ダウンロード
ダウンロード

マニュアル、データシート、ソフトウェアなどのダウンロード:

ダウンロード・タイプ
型名またはキーワード

BERTScope CR

BERTScopeCR(クロック・リカバリ)シリーズの優れたアーキテクチャにより、100kHz~12MHzのPLL周波数応答を測定し、表示します。これは、 ジッタ・テスト に関しては業界トップクラスのループ帯域です。ループ帯域、ピーキング/ダンピング、ロールオフなど、すべてのパラメータがコントロール可能な初のクロック・リカバリ機器です。

特長

利点

最高28.6 Gbpsのデータ・レート・レンジ PCIe 3.0、10GBASE-KR、16xFC、25/28G CEI、100GBASE-LR-4/100GBASE-ER-4などの次世代I/Oの連続データ・レートに対応。
PLL(Phase Lock Loop)帯域、JTF(ジッタ伝達関数)、ピーキングの独立した制御、測定、表示機能 正確なGolden PLL応答により、トランスミッタのジッタ・コンプライアンス・テストとストレスを加えたレシーバの感度テスト校正が可能。 多彩なデバイス特性評価が可能
クロック・リカバリ入力のイコライゼーション テストするデータ・ストリームに影響を及ぼすことなく、高いISI信号のクロック・リカバリが可能。 リカバリ・クロックは、クリーンなアイ、信号のFIRフィルタによるアプリケーション、BERテストなどの解析に利用可能
エッジ密度測定 テストする信号のマーク密度を即時に把握可能
ジッタ・スペクトラム解析と周波数ゲートによる統合ジッタ測定 200Hz~90MHzのジッタ対周波数の表示と、ジッタ・ピークの振幅および周波数のカーソルによる測定が可能。 周波数ゲートによる統合ジッタ測定により、PCIe 2.0のコンプライアンス・テストが可能
24 MHzのPLL帯域(オプション) USB 3.0、6G SATA、PCIe Gen 3のJTF帯域要件に準拠
広範なサブレート(リカバリ)クロック出力に対応 デバイスのリファレンス・クロックに必要

 

型名 概要 最高データ・レート 価格
CR125A クロック・リカバリ・ユニット 12.5Gbps 構成と見積り
CR175A クロック・リカバリ・ユニット 17.5Gbps 構成と見積り
CR286A クロック・リカバリ・ユニット 28.6Gbps 構成と見積り
Data Sheet Accessory Description
 
CR125ACBL HIGH PERFORMANCE DELAY MATCHED CABLE SET (REQUIRED FOR BERTSCOPE & CRU IN SSC APPLICATIONS)
 
PMCABLE1M Precision Phase Matched Cable Pair, 1m

The physical setup for USB 3.1 receiver calibration and testing is shown in this video.
The USB 3.1 Receiver application's Margin Test feature gives engineers quantitative answers on a design's performance and as a debug tool, a better understanding of where devices fail. This video ...
This video focuses on the Link Training Status State Machine UI feature of the USB 3.1 Gen2 Receiver test application and shows the path that is taken by a device being trained into loopback mode ...
Get an overview of the optical solutions available from Tektronix. Learn about what we showcased at our OFC 2016 exhibit, then learn more about these solutions online.
1m 16s
2020 Tektronix and Keithley Product Catalog
We have the right products to ensure your success. Browse our new Tektronix and Keithley Product Catalog and explore our complete line of test and measurement solutions. You’ll find over 130 pages of key product details and specifications, applicat
選択ガイド 16 Jan 2020
What is the electrical specifications for SMAPOWERDIV used with the Clock Recovery in Tektronix BERT scopes?
NOMINAL IMPEDANCE: 50 ohm FREQUENCY RANGE: dc to 18.0 GHz INSERTION LOSS (between input & either output arm): 6 dB nominal, -0.2 dB, +1.2 to 10 GHz, 1.5 to 18 GHz MAXIMUM INPUT POWER: 1 watt CW, 1 kilowatt peak (5 μsec pulse width, 0.05% duty cyc
FAQ ID64616 15 Jan 2020
How do I use TekExpress to perform a USB 3.0 Device Transmitter Test?
USB 3 Tx Testing ScriptHello and welcome to Tektronix! Today I’m going to walk through a USB 3 Device Transmitter Test using TekExpress.A USB 3 Transmitter test consists of acquiring the signal from a USB 3 Device and running it through various tests
FAQ ID69376 15 Jan 2020
On the PCIe PLL Bandwidth Tester Windows application that's used with the CR286A, there is a drop down under "Options" called "Enhanced Measurement" and has the options of "Standard", "Sensitive", and "Disabled".What does each option do?
In 8G mode only, some DUT’s are sensitive to the initialization routine, which involves forcing a re-lock of the DUT PLL several times to optimize the peaking measurement.The “Standard” selection uses a method that toggles the CR divider reset to cau
FAQ ID72106 15 Jan 2020
BERTScope Clock Recovery Datasheet

