優れたTDR性能とインピーダンス・デコンボリューション(Zライン)アルゴリズムにより、TDRの分解能が向上
    •  
    • 強化されたTDRアクイジション精度により優れたSFDRを実現
    •  
    • パッケージや回路基板のトレースの障害箇所を迅速かつ簡単に特定
    •  
    • 時間のかかるノーマライゼーションが不要な50Ωキャリブレーション
  •   スクリプトおよびプログラム・コントロールにより、製造テスト、研究開発での測定を自動化
  •  
    • 数多くの機能(Sパラメータ、Zライン、その他)のためのコマンド・ライン・インタフェース
  •   PCB、フレックス基板、コネクタ、ケーブル、パッケージ、ソケットを効率的にモデリング
  •  
    • トポロジ、ビヘイビア、測定を基にした、周波数領域での正確なSPICEモデル
    •  
    • MeasureXtractorにより、TDR/TまたはVNAのデータを自動的にSPICEモデルに変換-モデルの受動性、安定性、因果関係を保証
  •   80E10型、80E08型、80E04型差動TDRモジュールを装備したDSA8300型デジタル・シリアル・アナライザで最適化

*1 DSA8200型、TDS/CSA8200型、TDS/CSA8000B型、TDS/CSA8000型サンプリング・ オシロスコープでも利用できます。

アプリケーション

高速回路基板、ケーブル・アセンブリ、
コネクタ、IC パッケージのテスト
シリアル・データ・ネットワーク解析
SATA、PCI Express、FB-DIMM、
HDMI、FibreChannel、Ethernet、
その他のシリアル・データ規格のコン
プライアンス・テスト
家電製品のテスト
通信のテスト
コンピュータのテスト

ギガビット・インターコネクト・リンクとデバイスを効果的に検証
するソフトウェア

デジタル回路のクロック速度や立上り時間が高速化するにつれて、インターコネクトのシグナル・インテグリティは、デジタル・システムの性能に大きく影響します。信号ロス、ジッタ、クロストーク、反射、リンギング、デジタル・ビット・エラー、アイ・ダイアグラムの劣化を予測し、システムの確実な動作を実現するためには、時間および周波数領域でのインターコネクトの正確かつ効率的な測定が必要になります。

IConnect ソフトウェアは、シグナル・インテグリティ解析、インピーダンス、Sパラメータ、アイ・ダイアグラムによるテスト、クロストークなどの測定を利用して、ギガビット・インターコネクト・リンクやデバイスの性能を評価するための、効率的で使いやすく、かつコスト効率に優れたソリューションです。IConnect と、ビルトインされているIConnect Linear Simulator を使用すれば、通常なら何日もかかるインターコネクトの解析作業をわずか数分で終えることができ、設計時間の短縮と設計コストの削減につながります。

シリアル・データ・ネットワーク解析アプリケーションのための、効率的かつ簡単なインターコネクトS パラメータの測定

IConnectのSパラメータは、効率的で使いやすいデジタル
設計者向けツールで、ギガビットのスピードで動作するインターコネクトのシングルエンド、差動、およびミックスド・モードのS パラメータを測定します。また、インサーション・ロス、リターン・ロス、周波数領域のクロストークを測定し、インターコネクトの電気規格のコンプライアンス・テストを実行します。

優れたコスト効率

DSA8300型TDRプラットホーム上で動作するIConnect Sパラメータは、デジタル回路のSパラメータ測定、シグナル・インテグリティ解析、およびインターコネクトのコンプライアンス・テストのための最もコスト効率に優れた方法で、最大スループットを実現できます。同様の帯域幅のVNAに比べて50%もコストを節約でき、測定も大幅に高速化できます。IConnect Sパラメータの優れたコマンド・ライン・インタフェースにより、Sパラメータ測定はTDRオシロスコープを使った総合的な製造テストに組込むことができます。

