より優れたエネルギー効率が追求されている今日では、設計者だけでなくテスト機器にも新しい要求が突きつけられています。待機電力の制限や高性能化するスイッチング速度や信号レンジに対応し、半導体デバイスのわずかなリーク電流も測定できなければなりません。さらに、最新のSiC/GaNパワー・モジュールの使用により、テスト条件はこれまでになく厳しくなっています。テクトロニクスは、これらの要件の進化を捉え、設計検証、特性評価、性能テスト、認証のためのパワー・テスト・ソリューションを提供します。

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