文書番号: 65W-25479-9
Datasheet 12 Jan 2020
アイ・ダイアグラムの構造分析
このアプリケーション・ノートは、アイ・ダイアグラムとは何か、その構造、アイ・ダイアグラム生成のための一般的なトリガ方法について説明します。また、アイ・ダイアグラムをスライスすることで得られるさまざまな情報についても説明します。さらに、トランスミッタ、チャンネル、レシーバ・テストの基本的な方法についても説明します。この分野に馴染のないエンジニアでも、一般的に使用される概念がわかるように書かれています。

文書番号: 65W_26042_0
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
BER等高線入門-アイ・ダイアグラムとBER
このアプリケーション・ノートでは、BER等高線測定の概要について説明します。具体的には、BER等高線とは何か、どのように構成され、ギガビット・スピードでのパラメータ性能に有効な観測方法である理由について説明します。さらに、BERTScopeビット・エラー・レート・テスタiによるBER等高線の例についても説明します。

文書番号: 65W_26019_0
アプリケーション・ノート 26 Dec 2019
Tektronix BERTScope
BSA & BA Remote Control Guide Programmer Manual

部品番号: 077069602
Manual 26 Nov 2019
Tektronix BERTScope
BSA & BA Remote Control Guide Programmer Manual

部品番号: 077069605
Manual 26 Nov 2019
Tektronix BERTScope
BSA & BA Remote Control Guide Programmer Manual

部品番号: 077069601
Manual 26 Nov 2019
Tektronix BERTScope
BSA & BA Remote Control Guide Programmer Manual

部品番号: 077069603
Manual 26 Nov 2019
Tektronix BERTScope
BSAPCI3 Instructions

部品番号: 071304600
Manual 26 Nov 2019
Tektronix BERTScope
Clock Recovery Instruments Quick Start User Manual

部品番号: 071285202
Manual 26 Nov 2019
Tektronix BERTScope
Clock Recovery Declassification & Securities Instructions

部品番号: 077110200
Manual 26 Nov 2019
Tektronix BERTScope
BSA & BA Remote Control Guide Programmer Manual

部品番号: 077069604
Manual 26 Nov 2019
Clock Recovery Primer, Part 1
Part 1 of looking at clock recovery from a practical point of view with emphasis on how it affects measurements.

文書番号: 65W_26023_0
入門書 26 Nov 2019
PCI Express® Transmitter PLL Testing — A Comparison of Methods
There are several methods of measuring PLL loop response, based on the type of test instrumentation used. As expected, the various methods trade off test accuracy, test speed (throughput), ease of use, ease of setup, and initial cost. In addition, s

文書番号: 65W_25911_0
入門書 26 Nov 2019
Dual-Dirac+ Scope Histograms and BERTScan Measurements
This primer discusses how the dual-Dirac relates to practical measurements that can be made with sampling scopes and BER-based instruments.

文書番号: 65W_26041_0
入門書 26 Nov 2019
BERTScope® Bit Error Rate Testers Jitter Map “Under the Hood”
Delve into jitter problems in new ways, such as examining Random Jitter on each edge of the data pattern, separating out the jitter caused by transmitter pre-emphasis, and performing jitter decomposition on long patterns such as PRBS-31.  