キャリブレーション、測定が容易

Sパラメータ測定におけるキャリブレーションに複雑な操作は必要ありません。TDR測定回路のオープン、ショート、スルー測定波形や、オプションの50Ωロードを使用した測定波形をリファレンスにすることにより、測定冶具が与える影響を除去することが可能です。簡単なキャリブレーションにより、測定における人為的なエラーを最小限にすることができます。Touchstoneフォーマットのファイルに出力することで、Sパラメータ・ファイルの共有が可能になり、データを後の解析やシミュレーションで使用できるようになります。IConnect Sパラメータ・ウィザードが追加されたことにより、1~4ポートのシングルエンドおよび差動のSパラメータの校正、取込みがより簡単に実行できます。セットアップ、チャンネルのデスキューを含む校正、Sパラメータの取込みを実行し、1つまたは複数のDUTのTouchstoneファイルを自動的に生成することができます。

高性能

当社の真のTDR 差動モジュールとIConnect の組合せにより、最大-70dB のダイナミック・レンジでS パラメータを測定することができます。この性能は、1% (-40dB)以上のクロストーク分解能や、一般的に必要とされるレンジが-10 ~-30dB の電気的なコンプライアンス・テストなどのシリアル・データ解析、デジタル回路設計、シグナル・インテグリティ・アプリケーションに最適です。真の差動TDRモジュールの性能特性を以下の表に示します。レシーバ・エンドで広帯域なモジュールを使用する(たとえば、レシーバに8 0 E 0 9 型、入力に80E10 型を使用する)ことで、広帯域のインサーション・ロス測定が可能になります。

真の差動TDR モジュールの性能特性

モジュール立上り時間(代表値)S パラメータの帯域
型名入射反射帯域
80E10型 12 ps15 ps50 GHz
80E0818 ps20 ps30 GHz
80E04 23 ps28 ps20 GHz

IConnectによるSパラメータ測定の実行時には、長いレコード長の波形取込みにより、希望する周波数レンジと周波数ステップを柔軟に取得できます。最大1,000,000ポイントの取り込みが可能です。*2

*2 長いレコード長は、DSA8300型、DSA8200型、CSA/TDS8200型、CSA/TDS8000型とIConnectの組合せのみでサポートされています。

効率的かつ簡単なインターコネクトのシグナル・インテグリティ解析とSPICE モデリング

IConnect ソフトウェアを使用すると、PCB、フレックス基板、コネクタ、ケーブル、パッケージ、ソケット、およびI / O バッファ入力のSPICE モデルやIBIS モデルを、TDR/T あるいはVNA のS パラメータの測定値から直接生成することが可能になります。また、デジタル・システムのアイ・ダイアグラムの劣化、ジッタ、信号ロス、クロストーク、反射、リンギングをすばやく解析することも可能です。IConnect Linear Simulator は、インターコネクト・コンポーネントをまとめてリンクすることにより、チャンネル全体のトータル時間、周波数ドメインの性能、アイ・ダイアグラムを検証することができます。IConnect は、インターコネクト・リンクのシグナル・インテグリティ解析、イコライゼーションおよびエンファシス・コンポーネントの設計、トランスミッタやレシーバとのインターコネクトの解析を大幅に簡素化します。

パッケージ、ソケット、コネクタの設計に

IConnect は、JEDEC やIBIS 規格の計算手順に従って、すばやく簡単にパッケージ、ソケット、コネクタのL やC の計算を行う機能、IConnect MeasuerXtractor で自動モデリングを行う機能、差動やシングルエンドのTDR モデリングを行う機能を提供します。IC I/O バッファの入力や出力のキャパシタンスの測定にも、同じモデリング・ツールを適用できます。IConnect のコマンド・ライン・インタフェースにより、製造現場においてJEDECのL-C 測定を自動化することもできます。

ケーブルおよびコネクタの製造検査に

IConnect は、アイ・マスク、インサーション・ロス、リターン・ロス、および周波数領域のクロストークに関するコンプライアンス・テストを最も迅速かつコスト効率良く行うことができます。IConnect のコマンド・ライン・インタフェースを使用することで、製造現場でのS パラメータ・コンプライアンス・テストが可能になります。アイ・マスク・テストでは、アイへのクロストークの影響を含めることができます。さらにIConnect は、表皮効果や誘電損、インサーションおよびリターン・ロス、アイ・ダイアグラムの劣化、周波数に依存するRLGC パラメータを含むモデルを容易に抽出し、イコライゼーションやプリエンファシスがケーブル・アッセンブリの性能に与える影響を解析する機能も備えています。

