パワー半導体デバイスのテスト

パワー半導体デバイスのテスト(設計から市場投入まで)

新しいパワー・デバイスをリリースするためには、設計の初期段階から市場投入までの間にあらゆるテスト/特性評価作業を実施し、以下のような多数のステップを踏むことになります。

  • 進化するニーズを満たす新しいデバイスの設計
  • 新しい設計の全性能の特性評価
  • デバイスの製造準備
  • 商業用途に対する信頼性規格への準拠
  • 実際の設計へのデバイスの実装
  • 新たなアプリケーション要件に対する既存のデバイスおよび設計の評価

当社のe-Guideでは、パワー半導体デバイスの各ライフサイクル・ステージに伴う課題に対応する方法について説明しています。

ライブラリ

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IsoVu Technology White Paper

Learn how IsoVuTM Isolated Measurement Systems use a unique form of optical isolatoin to deliver bandwidth up to 1 GHz, extraordinary common mode rejection ratio of 120 dB at 100 MHz, and now differential voltage range up to 1000 V.

Measuring Vgs on Wide Bandgap Semiconductors

This application note focuses on accurate high-side VGS measurements on ungrounded FETs using the IsoVu measurement system. 

パワーデバイス特性評価のためのマルチSMUシステム構築
Testing to 100A by Combining Keithley Model 2651A High Power SourceMeter Instruments (Application Note)
Testing to 100A by Combining Keithley Model 2651A High Power SourceMeter Instruments (Application Brief)
Achieving Fast Pulse Measurements for Today's High Power Devices - Application Brief

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There’s much more to choosing a DMM than just its number of digits. With…

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タイトル
Simplify Component Selection with Robust DC Characterization

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