文書番号: 65W_25907_0
アプリケーション・ノート 26 Nov 2019
BERTScope™ CR125A+ 175A+ & 286A Clock Recovery Fact Sheet
Key Specs and Ordering Information for BERTScope CR125A, 175A, & 286A Clock Recovery.

文書番号: 65W-25610-0
ファクト・シート 26 Nov 2019
Comparing Jitter Using a BERTScope® Bit Error Rate Testing
Comparison of DCD and F/2 Jitter.

文書番号: 65W_26040_0
アプリケーション・ノート 26 Nov 2019
Evaluating Stress Components using BER-Based Jitter Measurements
This primers describes how jitter measurements can be self-verified using a BER-based Jitter Peak measurement and how to simplify the jitter measurement challenge by using a pattern that does not contribute pattern-dependent effects, and finally sho

文書番号: 65W_26050_0
入門書 26 Nov 2019
Characterizing an SFP+ Transceiver at the 16G Fibre Channel Rate
Study the measurements needed to test an SFP+ transceiver to the 16G Fibre Channel standard, covering both Multi- Mode 850 nm and Single Mode 1310 nm interfaces. Included is a test and characterization example using a Single Mode 1310 nm laser SFP+

文書番号: 65W_25908_0
入門書 26 Nov 2019
Clock Recovery’s Impact on Test and Measurement
As clock recovery becomes increasingly common in more systems and test setups, its effects on measurements must be considered. Many outside influences can disturb the relationship between data and how it is clocked. By understanding the relationship

文書番号: 65W_26074_0
アプリケーション・ノート 26 Nov 2019
Clock Recovery Primer, Part 2
Part 2 of looking at clock recovery from a practical point of view with emphasis on how it affects measurements.

文書番号: 65W_26024_0
入門書 26 Nov 2019
BERTScopePC Software V 10.9.1024
The BERTScope PC software provides for PC control of BERTScope Clock Recovery (CR125A, CR175A, CR286A) and Digital Pre-Emphasis Processor (DPP125, DPP125B) instruments that are being operated as stand-alone instruments, i.e. not connected directly to

部品番号: 1000000482
Software 12 Nov 2019
BERTScopeCR Help File V1.0
BERTScope Clock Recovery Instrument Help File for offline use.

部品番号: 066130900
Software 12 Nov 2019
BERTScopePC Software, V 10.15.1284
The BERTScope PC software provides for PC control of BERTScope Clock Recovery (CR125A, CR175A, CR286A) and Digital Pre-Emphasis Processor (DPP125, DPP125B, DPP125C)and BSAITS instruments that are being operated as stand-alone instruments, i.e. not co

部品番号: 063430803
Software 12 Nov 2019
BERTSCOPE PC APPLICATION SOFTWARE - V12.04.5522
The BERTScope PC software provides for PC control of BERTScope Clock Recovery (CR125A, CR175A, CR286A) and Digital Pre-Emphasis Processor (DPP125B) instruments that are being operated as stand-alone instruments, i.e. not connected directly to a BERTS

部品番号: 063430806
Software 12 Nov 2019
Stressed Eye Primer
In addition to an introduction to stressed eye testing, this primer discusses some of the high-speed standards that use it, and how a receiver test using stressed eye is constructed.

文書番号: 65W_26049_0
入門書 12 Nov 2019
Stress Calibration for Jitter >1UI
While measuring the amount of jitter present on a signal is relatively straight forward conceptually; when the levels of jitter are small, amounts above a bit period (1 unit interval or UI) can be more difficult. This has practical consequences for

文書番号: 65W_26047_0
アプリケーション・ノート 12 Nov 2019
Six Sigma’ Mask Testing with a BERTScope® Bit Error Rate Tester
Six sigma is a form of mask testing that provides for critical insight when mask testing depth specification are important for pass/fail testing or deeper evaluation on high-speed signaling standards to provide a significantly more complete picture

文書番号: 65W_26046_0
アプリケーション・ノート 12 Nov 2019
Stressed Eye: “Know What You’re Really Testing With”
BER-based measurements can provide a better view of the stress eye opening down at the deep BER levels that the receiver will be expected to operate at when it is tested.

文書番号: 65W_26048_0
入門書 12 Nov 2019