大型コンピュータ/サーバのマザーボード、通信バックプレーンの設計に

バックプレーン、マザーボードの設計エンジニアは、ビルトインでリンクするSPICE シミュレータ、またはIConnect Linear Simulator により、ボード、コネクタ、あるいはパッケージのインターコネクトのシグナル・インテグリティの詳細な解析、周波数に依存する伝送ラインの信号ロス、クロストークに起因するインターコネクトのアイ・ダイアグラムの劣化の予測が可能になります。

MeasureXtractor: TDR/T またはVNA 測定からシミュレーションへの最速の手法

MeasureXtractor は、自動化されたモデル抽出ツールで、ボタンを押すだけでインターコネクトのSPICEモデルを利用した正確な測定結果が得られます。MeasureXtractor は、データ・アクイジションのプロセスを通してユーザをガイドしながらTDR/T またはVNA のS パラメータ・データの収集をサポートし、インターコネクトの時間と周波数応答の両方が正確に合致するモデルを自動的に生成します。

信号のロス、拡散、ジッタ、クロストーク、反射、およびリンギングは、機器の最高動作周波数まで正確に予想します。モデルを抽出する際にはモデルの受動性を確保する必要がありますが、MeasureXtractor によるモデルは、専用のアルゴリズムを通じて受動性が保証されます。これは、MeasureXtractor で生成したインターコネクト・モデルは、システム・レベルのシミュレーションで使用したときに信号を増幅したり、振動させたり、因果関係のない結果を発生させたりしないことを意味します。

MeasureXtractor は、いわゆるビヘイビア・モデルを生成します。つまり、測定する対象をひとつの集合体として考えることになります。このようなモデルは、インターコネクトの実際のトポロジは考慮せずに、単にインターコネクトの時間と周波数の挙動を最も効率的にシミュレートできる方法で正確に表すことを目的としています。

ビヘイビア・モデル方式とトポロジ・モデル方式の比較

項目ビヘイビア・モデル方式トポロジ・モデル方式
測定要件 フル・ポートの測定が必要TDR(反射)だけで十分
トポロジの選択自動で選択。ユーザの介入は不要ユーザが制御(TDRの測定から容易かつ直感的)
モデルの抽出自動で選択。ユーザの介入は不要ユーザが主体:作業が多く、技術も必要
モデルのタイプ内部の変更が不可能な「ブラック・ボックス」タイプ直感的。トポロジはモデルと相関
制約長いインターコネクト(バックプレーン、ケーブル・アッセンブリ)では、モデルのサイズが大規模になる大規模なインターコネクト向けの効率的なモデル抽出プロセスが存在
アプリケーションS パラメータやTDR/T のS パラメータやTDR/T のレーションに含めることができる。「全体を一体化する」モデリング・ツール包括的なモデリング。解析、シグナル・インテグリティのトラブルシューティング、障害の検出を、条件変更による効果を確かめながら実行可能


効率的かつ簡単なシグナル・インテグリティのモデル化および設計の評価

Thumbnail

IConnect TDR およびS パラメータ・ソフトウェアは、SPICE シミュレータとTDR またはS パラメータ測定間に、シミュレーションと比較のための統合リンクを提供し、IConnect、あるいはフィールド・ソルバなどの外部ツールによって生成されたモデルの迅速な検証を可能にします。ボードのトレース、パッケージ、あるいはコネクタ用に独自に作成したモデル、あるいはベンダから提供されたモデルを検証できます。外部のSPICE シミュレータ、またはIConnect LinearSimulator を使用して設計全体を検証できるため、設計を確実なものにし、アイ・ダイアグラムを仕様に合致させることができます。

正確なインピーダンス測定

IConnectソフトウェアは、インピーダンス・デコンボリューション(Zライン)アルゴリズムを使用し、DSA8300型のインピーダンス測定機能を強化します。Zライン・アルゴリズムは、TDRのインピーダンス測定における多重反射を効果的に処理し、「真のインピーダンス・プロファイル」を生成します。これにより、回路基板のトレースのインピーダンスのより正確な測定が可能になり、測定者や測定場所に関係なく、測定間におけるデータの相関性を向上させることができます。IConnectのZラインによって生成された「真のインピーダンス・プロファイル」は、TDRオシロスコープのインピーダンス測定精度を向上させるだけでなく、TDRオシロスコープの分解能も向上させます。EZ Zライン・ユーザ・インタフェースにより、1回のボタン操作で任意の数の波形のZライン計算を実行でき、波形操作や解析が簡単になり、TDRデータをより簡単に理解できます。

TDR を使用したパッケージおよびボードの不良解析

Thumbnail

TDR は、BGA や同様のパッケージおよび回路基板における障害箇所を特定するための、信頼性の高い、非破壊測定方法です。IConnectソフトウェアのZ ライン・アルゴリズムは、TDR の分解能を向上させ、オープンやショート箇所を速やかに検出できるようにします。12ps の入射TDR 立上り時間を持つ80E10 型TDR モジュールとIConnect Z ライン・アルゴリズムを組合せることにより、パッケージ、オンチップをmm 単位以下の分解能で障害解析することができます。IConnect EZ Z ラインのユーザ・インタフェースは、特に障害解析を念頭に設計され、任意の数の波形におけるZ ライン計算を1 回のボタン操作で実行でき、既知の良品デバイスの波形と、疑わしいデバイスの波形をすばやく、簡単に比較することができます。これにより、TDR のデータの解釈もはるかに容易になります。オープンやグランド・ショート箇所の特定作業は簡素化され、プレーン間のショート、信号間のショート、抵抗性ショートの箇所や、ファンアウトにおける問題の検出も現実的な作業になります。

機能の概要

   80SSPAR 80SICON 80SICMX
レコード長(最大1,000,000 ポイント)
Z- ライン
   L-C リードアウト
   50 Ω キャリブレーション(不要)
S-パラメータ
   真の差動
   フレキシブル・キャリブレーション:ショート、オープン、スルー
   50Ω キャリブレーション(不要)
   振幅と位相遅延
   Touchstone (SnP) ファイル・フォーマット
JEDEC 法によるL、C の計算
コマンド・ライン・インタフェースによるZ ライン、S パラメータ、
L-C 計算、ステップ・スペクトラム

アイ・ダイアグラム    
   TDR/T またはS パラメータから    
   SPICE モデルから    
   クロストーク効果とアイ・ダイアグラム    
   業界標準またはユーザ定義のデータ・パターン    
   トランスミッタ、レシーバのイコライゼーション    
   ジッタ/ノイズの注入    
   BER、ジッタ、ノイズの測定    
   BERアイ・マスク・テスト    
   非対称のアイへの自動マスク・フィット    
HDMI、PCIe、SATA規格のためのアイ・ダイアグラム・コンプライアンス・テスト    
   トランスミッタのアイを閉じる自動ジッタ    
   規格で規定されているパターン    
   規格で規定されているイコライゼーション    
ステップ・スペクトラム    
トポロジ・モデル    
   損失および損失結合    
   Z ライン/ロスレス、ランプまたは分散    
   完全なトポロジ・モデル・システム    
PSipce、HSpice および
Berkley SPICE3 出力フォーマット
   
シミュレータへの統合リンク    
IConnect Linear Simulator    
ビヘイビア・モデル(MeasureXtractor)     
   完全な自動モデリング、ユーザの介入は不要     
   モデル化にTDR/T またはSパラメータのデータを使用     
   複数のモデルを時間領域と周波数領域で同時に解析     
Last Modified:
ダウンロード
ダウンロード

マニュアル、データシート、ソフトウェアなどのダウンロード:

Go to top